Handout zur Vorlesung "Rastermethoden" - Teil 3
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III. Elektrische & Elektronische Eigenschaften<br />
Leitfähigkeit<br />
• Leitf. AFM<br />
• Scanning Tunneling Microscope (STM)<br />
• REM<br />
Photostrom<br />
• Local Photocurrent Mapping (LPCM)<br />
STM<br />
Scanning Tunneling Microscopy<br />
Energieniveau s<br />
• Kelvin-Probe<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 13<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 14<br />
Zum Vergleich: AFM - Aufbau<br />
STM - Aufbau<br />
• Lateral: ca.100nm – 120µm<br />
• Tiefe: ca.1nm – 1µm<br />
Tisch/Scanner: Piezo-Keram ik<br />
• Lateral: 0.1 nm<br />
• Axial: 0.01 nm<br />
Tip: Pt-Ir Legierung (90:10)<br />
Wolfram, Gold<br />
Blei–Zirkonium-Titan Verbindungen<br />
Es gibt immer ein<br />
Atom, das „am<br />
nächsten dran ist“<br />
(sub) atomare<br />
Auflösung<br />
Messaufbau<br />
Schematischer Aufbau<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 15<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 16<br />
STM Messprinzip: Tunnelstrom<br />
STM Modi<br />
E<br />
<br />
1. Constant Height<br />
2. Constant current<br />
E F<br />
i<br />
eU<br />
E F<br />
Probe<br />
d<br />
Spitze<br />
Tunneleffekt<br />
Tunnelvorgang zwischen Probe und Spitze<br />
Transmissionskoeffiz ie nt T:<br />
<br />
2<br />
2ma<br />
V<br />
16 E V E 2<br />
2<br />
0<br />
<br />
T <br />
e<br />
2<br />
V0<br />
<br />
0<br />
E<br />
<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 17<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 18<br />
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