Handout zur Vorlesung "Rastermethoden" - Teil 3
Handout zur Vorlesung "Rastermethoden" - Teil 3
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Zusammenfassung STM<br />
• Nur (halb-) leitfähige Materialen<br />
• Elektronische Oberflächenstrukt ur entspricht nicht<br />
immer der Topographie<br />
• ST Spectroscopy (STS)<br />
LPCM<br />
Local Photocurrent Mapping<br />
• „Objektmanipulation“ auf atomarer/molekul arer<br />
Ebene<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 25<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 26<br />
Local Photocurrent Mapping (LPCM)<br />
Photovoltaic measurements<br />
P ositioning<br />
Mirrors (X/Y)<br />
Incr easing<br />
Focusing<br />
Intensity<br />
Laser<br />
Optics<br />
Glass<br />
Measur em ent<br />
Electr onics<br />
Set Voltage & Measur e Cur r ent<br />
ITO (Anode)<br />
Active Layer<br />
Metal (Cathode)<br />
V I Gold Pins<br />
Sample must show a<br />
photovoltaic effect<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 27<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 28<br />
LPCM<br />
Data Ev aluation: Histograms<br />
current map<br />
voltage map<br />
2600<br />
no device<br />
voltage<br />
map<br />
4000<br />
device<br />
4000<br />
current<br />
map<br />
2600<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 29<br />
Klaus Meer holz, Raster m ethoden 3 30<br />
5
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