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Untersuchung topographischer Strukturen verschiedener - OPUS ...

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4 Ergebnisse<br />

Zur Erklärung: Die Auflösung des AFM ist indirekt proportional zu der<br />

Rauhigkeit der Oberfläche, daher erscheinen die 1x1 µm Ausschnitte oftmals<br />

unscharf.<br />

4.3 Oberflächencharakterisierung mit IP Auto Probe<br />

Ra [nm]<br />

600<br />

500<br />

400<br />

300<br />

200<br />

100<br />

0<br />

-100<br />

Rauigkeit nach Ätzen mit B1<br />

1 2 4 6 10<br />

Ätzzeit in min<br />

39<br />

10x10 µm<br />

1x1 µm<br />

Abbildung 8 Rauhigkeit nach Ätzen mit B1 über einen Zeitraum von 10 min<br />

Abbildung 8 zeigt die Rauhigkeit in nm über eine Ätzdauer von 10 min mit V2A-<br />

Beize auf 1x1 µm und 10x10 µm Ausschnitten der Probe. Auf dem 1x1 µm-<br />

Ausschnitt erreicht die Rauhigkeit nach 4 min und nach 10 min ihr Maximum<br />

von etwa 12 nm, wohingegen dieses bei dem größeren Ausschnitt nach einer<br />

Ätzzeit von 2 min und 10 min mit einem Wert von etwa 50 nm auftritt.

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