8. Analytische Elektronenmikroskopie

Verlustspektrum
✤ Das am wenigsten brauchbare Signal ist der Nullverlustpeak (zero-loss peak).
✤ Bereich niedriger Energieverluste (low-loss spectrum): Strahlwechselwirkung
mit schwach gebundenen Leitungs- und Valenzelektronen
✤ Bereich hoher Energieverluste (high-loss spectrum), > 50 eV, enthält kleine
Ionisationskanten aufgrund der Wechselwirkung mit kernnahen
Elektronen (core shells)
✤ Lage der Kanten charakterisieren verschiedene Elemente
✤ Unterschiede in der Feinstruktur der Kanten spiegeln chemische und
strukturelle Einflüsse wider (Bindung und Koordination) – ELNES energyloss
near-edge structure, EXELFS extended energy-loss fine structure
hsl 2009 – Charakterisierung von Nanostrukturen – Analytische Elektronemikroskopie
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