8. Analytische Elektronenmikroskopie

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Verlustspektrum ✤ Das am wenigsten brauchbare Signal ist der Nullverlustpeak (zero-loss peak). ✤ Bereich niedriger Energieverluste (low-loss spectrum): Strahlwechselwirkung mit schwach gebundenen Leitungs- und Valenzelektronen ✤ Bereich hoher Energieverluste (high-loss spectrum), > 50 eV, enthält kleine Ionisationskanten aufgrund der Wechselwirkung mit kernnahen Elektronen (core shells) ✤ Lage der Kanten charakterisieren verschiedene Elemente ✤ Unterschiede in der Feinstruktur der Kanten spiegeln chemische und strukturelle Einflüsse wider (Bindung und Koordination) – ELNES energyloss near-edge structure, EXELFS extended energy-loss fine structure hsl 2009 – Charakterisierung von Nanostrukturen – <strong>Analytische</strong> Elektronemikroskopie 18
Typische Verlustenergien Prozess Energieverlust (eV) Phononen 0,02 Inter-/Intrabandübergänge 5 – 25 Plasmonen 5 – 25 Ionisation innerer Schalen 30 – 1000 hsl 2009 – Charakterisierung von Nanostrukturen – <strong>Analytische</strong> Elektronemikroskopie 19
Seite 1 und 2: Hartmut S. Leipner: Charakterisieru
Seite 3 und 4: Mikroanalyse hsl 2009 - Charakteris
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