TEMA 15 - Materials Science Institute of Madrid
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Programas de análisis con haces de iones<br />
http://www.genplot.com/<br />
http://www.rzg.mpg.de/~mam/<br />
http://www.ee.surrey.ac.uk/IBC/ndf/<br />
http://www.itn.pt/facilities/lfi/ndf/uk_lfi_ndf.htm/<br />
rgago@icmm.csic.es Instituto de Ciencia de Materiales de <strong>Madrid</strong> (CSIC) 59/62<br />
Conclusiones finales<br />
Técnicas IBA proporcionan información composicional<br />
En la mayoría de los casos, el análisis es no destructiva y no requiere<br />
preparación especial<br />
Permiten cuantificación sin estándares de calibración<br />
(medida absoluta dada por expresiones analíticas)<br />
Pr<strong>of</strong>undidad de análisis desde unos pocos nm’s a μm’s<br />
Posibilidad de obtener perfiles de composición<br />
Pueden usarse de forma complementaria y simultánea para obtener<br />
información global de la muestra:<br />
- Elementos ligeros y pesados (Z 1)<br />
- Elementos traza o minoritarios (dopaje, impurezas, etc.)<br />
- Estructura cristalina (“channeling”), …<br />
Posibilidad de análisis con alta-resolución lateral o en pr<strong>of</strong>undidad..<br />
rgago@icmm.csic.es Instituto de Ciencia de Materiales de <strong>Madrid</strong> (CSIC) 60/62<br />
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