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CV - Universidad Nacional Autónoma de México

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RG Barrera. Curriculum Vitae. Diciembre 2012<br />

Participantes<br />

Para 1986, el grupo <strong>de</strong> Propieda<strong>de</strong>s Opticas <strong>de</strong> Medios Inhomogéneos quedó finalmente estructurado<br />

con los siguientes investigadores:<br />

Dr. Rubén Barrera<br />

Dr. Marcelo <strong>de</strong>l Castillo<br />

Dr. W. Luis Mochán<br />

Dr. Guillermo Monsivais<br />

Áreas <strong>de</strong> interés<br />

Propieda<strong>de</strong>s ópticas <strong>de</strong> superficies. anisotropías ópticas en semiconductores cúbicos,<br />

propieda<strong>de</strong>s ópticas <strong>de</strong> superre<strong>de</strong>s y sistemas laminados, transporte électrónico y fotónico en<br />

sistemas <strong>de</strong>sor<strong>de</strong>nados, función dieléctrica efectiva <strong>de</strong> medios compuestos ("composites") y<br />

respuesta no-lineal <strong>de</strong> superficies y medios compuestos.<br />

Líneas <strong>de</strong> investigación<br />

(i) Efectos <strong>de</strong> dispersión espacial en superficies metálicas.<br />

En ésta área se <strong>de</strong>sarrollo un formalismo perturbativo en términos <strong>de</strong> la respuesta dieléctrica<br />

superficial, el cual toma en cuenta los efectos <strong>de</strong> dispersión espacial. Este formalismo se ha<br />

aplicado al cálculo <strong>de</strong> propieda<strong>de</strong>s ópticas <strong>de</strong> superficies metálicas microrugosas.<br />

(ii) Anisotropías ópticas en cristales cúbicos.<br />

La ruptura <strong>de</strong> la simetría en la proximidad <strong>de</strong> la superficie <strong>de</strong> cristales cúbicos se ha empleado<br />

para diseñar una nueva espectroscopía óptica que ha permitido <strong>de</strong>terminar la posición y<br />

orientación <strong>de</strong> adsorbatos con muy alta resolución. La importancia <strong>de</strong> nuestro trabajo fue mostrar<br />

que una onda electromagnética es capaz, a pesar <strong>de</strong> tener una gran longitud <strong>de</strong> onda, <strong>de</strong><br />

penetración y <strong>de</strong> escape, <strong>de</strong> proporcionar información microscópica sobre la estructura atómica<br />

<strong>de</strong> la interface, lo cual permite aprovechar todas las ventajas <strong>de</strong> las espectroscopías ópticas en el<br />

estudio <strong>de</strong> la estructura superficial. Se realizaron también cálculos <strong>de</strong> la función dieléctrica<br />

superficial a partir <strong>de</strong> la estructura electrónica <strong>de</strong> la superficie en caras <strong>de</strong> baja simetría <strong>de</strong>l silicio.<br />

Aunque inicialmente los sistemas <strong>de</strong> interés fueron superficies semiconductoras excitadas con<br />

radiación en el visible, posteriormente el trabajo se ha extendido a radiación en el infrarrojo y a<br />

superficies metálicas.<br />

(iii) Propieda<strong>de</strong>s ópticas <strong>de</strong> superre<strong>de</strong>s y sistemas laminados .<br />

El estudio <strong>de</strong> estos sistemas se inició con el cálculo <strong>de</strong> la reflectancia y las relaciones <strong>de</strong><br />

dispersión <strong>de</strong> los modos electromagnéticos <strong>de</strong> superre<strong>de</strong>s formadas por películas metálicas y<br />

aislantes alternadas periodicamente. Hemos encontrado bandas <strong>de</strong> propagación asociadas a las<br />

resonancias colectivas <strong>de</strong> bulto y <strong>de</strong> superficie <strong>de</strong> las películas metálicas, y que se manifiestan a<br />

través <strong>de</strong> una estructura muy rica en los espectros <strong>de</strong> reflectancia.<br />

(iv) Propieda<strong>de</strong>s ópticas <strong>de</strong> medios compuestos.<br />

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