Espectroscopía de electrones fotoemitidos (X-ray ... - CNyN - UNAM

PRIMERA SEMANA DE CIENCIA, TECNOLOGÍA Y CULTURA
CICATA-ALTAMIRA
β = −0.1+
−
γ = 0.191ρ
Camino Libre Medio Inelástico (IMFP o λ IMFP )
0.944
2
( E + E )
0.50
C = 1.97 − 0.91U
D = 53.4 − 20.8U
2
NV
ρ E
p
U = =
M 829.4
p
g
1
2
λ
IMFP
+ 0.069ρ
TPP2M
E
=
2 ⎡ C D ⎤
E
p ⎢β ln( γE)
− +
2
⎣ E E ⎥
⎦
0.1
( Å)
donde:
E : Energía del electrón (eV)
E g
: Ancho de energía prohibida (eV)
E p
: Energía del plasmón (eV.)
ρ: Densidad (g/cm -3 )
N V
: Número de electrones de Valencia
M: Peso atómico
Análisis Cuantitativo por XPS: I
Algunos análisis cuantitativos por XPS tienen una exactitud de ± 10%
donde: I i
= intensidad de un pico “p” de fotoemisión para un elemento “i”.
N i
= Concentración atómica promedio de un elemento “i” en la
superficie bajo análisis.
σ i
= Sección eficaz de fotoionización (Factor de Scofield).
λ i
= Camino libre medio inelástico de los electrones del pico “p”.
K = Todos los factores relacionados a la detección de la señal (asumidos
constante durante un experimento).
Wencel De La Cruz
Centro de Nanociencias y Nanotecnología de la UNAM.
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