J6 05 B5 nettiin - Mikes
J6 05 B5 nettiin - Mikes
J6 05 B5 nettiin - Mikes
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
22<br />
teenoton virhelähteitä ovat näytteenottokohteen heterogeenisuus, josta aiheutuu<br />
näytteen valintavirhe, sekä preparointivirhe, joiksi luetaan kaikki<br />
näytteen käsittelystä aiheutuvat virheet (esim. kontaminaatio, määritettävän<br />
aineen häviöt haihtumisen tai absorption vuoksi ). Yksityiskohtainen selvitys<br />
näytteenoton mittausepävarmuuden arvioinnista on esitetty MIKESin<br />
julkaisussa ”Opas näytteenoton teknisten vaatimusten täyttämiseksi akkreditointia<br />
varten” (FINAS S51/2000). Se on luettavissa MIKESin internetsivuilla.<br />
Hyvä apuneuvo epävarmuuslähteiden arvioinnissa on ns. syy-seurauskaavio.<br />
Esimerkiksi edellä mainitussa titrauksessa sen avulla voidaan epävarmuustekijöitä<br />
määritellä seuraavasta lähtökohdasta:<br />
titr.loppupiste<br />
lämpötila<br />
poikkeamaV(T2)<br />
P(KHP)<br />
kalibrointi<br />
m (KHP)<br />
V(T2)<br />
titr. loppupiste V(T2)<br />
V(T1)<br />
titr.loppupisteV (T1<br />
V(HCl)<br />
Toistettav uus<br />
titr. loppupiste<br />
Kalibrointi<br />
herkkyys<br />
lineaarisuus<br />
m(taara)<br />
kalibrointi<br />
lämpötila<br />
poikkeama V(T1)<br />
M(KHP)<br />
m (KHP)<br />
Kalibrointi<br />
Lämpötila<br />
Kalibrointi<br />
Kuva 5. Lähtökohta epävarmuuslähteiden identifioinnille happo-emästitrauksessa<br />
Tarkemmin tähän esimerkkiin ja jatkotoimenpiteisiin sekä muihinkin esimerkkeihin<br />
voi tutustua EURACHEM/CITACin epävarmuusohjeen liitteissä<br />
sekä muissa esimerkkitapauksissa .<br />
MIKES Julkaisu <strong>J6</strong>/20<strong>05</strong> T. Ehder (Toim.), Kemian metrologian opas<br />
V(HCl)<br />
herkkyys<br />
lineaarisuus<br />
m (bruttopaino)<br />
c(HCL)
Change language