J6 05 B5 nettiin - Mikes
J6 05 B5 nettiin - Mikes
J6 05 B5 nettiin - Mikes
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
31<br />
Mittalaitteen systemaattinen virhe, poikkeama (engl. bias), voi aiheutua<br />
esimerkiksi seuraavista syistä:<br />
• systemaattinen mittalaitteen väärin lukeminen<br />
• väärän kalibroinnin perusteella säädetty mittalaite<br />
• rajallinen havaitsemistehokkuus (kuollut aika)<br />
• mittalaitteen epäkuntoisuus<br />
Kemiallisessa analyysimenetelmässä käytettyjen mittalaitteiden systemaattiset<br />
virheet on hyvä tunnistaa mm. mittausepävarmuuden määrittämisen<br />
vuoksi. Hyvänä apukeinona on jäljitettävästi suoritettu mittalaitteen kalibrointi.<br />
Mittalaitteen poikkeama ilmoitetaan yleensä prosentteina oikeasta<br />
näyttämästä. Kemiallisissa mittauksissa käytettävien analysaattorien poikkeama<br />
voi vaihdella määritettävästä aineesta riippuen.<br />
Kemiallisen menetelmän validoinnissa yksittäisen mittauslaitteen näyttämän<br />
systemaattista virhettä tärkeämpää on tietää koko analyysimenetelmän<br />
systemaattinen kokonaisvirhe. Tämä analyysimenetelmän kokonaispoikkeama<br />
(B) on mittaustuloksen ja teoreettisen arvon tai standardimenetelmälle<br />
sovitun arvon välinen ero:<br />
B = x –T, missä x on useampien mittaustuloksien keskiarvo ja T = teoreettinen<br />
arvo tai standardimenetelmälle sovittu arvo. Poikkeama voidaan ilmoittaa<br />
myös prosentteina:<br />
B (%) = x – T/T x 100<br />
Analyysimenetelmän poikkeama muodostuu menetelmään liittyvistä laboratoriosta<br />
riippumattomista systemaattisista virheistä sekä menetelmää<br />
käyttävän laboratorion omista systemaattisista virheistä kuvan 8 esittämällä<br />
tavalla.<br />
MIKES Julkaisu <strong>J6</strong>/20<strong>05</strong> T. Ehder (Toim.), Kemian metrologian opas
Change language