Les états de surface dans tous leurs états - Micronora
Les états de surface dans tous leurs états - Micronora
Les états de surface dans tous leurs états - Micronora
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
n a n O M É T R O L O G I E<br />
nanoJura lance la commercialisation<br />
<strong>de</strong> ses profilomètres d'ultra-haute précision<br />
Le Laboratoire National <strong>de</strong> Métrologie et d'Essais (LNE) et nanoJura,<br />
fabricant <strong>de</strong> profilomètres d'état <strong>de</strong> <strong>surface</strong>, annoncent un accord <strong>de</strong> fabrication<br />
et <strong>de</strong> commercialisation <strong>de</strong> profilomètres d'ultra-haute précision.<br />
Principe<br />
et architecture<br />
du profilomètre<br />
d'ultra-haute<br />
précision du LNE.<br />
Source : nanoJura<br />
<strong>Les</strong> profilomètres d'ultra-haute précision<br />
<strong>de</strong> nanoJura ont une précision <strong>de</strong> mesure<br />
d'état <strong>de</strong> <strong>surface</strong> supérieure d'un facteur<br />
<strong>de</strong> 10 à 100 à celle <strong>de</strong>s profilomètres classiques.<br />
Pour étalonner <strong>de</strong>s étalons <strong>de</strong> rugosité<br />
ISO 5436-1, le LNE vient d’ail<strong>leurs</strong> <strong>de</strong><br />
s’équiper d'un tel profilomètre qui permet<br />
d'atteindre une incertitu<strong>de</strong> <strong>de</strong> 16 nm sur<br />
<strong>de</strong>s Ra (moyenne arithmétique <strong>de</strong>s écarts à<br />
la moyenne du profil étudié) <strong>de</strong> 1 µm.<br />
Une chaîne métrologique fermée<br />
qui réduit les incertitu<strong>de</strong>s<br />
<strong>Les</strong> composants <strong>de</strong> base du profilomètre<br />
comprennent une table <strong>de</strong> déplacement <strong>de</strong><br />
l'échantillon munie d'un plan <strong>de</strong> verre en<br />
Zerodur. Un interféromètre laser mesure<br />
le déplacement <strong>de</strong> cette table <strong>dans</strong> la direction<br />
X (et Y). Le profil est relevé au moyen<br />
d'un capteur inductif à contact. Un interféromètre<br />
laser mesure le déplacement relatif<br />
en Z entre le bras support du capteur<br />
et la table en mouvement. La mesure <strong>de</strong><br />
ce déplacement relatif implique que les<br />
erreurs répétables (liées à la mécanique<br />
du profilomètre) et les erreurs non-répé-<br />
tables (liées aux perturbations mécaniques<br />
aléatoires telles que les vibrations) peuvent<br />
être corrigées en temps réel en utilisant la<br />
technologie brevetée Digital Surf.<br />
L'intégration <strong>de</strong>s capteurs additionnels, qui<br />
fournissent l'information sur la position<br />
du capteur <strong>de</strong> mesure par rapport à<br />
l'objet mesuré, forme une chaîne métrologique<br />
fermée et réduit les incertitu<strong>de</strong>s.<br />
L'architecture permet également l'étalonnage<br />
in situ du capteur en prenant pour<br />
Profilomètre d'ultra-haute précision utilisé par le LNE pour<br />
la calibration <strong>de</strong>s étalons <strong>de</strong> rugosité. Source : nanoJura<br />
référence l'interféromètre laser, tout en<br />
respectant le principe d'Abbe. Cette particularité,<br />
qui n'est pas disponible sur un<br />
profilomètre conventionnel, fournit une<br />
traçabilité directe vis-à-vis <strong>de</strong> l'unité <strong>de</strong><br />
longueur et évite l'utilisation <strong>de</strong>s étalons <strong>de</strong><br />
hauteur ou <strong>de</strong>s cales étalons qui requièrent<br />
un étalonnage additionnel, et qui ne sont<br />
pas d'une utilisation simple <strong>de</strong> par leur géométrie<br />
imparfaite. C'est pour cette raison<br />
que cette conception est tout spécialement<br />
adaptée à l'usage <strong>de</strong>s instituts nationaux <strong>de</strong><br />
métrologie.<br />
Mesure <strong>de</strong> rectitu<strong>de</strong>s,<br />
d'ondulation ou <strong>de</strong> petits motifs<br />
nanoJura est fabricant <strong>de</strong> profilomètres 2D<br />
et 3D d'ultra-haute précision sur la base <strong>de</strong>s<br />
technologies Volcanyon <strong>de</strong> Digital Surf. <strong>Les</strong><br />
profilomètres sont disponibles avec les <strong>de</strong>ux<br />
technologies <strong>de</strong> capteurs à contact (inductif)<br />
ou optiques (confocal chromatique). L'analyse<br />
<strong>de</strong>s données (2D ou 3D) est réalisée par<br />
l'intermédiaire du logiciel MoutainsMap. <strong>Les</strong><br />
profilomètres d'ultra-haute précision peuvent<br />
être utilisés pour toute application qui<br />
exige l'ultra-haute précision, par exemple<br />
pour la mesure <strong>de</strong> rectitu<strong>de</strong>s, d'ondulation<br />
ou <strong>de</strong> petits motifs sur <strong>de</strong> plus larges<br />
<strong>surface</strong>s, tels <strong>de</strong>s cratères sur <strong>de</strong>s <strong>surface</strong>s<br />
(allant jusqu'à 100 mm <strong>de</strong> côté) et qui ne<br />
peuvent être mesurés avec <strong>de</strong>s profilomètres<br />
conventionnels sans incertitu<strong>de</strong> significative.<br />
“Nous sommes heureux d'ajouter ces<br />
profilomètres basés sur le savoir-faire du LNE<br />
à notre gamme <strong>de</strong> produits” explique Anne<br />
Calvez, gérante <strong>de</strong> nanoJura. “Ceci implique<br />
que nanoJura est en mesure dès à présent <strong>de</strong><br />
fournir <strong>de</strong>s profilomètres <strong>de</strong> <strong>surface</strong> d'ultra-haute<br />
précision <strong>de</strong> manière exclusive à <strong>de</strong>s clients <strong>dans</strong><br />
le mon<strong>de</strong> entier.”. ■<br />
Jean-Yves Catherin<br />
<strong>Micronora</strong> inforMations - juillet 2008