28.11.2012 Views

Les états de surface dans tous leurs états - Micronora

Les états de surface dans tous leurs états - Micronora

Les états de surface dans tous leurs états - Micronora

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

n a n O M É T R O L O G I E<br />

nanoJura lance la commercialisation<br />

<strong>de</strong> ses profilomètres d'ultra-haute précision<br />

Le Laboratoire National <strong>de</strong> Métrologie et d'Essais (LNE) et nanoJura,<br />

fabricant <strong>de</strong> profilomètres d'état <strong>de</strong> <strong>surface</strong>, annoncent un accord <strong>de</strong> fabrication<br />

et <strong>de</strong> commercialisation <strong>de</strong> profilomètres d'ultra-haute précision.<br />

Principe<br />

et architecture<br />

du profilomètre<br />

d'ultra-haute<br />

précision du LNE.<br />

Source : nanoJura<br />

<strong>Les</strong> profilomètres d'ultra-haute précision<br />

<strong>de</strong> nanoJura ont une précision <strong>de</strong> mesure<br />

d'état <strong>de</strong> <strong>surface</strong> supérieure d'un facteur<br />

<strong>de</strong> 10 à 100 à celle <strong>de</strong>s profilomètres classiques.<br />

Pour étalonner <strong>de</strong>s étalons <strong>de</strong> rugosité<br />

ISO 5436-1, le LNE vient d’ail<strong>leurs</strong> <strong>de</strong><br />

s’équiper d'un tel profilomètre qui permet<br />

d'atteindre une incertitu<strong>de</strong> <strong>de</strong> 16 nm sur<br />

<strong>de</strong>s Ra (moyenne arithmétique <strong>de</strong>s écarts à<br />

la moyenne du profil étudié) <strong>de</strong> 1 µm.<br />

Une chaîne métrologique fermée<br />

qui réduit les incertitu<strong>de</strong>s<br />

<strong>Les</strong> composants <strong>de</strong> base du profilomètre<br />

comprennent une table <strong>de</strong> déplacement <strong>de</strong><br />

l'échantillon munie d'un plan <strong>de</strong> verre en<br />

Zerodur. Un interféromètre laser mesure<br />

le déplacement <strong>de</strong> cette table <strong>dans</strong> la direction<br />

X (et Y). Le profil est relevé au moyen<br />

d'un capteur inductif à contact. Un interféromètre<br />

laser mesure le déplacement relatif<br />

en Z entre le bras support du capteur<br />

et la table en mouvement. La mesure <strong>de</strong><br />

ce déplacement relatif implique que les<br />

erreurs répétables (liées à la mécanique<br />

du profilomètre) et les erreurs non-répé-<br />

tables (liées aux perturbations mécaniques<br />

aléatoires telles que les vibrations) peuvent<br />

être corrigées en temps réel en utilisant la<br />

technologie brevetée Digital Surf.<br />

L'intégration <strong>de</strong>s capteurs additionnels, qui<br />

fournissent l'information sur la position<br />

du capteur <strong>de</strong> mesure par rapport à<br />

l'objet mesuré, forme une chaîne métrologique<br />

fermée et réduit les incertitu<strong>de</strong>s.<br />

L'architecture permet également l'étalonnage<br />

in situ du capteur en prenant pour<br />

Profilomètre d'ultra-haute précision utilisé par le LNE pour<br />

la calibration <strong>de</strong>s étalons <strong>de</strong> rugosité. Source : nanoJura<br />

référence l'interféromètre laser, tout en<br />

respectant le principe d'Abbe. Cette particularité,<br />

qui n'est pas disponible sur un<br />

profilomètre conventionnel, fournit une<br />

traçabilité directe vis-à-vis <strong>de</strong> l'unité <strong>de</strong><br />

longueur et évite l'utilisation <strong>de</strong>s étalons <strong>de</strong><br />

hauteur ou <strong>de</strong>s cales étalons qui requièrent<br />

un étalonnage additionnel, et qui ne sont<br />

pas d'une utilisation simple <strong>de</strong> par leur géométrie<br />

imparfaite. C'est pour cette raison<br />

que cette conception est tout spécialement<br />

adaptée à l'usage <strong>de</strong>s instituts nationaux <strong>de</strong><br />

métrologie.<br />

Mesure <strong>de</strong> rectitu<strong>de</strong>s,<br />

d'ondulation ou <strong>de</strong> petits motifs<br />

nanoJura est fabricant <strong>de</strong> profilomètres 2D<br />

et 3D d'ultra-haute précision sur la base <strong>de</strong>s<br />

technologies Volcanyon <strong>de</strong> Digital Surf. <strong>Les</strong><br />

profilomètres sont disponibles avec les <strong>de</strong>ux<br />

technologies <strong>de</strong> capteurs à contact (inductif)<br />

ou optiques (confocal chromatique). L'analyse<br />

<strong>de</strong>s données (2D ou 3D) est réalisée par<br />

l'intermédiaire du logiciel MoutainsMap. <strong>Les</strong><br />

profilomètres d'ultra-haute précision peuvent<br />

être utilisés pour toute application qui<br />

exige l'ultra-haute précision, par exemple<br />

pour la mesure <strong>de</strong> rectitu<strong>de</strong>s, d'ondulation<br />

ou <strong>de</strong> petits motifs sur <strong>de</strong> plus larges<br />

<strong>surface</strong>s, tels <strong>de</strong>s cratères sur <strong>de</strong>s <strong>surface</strong>s<br />

(allant jusqu'à 100 mm <strong>de</strong> côté) et qui ne<br />

peuvent être mesurés avec <strong>de</strong>s profilomètres<br />

conventionnels sans incertitu<strong>de</strong> significative.<br />

“Nous sommes heureux d'ajouter ces<br />

profilomètres basés sur le savoir-faire du LNE<br />

à notre gamme <strong>de</strong> produits” explique Anne<br />

Calvez, gérante <strong>de</strong> nanoJura. “Ceci implique<br />

que nanoJura est en mesure dès à présent <strong>de</strong><br />

fournir <strong>de</strong>s profilomètres <strong>de</strong> <strong>surface</strong> d'ultra-haute<br />

précision <strong>de</strong> manière exclusive à <strong>de</strong>s clients <strong>dans</strong><br />

le mon<strong>de</strong> entier.”. ■<br />

Jean-Yves Catherin<br />

<strong>Micronora</strong> inforMations - juillet 2008

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!