ICP-OES - IRSA

segue
3.3 Interferenze di tipo chimico e/o fisico
METALLI E SPECIE METALLICHE
Le interferenze di tipo moltiplicativo si manifestano come modificazioni del segnale analitico
e sono prodotte dalla matrice che produce alterazioni nei processi di trasporto alla torcia, desolvatazione,
atomizzazione, eccitazione. Le interferenze connesse al processo di trasporto e
desolvatazione sono principalmente riferibili a variazioni di densità, viscosità e tensione superficiale
della soluzione. Variazioni dell’efficienza del meccanismo di trasporto possono anche
essere dovute a una distribuzione non omogenea di matrice e analita nelle particelle di
aerosol nebulizzate. I processi di atomizzazione ed eccitazione dell’analita raramente risultano
interferiti dalla matrice. Per taluni elementi possono a volte verificarsi interferenze dovute
a modifiche dell’equilibrio di ionizzazione dell’analita. L’effetto positivo o negativo sulla
sensibilità analitica è da porre in relazione all’origine ionica o atomica della riga analitica.
Le interferenze che producono un effetto di tipo moltiplicativo sulla sensibilità analitica possono
essere corrette soddisfacentemente adottando opportune procedure di taratura quali il
metodo delle aggiunte note, il metodo della soluzione di riferimento simulata e il metodo del
riferimento interno. Nel caso di strumentazione sequenziale è possibile rendersi conto di eventuali
interferenze analizzando il campione tal quale e dopo opportuna diluizione: se per il
campione corretto dalla diluizione si ottengono valori insoddisfacenti, o comunque oltre i valori
di accuratezza accettabili, si può essere in presenza di interferenze di natura chimica e/o
fisica non meglio identificate, di cui è necessario individuare le cause. Un altro possibile metodo
per accertare la presenza di interferenze fa riferimento alle aggiunte note: se anche l’aggiunta
di analita, nell’ordine di concentrazioni comprese fra 10 e 100 volte il limite di rivelabilità,
porta a risultati al di fuori dei limiti dell’accuratezza del metodo, si è probabilmente
in presenza di sensibili effetti matrice.
200
Elemento Riga (nm) Limite di rivelabilità (mg/L)
S 182,037 * 0,5
Sb 206,833 0,03
217,581 0,05
Se 196,090 0,08
203,985 0,1
Si 251,611 0,02
212,412 0,02
288,158 0,03
Sn 235,484 0,1
189,980 * 0,02
Sr 407,771 0,0005
421,552 0,0006
460,733 0,1
Ti 334,941 0,005
337,280 0,01
336,121 0,01
Tl 190,864 * 0,03
276,787 0,1
V 290,882 0,01
292,402 0,01
310,230 0,01
W 207,911 0,03
209,860 0,05
239,709 0,06
Zn 206,200 0,005
202,548 0,004
213,856 0,002
Zr 343,823 0,01
339,198 0,008
* collocare il sistema ottico dello strumento sotto vuoto o sotto flusso di gas inerte; ** interferisce il Mg sulla misura
del K.