18.04.2015 Views

Instytut Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii I-7 TEMATY ...

Instytut Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii I-7 TEMATY ...

Instytut Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii I-7 TEMATY ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

9<br />

8.<br />

Mikroprocesorowy sterownik<br />

laserowego turbidymetru<br />

skaningowego<br />

Microprocessor-based controller<br />

for scanning laser turbidymetry<br />

system<br />

Oprogramowanie systemu do<br />

pomiaru małych rezystancji<br />

Low resistance measurement<br />

system software programming<br />

Celem pracy jest zaprojektowanie, budowa i uruchomienie<br />

mikroprocesorowego sterownika laserowego turbidymetru<br />

skaningowego. Od osoby realizującej temat wymagana jest<br />

dobra znajomość techniki mikroprocesorowej (preferowany<br />

mikrokontroler AVR Atmel), języka C, elektroniki cyfrowej i<br />

analogowej i konstrukcji elektronicznych.<br />

Celem pracy jest oprogramowanie systemu do pomiaru małych<br />

rezystancji z wykorzystaniem miliomomierza firmy<br />

GWINSTEK typu GOM-802, współpracującego z komputerem<br />

PC za pomocą interfejsu szeregowego RS 232C. Zakres pracy<br />

obejmuje napisanie oprogramowania do obsługi przyrządu w<br />

LabView lub innym środowisku programistycznym<br />

(wymagana umiejętność programowania z obsługą interfejsu<br />

RS 232) i wykonanie pomiarów testowych.<br />

dr inż. Paweł<br />

Żyłka<br />

prof. dr hab. inż.<br />

Michał<br />

Lisowski<br />

Konsultant:<br />

mgr inż.<br />

Krystian<br />

Krawczyk<br />

Elektro-technologii<br />

Elektro-technologii<br />

10.<br />

Projekt sondy do pomiarów<br />

prądów krytycznych<br />

nadprzewodników<br />

wysokotemperaturowych metodą<br />

bezkontaktową<br />

Design of a probe for high<br />

temperature superconductors<br />

critical current measurement using<br />

contact less method<br />

Zwykle prądy krytyczne nadprzewodników mierzy się poprzez<br />

pomiar prądu przepływającego przez próbkę i spadku na niej<br />

napięcia. Metoda ta wymaga naniesienia kontaktów na badanej<br />

próbce, co jest w praktyce poważnym problemem<br />

technologicznym. Można tego uniknąć stosując bezkontaktową<br />

metodę indukcyjną. Aby ją zrealizować niezbędna jest<br />

konstrukcja sady zawierająca cewkę wzbudzającą, w której<br />

znajduje się czujnik pola magnetycznego. Prąd w cewce<br />

wzbudzającej wywołuje przepływ prądu w nadprzewodzącej<br />

próbce pierścieniowej, który wytwarza strumień magnetyczny<br />

przeciwny do strumienia cewki wzbudzającej. Zwiększając<br />

prąd w cewce zwiększa się prąd próbce aż do uzyskania jego<br />

wartości krytycznej.<br />

Celem pracy jest zaprojektowanie stanowiska pomiarowego do<br />

pomiarów prądów krytycznych metodą bezkontaktową. oraz<br />

wykonanie badań testujących.<br />

prof. dr hab. inż.<br />

Michał<br />

Lisowski<br />

Konsultant: mgr<br />

inż. Krystian<br />

Krawczyk<br />

Elektro-technologii<br />

3

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!