Gesamte Fakultät IV - TU Berlin
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<strong>Fakultät</strong> <strong>IV</strong> Elektrotechnik und Informatik<br />
Do, wöchentl, 14:00 - 16:00, 11.04.2013 - 13.07.2013, E-N 542 , Orglmeister, Lerch<br />
Inhalt "Neural Networks" - Vorträge und Diskussion zu den Unterthemen: Neuronenmodelle,<br />
Netztopologien, Lernverfahren, Applikationen in der Signalverarbeitung,<br />
Mustererkennung und Medizintechnik.<br />
Bemerkung Die Veranstaltung ist Bestandteil des Moduls AT3-DigSV und E&SigV. Begrenzte<br />
Teilnehmerzahl, Voranmeldung im Sekr. E-N 538<br />
Ausgewählte Themen zu Elektronik u. Signalverarbeitung<br />
0430 L 452, Seminar, 2.0 SWS<br />
, Orglmeister<br />
Inhalt "Selected Topics of Electronics and Signal Processing" - Darstellung und Diskussion<br />
laufender wissenschaftlicher Arbeiten aus den Forschungsbereichen des Fachgebietes<br />
Elektronik und medizinische Signalverarbeitung.<br />
Bemerkung Die Veranstaltung ist Wahlbestandteil des Moduls E&SigV. Findet nach Absprache mit<br />
dem Dozenten auch in der vorlesungsfreien Zeit statt.<br />
Medizinelektronik<br />
0430 L 593, Integrierte LV (VL mit UE), 2.0 SWS<br />
Mi, wöchentl, 12:00 - 14:00, 10.04.2013 - 13.07.2013, HFT-FT 131 , Orglmeister, Lerch<br />
Inhalt "Medical Electronics" - Grundlagen der Biomedizinischen Signalverarbeitung. Vorträge<br />
Praktische Messübungen, Übungen am PC mit MATLAB sowie Klinikums- oder/und<br />
Firmenbesuche.<br />
Bemerkung Die Veranstaltung ist Bestandteil der Module AT3-DigSV, Med und MedE.<br />
Voranmeldung erforderlich im Sekr. EN 538; begrenzte Teilnehmerzahl. Termine für<br />
praktische Übungen mit MATLAB n.V., diese finden im Raum EN 519 (CIP-Pool)statt.<br />
Weitere Informationen unter http://www.emsp.tu-berlin.de<br />
Messverfahren für Halbleiterbauelemente<br />
0431 L 108, Vorlesung, 2.0 SWS<br />
wöchentl<br />
Inhalt "Measurement Technique for Semiconductor Devices" - Messverf. zur Prozesskontr. an<br />
optoelektron. Halbleiterbauelementen, Designaspekte zu Heterostrukturbauelementen,<br />
Charakterisierung von Wafern u. Epitaxieschichten, C(V)-, I(V)-Analysen an pn- u.<br />
Schottkydioden, Höchstfrequ. On-wafer Probing.<br />
Bemerkung Die Lehrveranstaltung fällt im Sommersemester 2013 aus, da die<br />
Mindestteilnehmerzahl bisher nicht zustande kam.<br />
Falls weiterhin Interesse an der Lehrveranstaltung besteht, setzen Sie sich bitte<br />
persönlich mit dem Dozenten, Herrn Dr. Heinz-Gunter Bach ** Email: Heinz-<br />
Gunter.Bach@hhi.fraunhofer.de ** in Verbindung.<br />
15.04.2013<br />
Ausgewählte Kapitel der Hetero System Integration<br />
0431 L 716, Seminar, 2.0 SWS<br />
Do11.04.2013 - 11.07.2013, TIB17A -294 , Lang, Tekin, Ngo<br />
Inhalt Im Seminar werden Abschlußarbeiten (Diplom, Bachelor, Master) am<br />
Forschungsschwerpunkt Technologien der Mikroperipherik durch Vortäge präsentiert.<br />
Bemerkung Anmeldung und Informationen zum Seminar unter: http://nit.tu-berlin.de<br />
Mikroperipherik<br />
0431 L 950, Anleitung zum wiss. Arbeiten, 2.0 SWS<br />
Di, wöchentl, 09.04.2013 - 09.07.2013, TIB17A -222<br />
Fr, wöchentl, 12.04.2013 - 13.07.2013, TIB17A -222 , Lang, Tekin, Ngo<br />
Inhalt "Microperipherics" - Es werden wissenschaftliche Arbeiten auf dem Gebiet der<br />
Mikroperipherik betreut, und zwar insbesondere aus den Bereichen Simulation/<br />
CAD sowie Technologien der Aufbau- und Verbindungstechnik. - Bachelor- und<br />
Masterarbeiten.<br />
Bemerkung Termine nach Vereinbarung<br />
SoSe 2013 140
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