Potentiale und Wertströme identifizieren
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Potentiale und Wertströme identifizieren
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Systemcontrolling<br />
Umsetzung<br />
Integration ins<br />
Produktionssystem<br />
Schreibtischanalyse<br />
Wertstrommapping<br />
Detailanalyse<br />
Wertstromdesign<br />
100%<br />
90%<br />
80%<br />
70%<br />
60%<br />
50%<br />
40%<br />
30%<br />
20%<br />
10%<br />
0%<br />
GEFF-Kennzahlen<br />
2006-09-26<br />
2006-09-27<br />
2006-09-28<br />
2006-09-29<br />
2006-09-30<br />
2006-10-02<br />
Gesamtzeit tg<br />
Anlagennutzungszeit tn<br />
Anlagennutzungsfaktor Nf<br />
Anlagenleistungsfaktor Lf<br />
Anlagenqualitätsfaktor Qf<br />
Gesamtanlageneffizienz GEFF<br />
Anlagennutzungsfaktor Nf<br />
Anlagenleistungsfaktor Lf<br />
Qualitätsfaktor Qf<br />
Ziel Nf<br />
Ziel Lf<br />
Ziel Qf<br />
Messgröße<br />
Eingeplante Schichten<br />
x Schichtarbeitszeit<br />
Produktive Arbeitszeit<br />
der Mitarbeiter an der Anlage<br />
tn/tg<br />
tatsächlich gefertigte Stückzahl<br />
/theoretisch mögliche<br />
Stückzahl<br />
gefertigte Gutstückzahl<br />
/Gesamtstückzahl<br />
Nf*LF*Qf<br />
Definition