DATENBLATT / Specification Sach Nr.: T60407-L5051-X022
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VACUUMSCHMELZE<br />
K-<strong>Nr</strong>.:<br />
K-no.:<br />
Kunde:<br />
Customer<br />
Hrsg.: KB-FB FT<br />
editor<br />
<strong>DATENBLATT</strong> / <strong>Specification</strong><br />
Typenelement / Standard Type<br />
Kd.<br />
Endprüfung: (V: 100%-Test; AQL...: DIN ISO 2859-Teil1)<br />
Final inspection<br />
<strong>Sach</strong> <strong>Nr</strong>.:<br />
Item no.:<br />
<strong>T60407</strong>-<strong>L5051</strong>-<strong>X022</strong><br />
S0-Modul / S0 Module Datum:<br />
Date:<br />
<strong>Sach</strong> <strong>Nr</strong>.:<br />
Customers part no.:<br />
Bearb:<br />
designer BB KB-PM B: Gör.<br />
check<br />
Weitergabe sowie Vervielfältigung dieser Unterlage, Verwertung und Mitteilung ihres Inhalts<br />
nicht gestattet, soweit nicht ausdrücklich zugestanden. Zuwiderhandlungen verpflichten zu<br />
Schadenersatz. Alle Rechte für den Fall der Patenterteilung oder GM-Eintragung vorbehalten<br />
04.02.1998<br />
Seite 2 von 2<br />
Page of<br />
4) (AQL 1/S4) Ck ≤ 150 pF (NIII + IV gegen NI + V II NII + VI bzw. NI + VII II NII + VIII), f = 10 kHz (Kern1, Kern2)<br />
(NIII + IV to NI + V II NII + VI or. NI + VII II NII + VIII (core1, core2)<br />
5) (AQL 1/S4) LsI + II ≤ 5 μH (NI+NII in Reihe, NIII +NIV kurzgeschlossen), f = 100 kHz (Kern1, Kern2)<br />
Typprüfung:<br />
Type test:<br />
1) Stoßspannungsprüfung in Anlehnung an M3064<br />
HV transient test according to M3064<br />
NI + NII gegen NIII + NIV (Kern1, Kern2)<br />
NI + NII to NIII + NIV (core1, core2)<br />
Einstellwerte: 10 µs / 700 µs-Kurvenform (waveform)<br />
Settings UP,max = 2 kV<br />
Ri = 40 Ω<br />
(NI+NII series, NIII+NIV short circuited) (core1, core2)<br />
10 Impulse im Abstand t = 10 Sekunden mit wechselnder Polarität<br />
10 pulses in a cycle of t = 10 seconds with changing polarity<br />
2) Impedanzmessung (Induktivitätsmeßbrücke 3245, Wayne Kerr)<br />
Impedance test (precision inductance analyzer 3245, Wayne Kerr)<br />
2500<br />
ZI = ZII<br />
≥ Ω ; IDC = 5mA; f = 20kHz; UAC,eff = 100mV (Kern1/core1,Kern2/core2)<br />
4<br />
3) CWI+II ≤ 250 pF (NI+NII in Reihe/series), f = 1 MHz, UAC,eff =100 mV (Kern1/core1,Kern2/core2)<br />
Messungen nach Temperaturangleich der Prüflinge an Raumtemperatur<br />
Measurements after temperature balance of the test samples at room temperature<br />
Folgendes Gutachten liegt vor:<br />
Recognition Evaluation der Underwriters Laboratories Inc. (UL). (UL-File-<strong>Nr</strong>. E169721).<br />
Anerkennung als Signalübertrager für den Einsatz in ISDN-Geräten gemäß den Anforderungen nach UL 1459,<br />
2.Ausgabe, Abschnitt 25A.<br />
Following report is available:<br />
Recognition Evaluation of Signal Transformers for Use in ISDN Products to the Requirements of UL 1459, Second Edition, Section 25A<br />
of the Underwriters Laboratories Inc. (UL) (UL-File-No. E169721).<br />
freig.: Sta.<br />
released<br />
Copying of this document, disclosing it to third parties or using the contents there for any<br />
purposes without express written authorization by use illegally forbidden.<br />
Any offenders are liable to pay all relevant damages.