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DATENBLATT / Specification Sach Nr.: T60407-L5051-X022

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VACUUMSCHMELZE<br />

K-<strong>Nr</strong>.:<br />

K-no.:<br />

Kunde:<br />

Customer<br />

Hrsg.: KB-FB FT<br />

editor<br />

<strong>DATENBLATT</strong> / <strong>Specification</strong><br />

Typenelement / Standard Type<br />

Kd.<br />

Endprüfung: (V: 100%-Test; AQL...: DIN ISO 2859-Teil1)<br />

Final inspection<br />

<strong>Sach</strong> <strong>Nr</strong>.:<br />

Item no.:<br />

<strong>T60407</strong>-<strong>L5051</strong>-<strong>X022</strong><br />

S0-Modul / S0 Module Datum:<br />

Date:<br />

<strong>Sach</strong> <strong>Nr</strong>.:<br />

Customers part no.:<br />

Bearb:<br />

designer BB KB-PM B: Gör.<br />

check<br />

Weitergabe sowie Vervielfältigung dieser Unterlage, Verwertung und Mitteilung ihres Inhalts<br />

nicht gestattet, soweit nicht ausdrücklich zugestanden. Zuwiderhandlungen verpflichten zu<br />

Schadenersatz. Alle Rechte für den Fall der Patenterteilung oder GM-Eintragung vorbehalten<br />

04.02.1998<br />

Seite 2 von 2<br />

Page of<br />

4) (AQL 1/S4) Ck ≤ 150 pF (NIII + IV gegen NI + V II NII + VI bzw. NI + VII II NII + VIII), f = 10 kHz (Kern1, Kern2)<br />

(NIII + IV to NI + V II NII + VI or. NI + VII II NII + VIII (core1, core2)<br />

5) (AQL 1/S4) LsI + II ≤ 5 μH (NI+NII in Reihe, NIII +NIV kurzgeschlossen), f = 100 kHz (Kern1, Kern2)<br />

Typprüfung:<br />

Type test:<br />

1) Stoßspannungsprüfung in Anlehnung an M3064<br />

HV transient test according to M3064<br />

NI + NII gegen NIII + NIV (Kern1, Kern2)<br />

NI + NII to NIII + NIV (core1, core2)<br />

Einstellwerte: 10 µs / 700 µs-Kurvenform (waveform)<br />

Settings UP,max = 2 kV<br />

Ri = 40 Ω<br />

(NI+NII series, NIII+NIV short circuited) (core1, core2)<br />

10 Impulse im Abstand t = 10 Sekunden mit wechselnder Polarität<br />

10 pulses in a cycle of t = 10 seconds with changing polarity<br />

2) Impedanzmessung (Induktivitätsmeßbrücke 3245, Wayne Kerr)<br />

Impedance test (precision inductance analyzer 3245, Wayne Kerr)<br />

2500<br />

ZI = ZII<br />

≥ Ω ; IDC = 5mA; f = 20kHz; UAC,eff = 100mV (Kern1/core1,Kern2/core2)<br />

4<br />

3) CWI+II ≤ 250 pF (NI+NII in Reihe/series), f = 1 MHz, UAC,eff =100 mV (Kern1/core1,Kern2/core2)<br />

Messungen nach Temperaturangleich der Prüflinge an Raumtemperatur<br />

Measurements after temperature balance of the test samples at room temperature<br />

Folgendes Gutachten liegt vor:<br />

Recognition Evaluation der Underwriters Laboratories Inc. (UL). (UL-File-<strong>Nr</strong>. E169721).<br />

Anerkennung als Signalübertrager für den Einsatz in ISDN-Geräten gemäß den Anforderungen nach UL 1459,<br />

2.Ausgabe, Abschnitt 25A.<br />

Following report is available:<br />

Recognition Evaluation of Signal Transformers for Use in ISDN Products to the Requirements of UL 1459, Second Edition, Section 25A<br />

of the Underwriters Laboratories Inc. (UL) (UL-File-No. E169721).<br />

freig.: Sta.<br />

released<br />

Copying of this document, disclosing it to third parties or using the contents there for any<br />

purposes without express written authorization by use illegally forbidden.<br />

Any offenders are liable to pay all relevant damages.

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