pdf-Katalog - IMMS Institut für Mikroelektronik

19. Programmierung von Deembedding-Verfahren für die HF-Charakterisierung
Betreuer: Dr.-Ing. Uwe Baumann (uwe.baumann@imms.de)
Auf Grundlage bestehender Verfahren sollen neuartige Methoden zur Berechnung der inneren HF-Ei-
genschaften von verlustbehafteten komplexen Halbleiterstrukturen programmiert und erprobt werden.
Vorausgesetzte Kenntnisse
Dauer
• Programmiererfahrung
• Grundkenntnisse der elektrischen Messtechnik
• Nach Vereinbarung
20. Anwendungsspezifische Konfigurationen von PXI–Testplattformen zur
Qualitätssicherung in der Halbleiterindustrie
Betreuer: Dipl.-Ing. Alexander Rolapp (alexander.rolapp@imms.de)
Für Charakterisierung und Test integrierter Schaltungen sollen Zusatzbaugruppen entwickelt werden, die
in PXI-Testsystemen des IMMS eingesetzt werden.
Testverfahren sind auszuwählen, das Schaltungskonzept in Form einer Leiterkarte(n) hardwaremäßig zu
realisieren und die Funktion mittels Testprogramm zu untersuchen.
Vorausgesetzte Kenntnisse
Dauer
• Grundlagen der Schaltungstechnik
• Grundlagen PCB-Layout
• Grundlagen Programmierung
• Nach Vereinbarung
21. Charakterisierung und Test von embeded Memories auf PXI-Testplattformen
Betreuer: Dipl.-Ing. Ingo Gryl (ingo.gryl@imms.de)
Für Charakterisierung und Test von eingebetteten Memories in integrierten Schaltungen soll eine Soft-
warebibliothek entstehen, die die Prüffolgen der Memory-Architektur automatisch anpasst. Dabei soll
ein hoher Wiederverwendungsgrad erzielt werden. Die Funktion soll an verschiedenen Typen von Memo-
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