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原子力显微镜简介 - 中国科学院物理研究所

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国家自然科学基金委员会<br />

数理学部实验物理讲习班<br />

<strong>原子力显微镜简介</strong><br />

杨 延 莲<br />

国家纳米科学中心<br />

2007.3.30


国家自然科学基金委员会<br />

数理学部实验物理讲习班<br />

1. 原子力显微镜的发展历史<br />

2. 原子力显微镜的基本原理<br />

3. 原子力显微镜的要素<br />

4. 原子力显微镜的操作模式<br />

5. 原子力显微镜的针尖卷积效应与图像假像<br />

6. 原子力显微镜的应用进展<br />

• 三维扫描控制<br />

• 控制电路<br />

• 振荡隔离系统<br />

• 微悬臂形变检测方法<br />

• 微悬臂的设计思想及制作方法<br />

• 基本成像模式<br />

• 派生成像模式<br />

• 谱学模式


国家自然科学基金委员会<br />

数理学部实验物理讲习班<br />

原子力显微镜的发展历史


国家自然科学基金委员会<br />

数理学部实验物理讲习班<br />

m<br />

10 -3<br />

10 -6<br />

10 -9<br />

mm<br />

μm<br />

nm<br />

肉眼可见<br />

光学显微镜<br />

扫描电镜<br />

扫描探针显微镜


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数理学部实验物理讲习班<br />

扫描隧道显微镜(STM)的发明和原理<br />

1982年,IBM苏黎世实验室的G. Binnig博士<br />

和H. Rohrer博士及其同事们发明了STM<br />

扫<br />

描<br />

示<br />

意<br />

图<br />

一<br />

次<br />

扫<br />

描<br />

Z<br />

扫描<br />

I<br />

I<br />

扫描<br />

I


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数理学部实验物理讲习班<br />

氙原子在镍(110)表面<br />

排成的最小IBM商标<br />

铁原子在铜(111)表面<br />

排成的汉字<br />

铂表面上一氧化碳分子<br />

排成的“纳米人”<br />

铜(111)表面上的铁原子量子围栏<br />

搬走原子写“中国”


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数理学部实验物理讲习班<br />

原子力显微镜(AFM)的发明<br />

由于STM是利用隧道电流进行表面形貌及表面电子结构性质<br />

的研究,所以只能直接对导体和半导体样品进行研究,不能<br />

用来直接观察和研究绝缘体样品和有较厚氧化层的样品。<br />

1986年Binnig、Quate和Gerber发明了第一台原子力显<br />

微镜<br />

1987年Quate等人获得了高定向热解石墨(HOPG)的<br />

高分辨原子图像<br />

1987年, Quate等人获得了高定向热解氮化硼<br />

(HOPBN)表面的高分辨原子图像,其中HOPBN是第一个<br />

用AFM获得原子分辨图像的绝缘体。


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数理学部实验物理讲习班<br />

原子力显微镜的派生功能<br />

摩擦力显微镜(FFM)<br />

磁力显微镜(MFM)<br />

导电AFM(CAFM)<br />

静电力显微镜(EFM )<br />

表面电势成像(SP imaging)<br />

扫描电化学显微镜(SECM)<br />

扫描电容显微镜(SCM)<br />

扫描热显微镜(SThM)<br />

这些新型的显微镜,都利用了反馈回路通过针尖和样品的某种作<br />

用(光、电、热、磁、力等)来控制针尖在距表面一定距离处扫<br />

描,从而获得表面的各种信息。


国家自然科学基金委员会<br />

数理学部实验物理讲习班<br />

原子力显微镜的基本原理


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数理学部实验物理讲习班<br />

AFM利用的基本原理<br />

在原子力显微镜的系统中,是<br />

利用微小探针与待测物之间的<br />

相互作用力,来研究待测物表<br />

面的形貌和物理化学特性。<br />

间歇接触<br />

有几种典型的相互作用<br />

力可以作为AFM的检测<br />

信号:范德华力,静电<br />

力、磁力等


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数理学部实验物理讲习班<br />

扫<br />

描<br />

示<br />

意<br />

图<br />

Z<br />

恒力和恒高扫描成像<br />

恒力扫描 恒高扫描<br />

F


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数理学部实验物理讲习班<br />

针尖和样品之间的力F<br />

与微悬臂的形变Δz<br />

F=k·Δz<br />

显示器<br />

计算机和反馈控制<br />

原子力显微镜的工作原理<br />

检测器<br />

X<br />

激光<br />

Z<br />

Y<br />

针尖与微悬臂<br />

样品<br />

压电陶瓷扫描管


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数理学部实验物理讲习班<br />

原子力显微镜的要素


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数理学部实验物理讲习班<br />

三维扫描控制<br />

所谓压电效应是指某些晶体材料在受到机械力作用发生形变时,<br />

会产生电场,或给晶体加一电场时,会产生物理形变的现象。<br />

PZT压电陶瓷能简单地将1mV~1000V的电压信号转换成十几分之一<br />

纳米到数微米的机械位移,完全满足SPM三维扫描控制精度的要求<br />

压电三脚架<br />

双层压电晶<br />

片驱动的三<br />

脚架结构<br />

压电陶瓷管<br />

微加工的压电驱<br />

动器,可进行纵<br />

向、横向、垂直<br />

弯曲及扭转运动


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控制电路<br />

接触模式 非接触模式<br />

间歇接触模式


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振动隔离系统<br />

振动源:<br />

建筑物振动(10-100Hz)<br />

通风管道、变压器和马达(6-65Hz)<br />

人走动(1-3Hz)<br />

声音等<br />

减震系统的设计:<br />

1-100Hz之间的振动<br />

提高仪器的固有振动频率和使用振动阻尼系统<br />

AFM刚性的结构设计:尽可能高的共振频率fs。刚性越大,对<br />

外部减震系统的要求就越低,因为由刚体的固有结构阻尼产生<br />

的滞后损失可以有效地散逸外界振动。<br />

振动隔离系统:固有频率越低,振动隔离效果越好。<br />

•弹簧-阻尼系统<br />

•平板-弹性体堆垛系统<br />

•充气平台


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数理学部实验物理讲习班<br />

微悬臂形变检测方法<br />

针尖和样品之间的力F与微悬臂的形变Δz<br />

F=k·Δz , 其中,k为微悬臂的力常数<br />

1. 隧道电流检测法<br />

2. 电容检测法<br />

3. 光学干涉法<br />

4. 光束偏转法<br />

分辨率 信噪比<br />

隧道电流 高,Z向0.01nm 低 针尖的污染,热振动、热漂移<br />

电容法 高,Z向0.01nm 低<br />

光学干涉法 高,z向0.001nm 高<br />

光束偏转法 较高,z向0.003nm 高<br />

抗噪音水平低<br />

灵敏度和信噪比都高,设备复杂<br />

自由<br />

排斥<br />

吸引<br />

原理和技术简单,精度也较高,适用<br />

范围广


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数理学部实验物理讲习班<br />

微悬臂的设计--分辨率和噪音水平<br />

•很小的力常数一般为0.01~100 N/m<br />

微悬臂变形量的检测灵敏度可以达到nm量级,这样针尖与样品之<br />

间零点几个纳牛顿(nN)作用力的变化就可以被检测到<br />

•共振频率必须足够高,减小振动和声波的干扰 ( >10kHz)<br />

•微悬臂的长度要短,质量要小,以满足低力常数和高共振频率的<br />

2 0.<br />

314EI<br />

2<br />

要求<br />

f = 4<br />

L ρS<br />

k = k = 9. 57ρLSf<br />

= 9.<br />

57Mf<br />

•微悬臂要有较高的横向刚性<br />

3EI<br />

3<br />

L<br />

•非固定端带有一个纵横比较高的尖锐针尖<br />

•光学偏转法检测微悬臂位移的仪器,要求微悬臂的背面有平滑的<br />

光学反射面<br />

2


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微悬臂的制作


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各种微悬臂


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SPM仪器的结构


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原子力显微镜的操作模式


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AFM的分类<br />

接触式原子力显微镜(contact AFM):利用原子<br />

斥力的变化而产生表面轮廓。<br />

非接触式原子力显微镜(non-contact AFM):利<br />

用原子吸引力的变化而产生表面轮廓。<br />

间歇接触模式原子力显微镜(Intermittent-Contact<br />

AFM):是接触与非接触两种模式的混合。


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数理学部实验物理讲习班<br />

原子力显微镜的常见的几种操作模式<br />

接触式AFM可能获得原子分辨图像。<br />

由于表面摩擦和粘滞可能会有假象。<br />

可能会使表面变形,针尖容易磨损钝化。<br />

非接触式AFM一般是频率调制或者是相位调制,分辨率<br />

更高。<br />

操作复杂,环境噪声干扰大,一般在真空中能够实现。<br />

间歇接触模式AFM,可对软样品成像,由剪切力引起的<br />

分辨率的降低和对样品的破坏几乎消失 。<br />

克服了室温大气环境下大多数样品表面上薄液层 的粘滞<br />

(Tapping,Dynamic AFM,MAC mode,Non-contact mode)


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间歇接触式原子力显微镜<br />

自由振荡 表面接触<br />

振幅,频率,相位,微悬臂的偏转


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数理学部实验物理讲习班<br />

如组分、粘滞力、摩<br />

擦力、粘弹性、电、<br />

磁等性质的信息<br />

相位成像<br />

相位敏感<br />

J. P. Rabe, Adv. Mater. 1998, 10, 793.<br />

短程的相互作用包括<br />

粘滞力和摩擦力<br />

长程的相互作用包括<br />

电场力和磁场力。


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数理学部实验物理讲习班<br />

静电力显微镜成像<br />

Paul L. McEuen,PRL,2000,84,6082<br />

探测样品的表面电荷,表面电势,界面电势分布、器件失效分析等


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磁力显微镜成像<br />

h<br />

h<br />

抬高扫描轨迹<br />

主扫描轨迹<br />

磁盘


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摩擦力显微镜


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原子力显微镜的动态横向力模式<br />

TRmode<br />

LM-FFM<br />

样品平面内纳米尺度的各向异性特征<br />

也可以与纵向的磁力、静电力等表征结合互相补充


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数理学部实验物理讲习班<br />

Deflection<br />

3<br />

Touching<br />

3<br />

4<br />

2<br />

4<br />

2<br />

5<br />

Z Displacement<br />

力曲线的测量<br />

6<br />

5<br />

6<br />

Adhesion<br />

Nontouching<br />

1<br />

接触形变问题<br />

力常数测定问题


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接触形变


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接触形变理论—(1)Hertz理论


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(2)JKRS模型(Johnson-Kendall-<br />

Roberts-Sperling model)<br />

假设:1)短程表面(粘附)力存在,但只作用于接触面积处。<br />

2)允许局域变形/neck的形成。<br />

)


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数理学部实验物理讲习班<br />

(3)DMT模型(Derjaguin-Muller-Toporov model)<br />

假设:1)表面力存在,并可波及接触面积之外的有限区域<br />

2)属于Hertzian形变,在界面处不形成neck。


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1<br />

AFM微悬臂力常数(k)的测定<br />

几何尺寸计算法<br />

k =<br />

Ebt<br />

4L<br />

Hooke定律: F = kΔz<br />

• E为微悬臂的杨氏模量,b为微<br />

悬臂的宽度,t为微悬臂的厚<br />

度,L为微悬臂的长度<br />

• 三角微悬臂近似为两根平行的<br />

长方形梁<br />

3<br />

3<br />

2<br />

共振频率测定法<br />

ω =<br />

M<br />

k<br />

+<br />

m<br />

M为微悬臂本身的固有质量,<br />

m*为固定于微悬臂顶端的胶粒<br />

的重量<br />

*


2<br />

0<br />

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3<br />

AFM微悬臂力常数(k)的测定<br />

偏移平衡位移<br />

ΔZ<br />

在温度为T时,<br />

1 2 2 1<br />

mw0 q = k BT<br />

2 2<br />

4 热噪声谱<br />

2<br />

p 1 2<br />

H = + mω<br />

0 q<br />

2m<br />

2<br />

q为谐振子偏离平衡位置的<br />

位移,p为谐振子的动量,<br />

m为谐振子的等效质量,为<br />

谐振子的共振角频率<br />

一谐振子,弹性常数k和共振频率满足k=mω 0 2<br />

k<br />

=<br />

k<br />

B<br />

T<br />

q<br />

2<br />

2


Count<br />

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数理学部实验物理讲习班<br />

25<br />

20<br />

15<br />

10<br />

5<br />

0<br />

利用针尖化学方法研究各种相互作用<br />

-5 0 5 10 15 20 25 30 35 40<br />

Deflection/nm<br />

Adhesion Force<br />

高斯统计<br />

粘附力的高斯统计。<br />

取最可几值。<br />

每次针尖与样品接触时,成键分子数可能不同,<br />

因此测得的力并不一定相同。<br />

力滴定曲线


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数理学部实验物理讲习班<br />

利用针尖化学方法研究各种相互作用<br />

范德华力、双电层力、氢键、<br />

化学键、配受体作用、DNA双螺<br />

旋的互补作用、细胞间的粘附力等。<br />

键能、结合能测定<br />

分子识别<br />

生物体系中的相互作用<br />

蛋白质变性


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原子力显微镜的针尖卷积效应与图像假像


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针尖去卷积<br />

R<br />

W/2<br />

硬球几何模型<br />

H


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AFM横向分辨率:针尖形状,像素数


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针尖污染<br />

多针尖<br />

AFM图像的假像<br />

针尖不能跟踪表面<br />

扫描管非线形


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原子力显微镜的应用进展


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HOPG<br />

FM-AFM的原子和亚原子分辨<br />

KCl<br />

Yamada, APL 2005<br />

Si<br />

Franz J. Giessibl, PNAS 2003, 100, 12539<br />

Franz J. Giessibl, Science, 2000,289, 422


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相位调制AFM<br />

In AM-AFM, detection signalΔA.<br />

both conservative and dissipative interaction forces, topographic artifacts.<br />

The time response of A becomes slower with increasing Q factor.<br />

In FM-AFM, detection signalΔf<br />

the time response of f is not influenced by the Q factor.<br />

capable of measuring the conservative and dissipative interaction forces<br />

independently.<br />

A stable self excitation requires a clean cantilever deflection signal and, hence, can<br />

be disrupted by the occasional tip crash or adhesion.<br />

In PM-AFM, detection signalΔf<br />

Stable imaging even with the occasional tip crash or adhesion to the surface. time<br />

response is not influenced by the Q Factor<br />

Capability of imaging atomic-scale features of mica in water.<br />

Rev. Sci. Instru, 2006,77,123703


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AFM of bacterial surface layers<br />

AFM image of the S-layer of Bacillus sphaericus CCM2177 imaged<br />

in contact mode under water. The center-to-center spacing of<br />

the morphological units is 13.1nm.


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数理学部实验物理讲习班


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单分子力谱<br />

Gaub,Science paper


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硅(111)面上的氧化硅纳米柱<br />

阵列⎯AFM纳米氧化刻蚀技术<br />

Au-Pd合金上刻写的世界上最小的<br />

唐诗(10 µm ×10 µm )<br />

-----AFM机械刻蚀技术<br />

石墨上的金纳米点阵列(2 µm<br />

×2 µm ) ----AFM场致蒸发技术<br />

Si表面氧化加工


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Dip-Pen纳米加工技术


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数理学部实验物理讲习班<br />

多探针AFM<br />

Millipede


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AFM刻蚀与加工<br />

AFM机械、热、电磁加工


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数理学部实验物理讲习班<br />

AFM操纵


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导电AFM在分子电子学中的应用<br />

Cui et al., Science,2001,294,571


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参考文献和书目<br />

1. Binnig, G.; Quate, C. F.; Gerber, C. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 930.<br />

2. Binnig, G.; Gerber, C.; Stoll, E.; Albrecht, T. R.; Quate, C. F.<br />

Europhys. Lett. 1987, 3, 1281.<br />

3. Albrecht, T. R.; Quate, C. F. J. Appl. Phys. 1987, 62, 2599.<br />

4. F. J. Giessibl Rev. Mod. Phys., 2003 75, 949<br />

5. Garcia R., Perez R. Surf. Sci. Report,2002,47,197<br />

6. 扫描隧道显微学引论,陈成钧著,华中一,朱昂如,金晓峰译,<br />

1996,中国轻工业出版社,北京.<br />

7. 扫描隧道显微术及其应用,白春礼编著,1994,上海科学技术出版<br />

社,上海.<br />

8. 扫描力显微术,白春礼,田芳,罗克著,2000,科学出版社,北京.<br />

9. 纳米材料分析,黄惠忠等编著,2003,化学工业出版社,北京.<br />

10.Single Molecule Chemistry and Physics: An Introduction,王琛,<br />

白春礼著,2006 ,Springer, Berlin.


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