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SISTEMA CMT FS - ANALISI RAM PRELIMINARE Codifica: DI ... - Rfi

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<strong>SISTEMA</strong> <strong>CMT</strong> <strong>FS</strong> – <strong>ANALISI</strong> <strong>RAM</strong> <strong>PRELIMINARE</strong>S<strong>CMT</strong> – VOL 1 – APPEN<strong>DI</strong>CE G <strong>Codifica</strong>: <strong>DI</strong> TC PATC ST CM 01 M02 BFOGLIO34 di 538.1.2.3.2 Indici di affidabilità per linea non banalizzata a doppio binario senza BAccConsiderando le caratteristiche dello scenario di riferimento descritte nel § 7.1.2.2, tenutoconto dei PI anche sui binari di precedenza e ricordando l’ipotesi penalizzante di assenza diappuntamenti, le condizioni espresse in termini di prestazioni attese sono:• Mediamente non più di un guasto grave ogni 107 giorni cioè x 2 = 2568 h.• Mediamente non più di un guasto maggiore ogni 62 giorni cioè x 1 = 1488 h.• Mediamente non più di un guasto qualunque ogni 22 giorni cioè w = 528 h.La tabella seguente riassume i valori di MTBF ed indica i tassi di guasto ricavati dalledefinizioni riportate nel § 8.1.2.1.5:Indici di affidabilità per il SSTValore(linea a s.b. senza BAcc)λ di missione per guasto grave (λ ST_miss_2 ) 3,89 10 -4 h -1λ di missione per guasto maggiore (λ ST_miss_1 ) 6,72 10 -4 h -1λ di base (λ ST_base ) 1,89 10 -3 h -1MTBF di missione per guasto grave (MTBF ST_miss_2 )MTBF di missione per guasto maggiore (MTBF ST_miss_1 )MTBF di base (MTBF ST_base )2568 h1488 h528 hTabella 23 – Indici di affidabilità del SST di una linea di 150 km a d.b. non banalizzata senza BAcc

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