TỔNG HỢP VÀ BIẾN TÍNH g-C3N4 THEO HƯỚNG TĂNG HOẠT TÍNH XÚC TÁC QUANG TRONG VÙNG ÁNH SÁNG KHẢ KIẾN
LINK DOCS.GOOGLE: https://drive.google.com/file/d/0B_NNtKpVZTUYX1NLeTJjQllnZnc/view?usp=sharing
LINK DOCS.GOOGLE:
https://drive.google.com/file/d/0B_NNtKpVZTUYX1NLeTJjQllnZnc/view?usp=sharing
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
www.twitter.com/daykemquynhon<br />
www.google.com/+DạyKèmQuyNhơn<br />
www.facebook.com/daykem.quynhon<br />
www.daykemquynhon.blogspot.com<br />
www.daykemquynhon.ucoz.com<br />
Produced by Nguyen Thanh Tu<br />
Nguyên tắc: Theo lý thuyết cấu tạo tinh thể, mạng tinh thể được xây dựng từ<br />
các nguyên tử hay ion phân bố đều đặn trong không gian theo một trật tự nhất định.<br />
Khi chùm tia X tới bề mặt tinh thể và đi sâu vào bên trong mạng lưới tinh thể thì<br />
mạng lưới này đóng vai trò như một cách tử nhiễu xạ đặc biệt. Các nguyên tử, ion bị<br />
kích thích bởi chùm tia X sẽ thành các tâm phát ra các tia phản xạ. Mặt khác, các<br />
nguyên tử, ion này được phân bố trên các mặt phẳng song song.<br />
Mối liên hệ giữa độ dài khoảng cách hai mặt phẳng song song (d), góc giữa<br />
chùm tia X và mặt phẳng phản xạ (θ) và bước sóng ( λ ) được biểu thị bằng hệ<br />
phương trình Vulf- Bragg: 2dsinθ = nλ<br />
Trong đó:<br />
n: bậc nhiễu xạ<br />
λ: Bước sóng của tia Rơnghen<br />
d: khoảng cách giữa các mặt tinh thể<br />
θ: góc nhiễu xạ<br />
Phương trình Vulf- Bragg là phương trình cơ bản nghiên cứu cấu trúc tinh thể.<br />
Từ hệ thức Vulf- Bragg có thể nhận thấy góc phản xạ tỉ lệ nghịch với d hay<br />
khoảng cách giữa hai nút mạng. Đối với vật liệu vi mao quản khoảng cách hai lớp cỡ<br />
vài chục nguyên tử nên góc quét 2θ thường > 5 độ, tuy nhiên đối với vật liệu MQTB<br />
kích thước > 20Å nên góc quét 2θ thường từ 0,5 0 trở lên.<br />
Thực nghiệm: Phổ nhiễu xạ tia X của các mẫu được đo trên nhiễu xạ kế<br />
Brucker D8 Advance với ống phát tia X của Cu có bước sóng λ (CuKα) = 1,5406 Å,<br />
công suất 40 kV, dòng 40 mA. Góc quét từ 5 0 đến 60 o . Góc mỗi bước quét là 0,008 o<br />
và thời gian mỗi bước quét 0,6 giây. Các phép đo được thực hiện tại phòng Thí<br />
nghiệm phân tích, khoa Hóa học, Đại học Khoa học Tự nhiên, Đại học Quốc gia Hà<br />
Nội.<br />
2.2.2. Phương pháp hiển vi điện tử quét (SEM)<br />
Kính hiển vi điện tử quét (tiếng Anh: Scanning Electron Microscopy, thường<br />
viết tắt là SEM), là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phân giải cao<br />
của bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử (chùm các electron) hẹp<br />
quét trên bề mặt mẫu. Việc tạo ảnh của mẫu vật được thực hiện thông qua việc ghi<br />
nhận và phân tích các bức xạ phát ra từ tương tác của chùm điện tử với bề mặt mẫu<br />
vật.<br />
Nguyên lí hoạt động và sự tạo ảnh trong SEM như sau:<br />
DIỄN ĐÀN TOÁN - LÍ - HÓA 1000B TRẦN HƯNG ĐẠO TP.QUY NHƠN<br />
Sưu tầm bởi GV. Nguyễn Thanh Tú<br />
www.facebook.com/daykemquynhonofficial<br />
www.facebook.com/boiduonghoahocquynhonofficial
Change language