teknik_pemeliharaan_dan_sistem_perbaikan_elektr.. - Bursa Open ...

More documents

Recommendations

Info

Prinsip Pelacakan Kerusakan / Kegagalan Vcc VRC drops Short Short Daniel L. Metzger, 1981, 465 Gambar 2.56(d): Jika transistor dihentikan pemberian bias-nya dan VC = VCC, resistor ditambahkan dari VCC ke basis untuk mengonkan transistor . Hitung R untuk memastikan bahwa IB< 1 mA untuk sinyal yang kecil dan IB< 100 mA untuk transistor daya. Penambahan RB menyebabkan VC turun. Short 1 Vcc Short 2 Daniel L. Metzger, 1981, 465 1. Rise 2.Drop Gambar 2.56(f): Pada rangkaian transistor aktif, sinyal kolektor terbalik dari sinyal basis walau pun distorsi. Jika penurunan tegangan kolektor ketika tegangan basis naik, dan sebaliknya, pada dasarnya transistor berfungsi. Gambar 2.56(c): Jika dua transistor diparalel, kedua-duanya harus dioffkan untuk mengamati turunnya VRC. Small Signal Vcc RB = 1mA High power Vcc = 100mA Daniel L. Metzger, 1981, 465 Gambar 2.56(e): Jika basis diatur secara langsung oleh transistor, maka diperlukan meng-off-kan Q1 sebelum Q2 dapat diuji oleh metoda ( a) atau ( d). 100Ω 1 Vp-p 0. 1µ F RB Daniel L. Metzger, 1981, 465 Vcc Vcc RC VCE drops Sedangkan pengetesan transistor tanpa bias dapat dilihat pada BAB 4 RB 78
Prinsip Pelacakan Kerusakan / Kegagalan 2.6.3. FET ● Kerusakan FET seringkali ditandai dengan adanya tegangan gate yang tidak normal. Pentrigeran gate ditentukan dari jaringan resistif yang sederhana dan tegangan yang diharapkan dapat dihitung, karena untuk FET yang baik memiliki IG = 0 (arus pada gate = 0), seperti yang ditunjukkan pada Gambar 2.57. Jangan lupa efek beban pada meter. Deviasi yang besar dari VG yang diinginkan menunjukkan arus gate mengalir. Jika FET tersebut merupakan FET insulated-gate, itu artinya FET tersebut rusak. Hal itu terjadi jika sambungan pada FET rusak, atau diberi trigger maju pada gatesource. Periksa tegangan VGS 0.6V. 10ΜΩ Rin = 10ΜΩ 10ΜΩ +20 V 15 V dc +18 V 5ΜΩ VG = 18 V = 6V 15ΜΩ VG 0f 15V-shorted gate IG Daniel L. Metzger, 1981, 468 Gambar 2.57: Pengetesan FET ● Tes beda phase dapat digunakan Gambar 2.56 (f) . ● Junction FET dapat dites diluar rangkaian dengan ohm meter antara gate dan source (R kecil pada satu polaritas dan R besar jika sebaliknya). Dengan menghubung singkat kan gate-source, resistansi beberapa ratus ohm antara drain-source, polaritas manapun. ● FET insulated-gate dapat diperiksa untuk substratesource dan untuk resistansi gatesource. Resistansi drainsource (gate dihubungkan ke source) harus berkisar dari beberapa ratus ohm untuk jenis depletion dan tak hingga untuk jenis enhancement. 2.6.4. S C R ● SCR yang ON harus menunjukkan tegangan 0,1V hingga 1,5V antara anoda dan katodanya atau ketika konduksi anoda-katoda positif. SCR rusak hubung singkat bila tegangannya mendekati nol. ● VGK seharusnya tidak pernah di atas +1,2V saat ada tegangan kerja. Jika terjadi, berarti gate rusak terbuka. ● Terjadinya hubung singkat antara gate-katoda menyebabkan SCR tetap ditrigger, melewatkan tegangan positif dari anoda-katoda seperti pada gambar 2.58. Jika tegangan positif tidak muncul saat diberi sinyal sinus antara anoda dan katodanya, berarti beban terbuka atau SCR yang hubung singkat. 79
Page 2 and 3:
Peni Handayani, dkk. TEKNIK PEMELIH
Page 4 and 5:
KATA SAMBUTAN Puji syukur kami panj
Page 6 and 7:
DAFTAR ISI KATA PENGANTAR ………
Page 8 and 9:
PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, KESEHATAN
Page 10 and 11:
Page 12 and 13:
Page 14 and 15:
Page 16 and 17:
Page 18 and 19:
Page 20 and 21:
Page 22 and 23:
Page 24 and 25:
Page 26 and 27:
PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 1.5. Ke
Page 28 and 29:
PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 1.5.3.
Page 30 and 31:
PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 2). Ala
Page 32 and 33:
PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 Tindaka
Page 34 and 35:
PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 (g). Ta
Page 36 and 37: PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 . Helm
Page 38 and 39: PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 • Unt
Page 40: PEMELIHARAAN, PERBAIKAN, K3 Saran:
Page 43 and 44: Prinsip Pelacakan Kerusakan / Kegag
Page 85: Prinsip Pelacakan Kerusakan / Kegag
Page 97 and 98: Mengenali Kerusakan Komponen Elektr
Page 123 and 124: PELACAKAN KERUSAKAN PADA MOTOR DAN
Page 137 and 138:
PELACAKAN KERUSAKAN PADA MOTOR DAN
Page 139 and 140:
Page 141 and 142:
Page 143 and 144:
Page 145 and 146:
Page 147 and 148:
Page 149 and 150:
Page 151 and 152:
Page 153 and 154:
Page 155 and 156:
DAFTAR PUSTAKA LAMPIRAN A: 1. Alber
Page 157 and 158:
Daftar Vendor dan CMMS LAMPIRAN : B
Page 159 and 160:
Vendor : Arthur Anderson &Co. Addre
Page 161 and 162:
Independence, MO 64055 Phone : 816-
Page 163 and 164:
LAMPIRAN : B Operating System : IBM
Page 165 and 166:
LAMPIRAN : B Phone : 714-565-9166 S
Page 167 and 168:
System Description : Engineering Sp
Page 169 and 170:
Vendor : General Physics Corporatio
Page 171 and 172:
Planning System LAMPIRAN : B Vendor
Page 173 and 174:
Edeen Prairie, MN 55344 Phone : 612
Page 175 and 176:
Labor Reporting Management Control
Page 177 and 178:
Vendor : NUS Operating Service Corp
Page 179 and 180:
Multiple Steps and Work Type Work O
Page 181 and 182:
Vendor : The Stanwick Corporation A
Page 183 and 184:
Address : 39 Old Ridgebury Road Dan
Page 185 and 186:
LAMPIRAN : C NO DAFTAR TABEL JUDUL
Page 187 and 188:
2.13 Pemeliharaan yang Terprogram 2
Page 189 and 190:
3.21 Rangkaian untuk Mengukur Hfe 3
Page 191 and 192:
5.28 Letakkan Probe pada Keluaran G
Page 193 and 194:
6.54 Kondisi C3 Terbuka 6.55 Kondis
Page 195 and 196:
7.15 Gunakan Manual Book yang Benar
Page 197 and 198:
11.9 d. Modul Output Relay Gambar P
Page 199:
RIWAYAT PENULIS LAMPIRAN : E Sejak
show all

teknik_pemeliharaan_dan_sistem_perbaikan_elektr.. - Bursa Open ...

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

Delete template?

Save as template?