Studio di fotodiodi a valanga per il calorimetro CMS al LHC del CERN"
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R<br />
ide<strong>al</strong>e<br />
re<strong>al</strong>e<br />
λ=E g<br />
λ<br />
Figura 2.6: Caratteristica risposta <strong>del</strong> foto<strong>di</strong>odo PIN, in funzione <strong>del</strong>la lunghezza d'onda,<br />
<strong>per</strong> un v<strong>al</strong>ore costante <strong>di</strong> energia incidente. La curva tratteggiata in<strong>di</strong>ca lo scostamento d<strong>al</strong>le<br />
con<strong>di</strong>zioni ide<strong>al</strong>i.<br />
Denendo n i la concentrazione <strong>di</strong> carica, cioe <strong>il</strong>numero <strong>di</strong> elettroni presente in banda<br />
<strong>di</strong> conduzione, ed essendo questa proporzion<strong>al</strong>e a e , Eg<br />
2KT , si ottiene che la corrente<br />
<strong>di</strong> <strong>di</strong>usione e proporzion<strong>al</strong>e a n 2 i , mentre la corrente <strong>di</strong> generazione e proporzion<strong>al</strong>e<br />
a n i . Questo signica che la corrente <strong>di</strong> <strong>di</strong>usione avra una piu forte <strong>di</strong>pendenza<br />
d<strong>al</strong>l'ampiezza <strong>di</strong> banda e d<strong>al</strong>la tem<strong>per</strong>atura rispetto <strong>al</strong>la corrente <strong>di</strong> generazione. Il<br />
termine <strong>di</strong> generazione <strong>di</strong>venta quin<strong>di</strong> preponderante solo a basse tem<strong>per</strong>ature dove<br />
I D e proporzion<strong>al</strong>e a p V bias , poiche l'ampiezza <strong>del</strong>la regione <strong>di</strong> svuotamento ha la<br />
medesima <strong>di</strong>pendenza d<strong>al</strong>la tensione <strong>di</strong> <strong>al</strong>imentazione. Ad <strong>al</strong>ta tem<strong>per</strong>atura questa<br />
corrente tende a saturare, ed <strong>il</strong> termine <strong>di</strong> <strong>di</strong>usione <strong>di</strong>venta dominante.<br />
Scomparsa quin<strong>di</strong> la <strong>di</strong>pendenza da n 2 i <strong>il</strong> v<strong>al</strong>ore <strong>del</strong>la corrente oscura aumenta<br />
rapidamente <strong>al</strong> crescere <strong>del</strong>la tem<strong>per</strong>atura (ve<strong>di</strong> gura 2.7).<br />
2.3.3.4 Nuclear Counter Eect<br />
Un notevole limite applicativo <strong>del</strong> <strong>di</strong>odo PIN e rappresentato d<strong>al</strong> Nuclear<br />
Counter Eect (NCE). Si tratta <strong>del</strong> segn<strong>al</strong>e prodotto da particelle cariche che<br />
attraversano <strong>il</strong> foto<strong>di</strong>odo, provocando una ionizzazione <strong>del</strong> mezzo. In uno spessore<br />
<strong>di</strong> s<strong>il</strong>icio x si generano coppie elettrone-lacuna secondo la seguente legge [16]:<br />
dove:<br />
dn<br />
dx = dE<br />
dx 1<br />
E e=l<br />
' 100 e=l coppie=m: (2.9)<br />
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