Ausgabe 123 (September 11)
Ausgabe 123 (September 11)
Ausgabe 123 (September 11)
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
Termine<br />
QcM-D: europäisches Anwendertreffen<br />
am 14. und 15.9. 20<strong>11</strong> in Bensheim<br />
Q-Sense lädt zum europäischen<br />
Anwendertreffen ein, das in diesem<br />
Jahr in Deutschland, genauer in<br />
Bensheim an der Bergstrasse, stattfindet.<br />
Der erste Tag ist für Vorträge<br />
rund um das Thema „Quartz Crystal<br />
Microbalance with Dissipation monitoring<br />
(QCM-D)“ reserviert. Die Liste<br />
der eingeladenen Redner umfasst:<br />
Ralf Richter, CIC BiomaGUNE, San<br />
Sebastian (chair): “Biomolecular hydrogels<br />
– Combining QCM-D, ellipsometry<br />
and imaging techniques for<br />
the detailed interrogation of very soft<br />
and hydrated surface-confined films.”<br />
Henk Busscher, Universität Groningen:<br />
“Interfacial re-arrangement in<br />
initial microbial adhesion to surfaces.”<br />
Tommy Nylander, Universität Lund:<br />
“QCM-D to reveal processes at biomembrane<br />
surfaces of relevance for<br />
drug delivery.” Pierre Schaaf, CNRS,<br />
Strasbourg: “From step-by-step construction<br />
to one pot film buildup”<br />
Erik Reimhult, BOKU, Institut für<br />
Nanobiotechnologie,Wien: “Presentation<br />
and hydration of biomimetic<br />
and non-fouling polymer surfaces.”<br />
Christof Wöll, KIT, Karlsruhe: “To be<br />
announced”.<br />
Der zweite Tag beinhaltet die Vorstellung<br />
neuer Q-Sense-Produkte und<br />
praktische Anwenderschulungen speziell<br />
für die Software QTools mit erfahrenen<br />
Wissenschaftlern.<br />
Wir freuen uns auf Ihre Anmeldung<br />
unter www.q-sense.com.<br />
Dr. raimund Sauter<br />
0 61 51 / 88 06-24<br />
sauter@lot-oriel.de<br />
Herbstseminare: ellipsometrie und Dünne Schichten<br />
Seminar: „Bestimmung mechanischer eigenschaften dünner Schichten“<br />
Information und Anmeldung unter: www.lot-oriel.com/seminar/mml<br />
Wir bieten vom 2. bis zum 4. November einen<br />
Kurs zur CompleteEASE-Soft ware an.<br />
Die Teilnehmer sollten über Erfahrung mit<br />
spektroski scher Ellipsometrie verfügen und<br />
Grundkenntnisse in der M-2000-Soft ware<br />
Am 15. November dieses Jahres<br />
planen wir unser inzwischen zur<br />
Tradition gewordenes Seminar zum<br />
Thema „Be stimmung mechanischer<br />
Eigen schaf ten dünner Schichten“.<br />
ellipsometrie-Seminar 20<strong>11</strong><br />
Information und Anmeldung unter: www.lot-oriel.com/seminar/ellipsometrie<br />
Am 31. Oktober veranstalten wir wieder<br />
unser jährliches Ellipsometrie-<br />
Seminar.<br />
CompleteEASE ha ben. Der Kurs ist unterteilt<br />
in verschie de ne Themenbereiche, u. a.<br />
transparen te und absorbierende Schichten,<br />
Oszil la tor modelle, Gradientschichten, sowie<br />
ei nem Kapitel zu In-situ-Messung.<br />
Ellipsometerexperten werden Vorträge<br />
präsentieren und Bei spiel auswertungen<br />
durchfüh ren. Die Teil nehmer haben die<br />
Mög lich keit, anhand von Beispieldaten mit<br />
dem eigenen Com puter zu modellieren.<br />
In an wendungsbezogenen Vorträgen<br />
und prak ti schen Vorführungen mit<br />
dem Nano Test-Sys tem werden Möglich<br />
keiten die ser Technik vorgestellt.<br />
completeeASe-Software-Trainingkurs: Auswertung ellipsometrischer Messdaten<br />
Information und Anmeldung unter: www.lot-oriel.com/completeeASe_course<br />
Ihre Ansprechpartner für diese<br />
drei Herbst-Seminare:<br />
Dr. Thomas Wagner<br />
0 61 51 / 88 06-68<br />
wagner@lot-oriel.de<br />
Katharina Seehöfer<br />
0 61 51 / 88 06-571<br />
seehoefer@lot-oriel.de<br />
10 SpecTruM <strong>123</strong> september 20<strong>11</strong>
Change language