Modulhandbuch - Institut für Erd- und Umweltwissenschaften
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Modulbezeichnung<br />
Verantwortlich<br />
BScW03 Mikroskopische Analytik von Mineralen <strong>und</strong> Gesteinen<br />
apl. Prof. Dr. U. Altenberger<br />
weitere beteiligte Lehrpersonen Dr. D. Spengler, Dr. C. Günter<br />
Semesterlage 3 oder 5<br />
Sprache<br />
Prüfung/Benotung<br />
Leistungspunkte (ECTS) 6<br />
Teilnehmerzahl 10<br />
Voraussetzungen<br />
Arbeitsaufwand<br />
Deutsch<br />
Klausur + Praktikumsbericht<br />
keine<br />
180 h Gesamtarbeitsaufwand (30 h x 6 LP = 180 h)<br />
56,25 h Vorlesungen <strong>und</strong> betreute Übungen (5 SWS, 3,75 h/Wo. in den 15 Wo.)<br />
33.75 h Std selbstständiges praktisches Üben<br />
30 h Wöchentliche Hausaufgaben<br />
15 Std. Klausurvorbereitung <strong>und</strong> Klausur<br />
45 h Anfertigen der praktischen Arbeit, incl. Bericht<br />
Lernziele<br />
Schlüsselkompetenzen<br />
Lehrinhalte<br />
Gr<strong>und</strong>lagen <strong>und</strong> Anwendung der polarisations- <strong>und</strong> rasterelektronemikroskopischen<br />
sowie Kathodolumineszenz-Analyse von Mineralen, Gesteinen <strong>und</strong> anderer Festkörper.<br />
Keine<br />
Gr<strong>und</strong>lagen der Kristalloptik <strong>und</strong> relevanten Kristallchemie. Gr<strong>und</strong>lagen der Polaristionsmikroskopie.<br />
Mikroskopie der gesteinsbildenden Minerale <strong>und</strong> wichtiger Gesteine<br />
sowie deren Gefüge. Gr<strong>und</strong>lagen <strong>und</strong> Anwendung der Rasterelektronenmikroskopie<br />
inklusive elementdispersiver Analytik. Vorstellung weiterer Methoden<br />
zur Festkörperidentifizierung.<br />
Medienform (Lehrmaterial)<br />
Lehrbücher, Lehrveranstaltungsmaterialien auf der Internetseite der Lehrveranstaltung,<br />
Übungsblätter.<br />
Gr<strong>und</strong>legende Literatur Puhan, D., Anleitung zur Dünnschliffmikroskopie. Encke Verlag 2001.<br />
Gribble, C.D. and Hall, J.A., Optical Mineralogy. UCL Press.<br />
Ness, W., Introduction to Optical Mineralogy. Oxford Univ Press. 2003<br />
Eggert, F., Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse (mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop):<br />
Ein Handbuch für die Praxis. Books on demand. 2005
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