Massenspektrometer I. Einführung II. Versuchsaufbau
Massenspektrometer I. Einführung II. Versuchsaufbau
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Ein Meßfehler bei der Messung einer Spitze kommt nach Abb. Β 105 zustande, wenn Ionen eines<br />
benachbarten Bündels zusammen mit Ionen des gerade in den Austrittsspalt fallenden Bündels gemessen<br />
werden. Mißt man die dem Ionenstrom proportionale Höhe der registrierten Spitze genau in deren Mitte<br />
und läßt man zu, daß das benachbarte Bündel mit x % seiner Gesamtintensität zur Messung beiträgt, so<br />
darf der kleinste Abstand d min zweier Bündel, dem ein bestimmter Massenunterschied ∆m min entspricht.<br />
S b<br />
gleich der Summe<br />
A x<br />
sein, also für x % - Anteil: S A + b x = 2 d min , bzw. unter Zuhilfenahme der<br />
2 2<br />
Gleichung (2)<br />
d 2D <br />
dmin B x<br />
(3)<br />
Analoge Überlegungen gelten für die quantitative Ermittlung der Ionenhäufigkeit aus einer geschwärzten<br />
Linie auf einer Photoplatte. Für die Austrittsschlitzbreite S A ist dann die Weite des Photometerspaltes zu<br />
nehmen, die mit dem Photometer registrierte Spitzenhöhe ist dem Lichtstrom proportional, die<br />
Bündelbreite b x ist die Linienbreite auf der Photoplatte.<br />
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