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Massenspektrometer I. Einführung II. Versuchsaufbau

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Ein Meßfehler bei der Messung einer Spitze kommt nach Abb. Β 105 zustande, wenn Ionen eines<br />

benachbarten Bündels zusammen mit Ionen des gerade in den Austrittsspalt fallenden Bündels gemessen<br />

werden. Mißt man die dem Ionenstrom proportionale Höhe der registrierten Spitze genau in deren Mitte<br />

und läßt man zu, daß das benachbarte Bündel mit x % seiner Gesamtintensität zur Messung beiträgt, so<br />

darf der kleinste Abstand d min zweier Bündel, dem ein bestimmter Massenunterschied ∆m min entspricht.<br />

S b<br />

gleich der Summe<br />

A x<br />

sein, also für x % - Anteil: S A + b x = 2 d min , bzw. unter Zuhilfenahme der<br />

2 2<br />

Gleichung (2)<br />

d 2D <br />

dmin B x<br />

(3)<br />

Analoge Überlegungen gelten für die quantitative Ermittlung der Ionenhäufigkeit aus einer geschwärzten<br />

Linie auf einer Photoplatte. Für die Austrittsschlitzbreite S A ist dann die Weite des Photometerspaltes zu<br />

nehmen, die mit dem Photometer registrierte Spitzenhöhe ist dem Lichtstrom proportional, die<br />

Bündelbreite b x ist die Linienbreite auf der Photoplatte.<br />

14

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