Testen eingebetteter Systeme

Kapitel 3: Testtechniken für eingebettete Systemeelektrisch/elektronischen Komponente. Aufgrund von gesetzlichen Vorgaben bestehtLetztere aus zwei redundant geschalteten Subsystemen. Sollte Subsystem 1, ausfallenwird die Funktion vollständig von Subsystem 2 übernommen. Als Basisereignisse füreinen Systemausfall kommen u.a. Fehler bzw. Defekte im Bereich der Kabel in Frage.Aufgrund statistischer Untersuchungen in der Vergangenheit ist bekannt, dass an einemKabel mit einer Wahrscheinlichkeit von 1% innerhalb der nächsten 10 Jahre ein Defektauftritt. Die Fehlerquote bzgl. der Mechanik ergibt sich aus einem anderen Fehlerbaum.Andere Angaben ergeben sich analog.Abbildung 3: Fehlerbaum "Lenkung"Die quantitative Analyse des Fehlerbaums erfolgt auf Basis der Ausfallfunktion F. F(t)gibt die Wahrscheinlichkeit an, eine Funktionseinheit zu einem bestimmten Zeitpunktausgefallen anzutreffen. Die Ausfallfunktion für den Ausgang einer Und-Verknüpfungergibt sich aus dem Produkt der Ausfallfunktionen der n Eingänge:F ( t)=An∏i=1F ( t)i13