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Testen eingebetteter Systeme

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Kapitel 3: Testtechniken für eingebettete <strong>Systeme</strong>Die Ausfallfunktionen für den Ausgang einer Oder-Verknüpfung berechnet sich wiefolgt:F ( t)= 1−Damit ergibt sich für die Ausfallfunktion der obersten Oder-Verknüpfung des Beispielsfolgende Berechnung:FAAn∏i=1(1 − F ( t))(( 1−F )*( 1−F )) = 1−( 0,9 * 0,9534) ≈ 0,1420 14,20%=Ei1−4=Die Berechnungen besitzen allerdings nur Gültigkeit, wenn die miteinander verknüpftenEreignisse stochastisch unabhängig voneinander sind. Im Falle der Identitätverwendeter Ereignisse, d.h. ein Ereignis wird mehrfach als Basisereignis einesFehlerbaums angegeben, liegt eine spezielle Form der stochastischen Abhängigkeit vor.Diese lässt sich unter Anwendung der de Morgan’schen-Regeln auflösen, in dem derFehlerbaum so umgeformt wird, dass jedes Basisereignis maximal einmal imFehlerbaum vorkommt.3.1.3 Markov-AnalyseDie Markov-Analyse [FG04d] [Li02] [Si04] ist ebenfalls eine Technik für dieSicherheits- und Zuverlässigkeitsmodellierung. Sie basiert auf der Idee, eineKomponente oder ein System mit einem erweiterten Zustandsautomaten zu modellieren.Die einzelnen Zustände stellen z.B. den normalen Betriebszustand, einenfehlerbehafteten (reparierbaren) Zustand und den Zustand des Totalausfalls dar (sieheAbbildung 4).Abbildung 4: Zustandsautomat Markov-AnalyseDie möglichen Zustände des Automaten werden zudem mit Zustandsübergängenversehen und jeder Übergang durch eine Übergangswahrscheinlichkeit charakterisiert.Dies sind in der Regel die sog. Fehlerwahrscheinlichkeit λ sowie die14

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