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7. Elektronenmikroskopische Abbildung

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hsl 2009 – <strong>Elektronenmikroskopische</strong> <strong>Abbildung</strong><br />

Topographiekontrast<br />

Erklärung des Topographiekontrasts in Analogie<br />

zur lichtoptischen <strong>Abbildung</strong> rauher Oberflächen<br />

Emissivität von SE als Funktion des Kippwinkels:<br />

δ = δ 0 sec θ<br />

[Goodhew:01]<br />

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