7. Elektronenmikroskopische Abbildung
7. Elektronenmikroskopische Abbildung
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Beugung von Elektronen im Kristall<br />
❖ Behandlung analog der Beugung von Röntgenstrahlung<br />
❖ Hauptunterschied: viel kleinere Wellenlängen von Elektronen<br />
im Vergleich zu Röntgenstrahlen<br />
reflektierende<br />
Netzebenen<br />
(hkl)<br />
hsl 2009 – <strong>Elektronenmikroskopische</strong> <strong>Abbildung</strong><br />
L<br />
durchgehender Strahl<br />
Primärstrahl<br />
d<br />
d<br />
2Θ<br />
Probe<br />
R<br />
Reflexe<br />
gebeugter Strahl<br />
Bragg-Gleichung: 2d Θ = nλ<br />
Beziehung zwischen dem Abstand der<br />
Beugungsreflexe auf dem Schirm, R,<br />
zur Braggreflektion von Elektronen.<br />
L wird als Kameralänge bezeichnet.<br />
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