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Teorema de Muestreo.pdf

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Conversión AD y DAAlgunos parámetros <strong>de</strong> interés para los DAC son:La resolución, exactitud, el error <strong>de</strong> escala, error <strong>de</strong> offset, monotonía,Tiempo <strong>de</strong> establecimiento, slew-rate, sobrepico y glith, <strong>de</strong>rivadas con latemperatura y con el envejecimiento entre otros parámetros.Para los ADC son:Rechazo al ruido, resolución, error <strong>de</strong> cuantización, error <strong>de</strong> histéresis,error <strong>de</strong> offset, error <strong>de</strong> cero, y error <strong>de</strong> escala.Dr. Luis Javier Morales Mendoza 13<strong>Muestreo</strong> <strong>de</strong> Señales5.3. <strong>Muestreo</strong> <strong>de</strong> señales analógicasExisten muchas maneras <strong>de</strong> muestrear una señal, la más común es elmuestreo periódico o uniforme. Este proceso se <strong>de</strong>scribe mediante larelaciónx( n) x ( nT )=a–∞ < n < +∞ (1.1)don<strong>de</strong> x(n) es la señal en tiempo discreto obtenida tomando muestras <strong>de</strong> laseñal analógica x a (t) cada T segundos. Este proceso se ilustra en la Figura1.10. El intervalo <strong>de</strong> tiempo T entre dos muestras sucesivas se <strong>de</strong>nominaperiodo <strong>de</strong> muestreo o intervalo <strong>de</strong> muestreo, y su reciproco (1/T = F s ) sellama velocidad <strong>de</strong> muestreo (muestras por segundo) o frecuencia <strong>de</strong>muestreo (Hertz).Dr. Luis Javier Morales Mendoza 147

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