Composites ferroélectriques/diélectriques commandables pour ...
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CHAPITRE 2 : TECHNIQUES<br />
INSTRUMENTALES<br />
Chapitre 2 : Techniques instrumentales<br />
Ce chapitre rassemble les informations qui nous ont semblé nécessaires à une<br />
bonne perception des différentes techniques mises en œuvre <strong>pour</strong> :<br />
les caractérisations physico-chimiques et microstructurales des matières<br />
premières<br />
l’élaboration des céramiques<br />
les caractérisations physico-chimiques et microstructurales des céramiques<br />
les caractérisations <strong>diélectriques</strong> des céramiques. Nous insisterons sur la<br />
préparation des condensateurs disques.<br />
2.1 Caractérisations des matières<br />
premières<br />
Pour maîtriser le procédé des céramiques et contrôler leurs propriétés, il est<br />
nécessaire de connaître les matières premières. Cette partie décrit les différentes<br />
caractérisations employées.<br />
2.1.1 Détermination des phases en présence :<br />
Rayons X<br />
L’étude du diagramme de diffraction, ou diffractogramme, d’un échantillon (poudre ou<br />
céramique) permet d’atteindre un grand nombre d’informations, telles que la nature<br />
des différentes phases présentes dans l’échantillon, leurs structures, leurs<br />
proportions, la taille des cristallites, le taux de défauts (macro et micro-contraintes),<br />
les textures. Dans ce paragraphe, nous présentons les techniques utilisées et les<br />
traitements des informations contenues dans les diffractogrammes.<br />
Le diffractomètre utilisé est équipé d’un détecteur à localisation courbe INEL CPS<br />
120. Le rayonnement utilisé est la raie Kα1 du cuivre (λ = 1,54056 Å) sélectionnée par<br />
une lame monocristalline en germanium. L’angle d’incidence du rayonnement vaut 8°<br />
et reste fixe au cours de l’enregistrement. L’intensité est enregistrée simultanément<br />
<strong>pour</strong> toutes les directions de diffraction (Figure 2.1).<br />
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