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10 ATTUALITÀ
EONEWS n. 537 - OTTOBRE 2010
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Stena lancia un processo unico
per il riciclaggio degli schermi
LCD
Entro il 2015, si stima che le esigenze
dell’Unione Europea per il riciclaggio di
schermi piatti si moltiplicheranno fino a
raggiungere la cifra di 750.000 tonnellate
all’anno. Il Gruppo Stena Metall sta ora
lanciando un processo chiuso per la gestione
degli schermi LCD.
Nel 2008, in Europa sono stati venduti
oltre 100 milioni di schermi piatti. TV,
monitor di computer, PC portatili con
tecnologia LCD, LED o plasma hanno rapidamente
trovato spazio nelle case europee.
Tuttavia, vi è una mancanza di
processi di riciclaggio che siano efficaci
e validi dal punto di vista ambientale e
che riducano i rischi di esposizione al
mercurio per chi smonta gli schermi da
sostituire. Stena ha sviluppato un processo
automatizzato grazie al quale il
grado di riciclaggio è significativamente
superiore ai requisiti che saranno definiti
in futuro con una direttiva WEEE più rigorosa
che indichi la percentuale di rifiuti
elettronici da riciclare in Europa.
Nel processo si separano parti pulite di
ferro, metalli, plastica, circuiti stampati
nonché vetro con cristalli liquidi. Il processo
chiuso è importante, soprattutto
quando si tratta di maneggiare le lampadine
al mercurio che fanno parte di uno
schermo LCD. Per ulteriori informazioni:
www.stenametall.com.
Harwin sottoscrive accordo
di distribuzione con Digi-Key
Harwin, produttore di connettori ad alta
affidabilità e di schede hardware per
montaggio superficiale, ha sottoscritto
un accordo per la distribuzione a livello
mondiale con Digi-Key.
Nel catalogo dell’azienda di distribuzione
troveranno posto la famiglia di interconnessioni
Datamate ad alta affidabilità
e numerosi altri prodotti a marchio Harwin,
come la gamma EZ-Boardware di
sistemi di connessione per PCB a montaggio
superficiale.
Keithley Instruments ottiene
il riaccreditamento dei propri
servizi di metrologia
Keithley Instruments, società specializzata
nella realizzazione di sistemi e strumenti
per collaudi elettrici avanzati, ha
annunciato che i propri servizi di metrologia
hanno ottenuto il rinnovo della certificazione
di conformità alla normativa
ISO 17025, avendo superato brillantemente
il severo processo di riaccreditamento
(della durata di tre giorni e mezzo)
da parte della American Association
for Laboratory Accreditation (A2LA). Nel
corso di questo accertamento, Keithley
ha ricevuto anche il riconoscimento della
conformità al nuovo standard
ANSI/INCSL Z540.3-2006 in vigore negli
Stati Uniti.
VALERIO ALESSANDRONI
Come ha sottolineato John Graff
durante la keynote del primo giorno
di NIWeek 2010, National Instruments
ha dedicato uno sforzo
notevole al miglioramento dei
tempi di setup iniziale, di configurazione
e di manutenzione dei
propri prodotti. Nello stesso tempo,
la programmazione grafica
permette di progettare, prototipare
e rilasciare più rapidamente un
sistema completo, mentre le piattaforme
multicore e FPGA assicurano
notevoli incrementi prestazionali
rispetto al passato. Nelle
operazioni matematiche real-time,
LabVIEW 2010 offre un incremento
di prestazioni run-time del
50% rispetto a LabVIEW 2009. Incremento
che raggiunge il 100%
nella manipolazione di bit e si avvicina
al 150% nel controllo realtime
e al 200% nei cicli for paralleli.
Anche il compilatore LabVIEW è
stato rivisto per migliorare le prestazioni
run-time dei VI, ovvero la
rapidità di esecuzione dei VI senza
alcun cambiamento di codice. In
particolare, gli sviluppatori NI
hanno introdotto due ‘strati’ nella
gerarchia del compilatore per velocizzare
l’esecuzione del codice,
con la grande novità del back-end
basato su LLVM (Low-Level Virtual
Machine), una struttura di
compilatore open source che permette
una serie di ottimizzazioni.
“Insieme alla Dataflow interme-
NIWeek 2010:
all’insegna del tempo
Molte caratteristiche della nuova
versione LabVIEW 2010,
presentata nel corso di NIWeek
2010 (Austin, Texas), sono state
introdotte per ottimizzare
il tempo, le prestazioni
e la produttività dello sviluppo
di nuove applicazioni
Nuove funzionalità
di LabVIEW 2010
permettono
di visualizzare dati
e misure anche su
uno SmartPhone,
in qualsiasi parte
del mondo
JAMES
TRUCHARD,
Ceo e cofounder
di National
Instruments
diate representation
(DFIR), introdotta in
LabVIEW 2009, la
LLVM permette di ridurre
fino al 20% il
tempo di esecuzione
del codice di un’applicazione
LabVIEW 2010
rispetto alla versione
precedente del nostro
software”, ha sottolineato
James Truchard,
Ceo e cofounder di National
Instruments.
LabVIEW 2010 si è rivelato
unico anche nelle applicazioni
basate su I/O in cui il timing
è cruciale – intendendo sia la visibilità
sul tim ing stesso, sia il rispetto
di vincoli e target di timing.
Il ‘tempo’ è infatti incorporato
nell’ambiente di programmazione
grafica e la capacità di integrazione
e trigger su eventi timebased
fa parte di ogni funzione rilevante
di LabVIEW 2010, dalle
strutture di programmazione, come
i costrutti Timed Loop, all’elaborazione
dei segnali, alle operazioni
matematiche.
Infine, un aspetto
cruciale in
molti sistemi è
la necessità di
timing e sincronizzazione
fra
vari componenti.
Nell’hardware
e nel software
National Instruments
è disponibile
una varietà
di approcci
per soddisfare
specifici limiti
di timing, da
più processori
nella stessa macchina, a
sistemi distribuiti sincronizzati
in modo globale.
Tra le altre novità software,
NI DIAdem 2010, NI
DataFinder Server Edition
2010, NI Vision Development
Module 2010 e NI
SoftMotion Module di
LabVIEW 2010.
NON SOLO SOFTWARE
Molte novità presentate a
NIWeek 2010 hanno riguardato
la sfera hardware.
Tra queste, spicca ad esempio
il primo analizzatore di rete vettoriale
su PXI, denominato NI
PXIe-5630.
Si tratta di uno strumento a due
porte, 6 GHz, in grado di supportare
misure vettoriali dei coefficienti
di trasmissione e riflessione,
rappresentati anche come
parametri S11 e S21.
Il range di frequenza da 10 MHz a
6 GHz, un range dinamico maggiore
di 110 dB e velocità di
sweep minori di 400 s/punto su
3.201 punti, rendono l’NI Pxe-
5630 adatto alla validazione automatica
dei progetti e al test di
produzione.
Su un altro fronte, National Instruments
ha annunciato un
nuovo sistema di acquisizione
dati su Ethernet semplice e completo.
Con lo chassis Gigabit
Ethernet NI cDAQ-9188, la famiglia
NI CompactDAQ supera la
portata dell’acquisizione dati basata
su PC, permettendo di gestire
anche sensori e misure elettriche
remoti – dall’altra parte
del laboratorio o dall’altra parte
del mondo. Un singolo chassis
può misurare fino a 256 canali di
segnali elettrici, fisici, meccanici
o acustici.
Combinando oltre 50 moduli I/O
NI Serie C specifici ai sensori
con tecnologia brevettata NI Signal
Streaming, la piattaforma
NI CompactDAQ assicura elevata
velocità dati e facilità d’uso in un
sistema di misura misto particolarmente
flessibile.
Per quanto riguarda i moduli Serie
C, è da sottolineare il nuovo
NI 9223 con ingressi analogici
simultanei, in grado di acquisire
dati da quattro canali a un massimo
di 1 MS/s con risoluzione
di 16 bit.
Tra le altre novità hardware, il
sistema NI myDAQ, la serie di
dispo sitivi DAQ multifunzione
per USB NI Serie X, l’interrogatore
di sensori ottici NI Pxe-4844
e il frame grabber Camera Link
ad alte prestazioni NI PCIe-1433.