Katalog na rok 2012 w wersji PDF - ITME
Katalog na rok 2012 w wersji PDF - ITME
Katalog na rok 2012 w wersji PDF - ITME
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49<br />
Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl<br />
Dyrekcja:<br />
dr Zygmunt Łuczyński Dyrektor (+48 22) 834 90 03<br />
(+48 22) 835 30 41 wew. 100<br />
(+48 22) 835 44 16<br />
(+48 22) 835 30 41 wew. 454<br />
prof. dr hab. inż. Andrzej Jeleński Z-ca Dyrektora<br />
ds. Naukowych<br />
mgr inż. Zenon Godziejewski Z-ca Dyrektora<br />
(+48 22) 835 30 41 wew. 465<br />
ds. Rozwoju<br />
inż. Józef Śrembowski<br />
Z-ca Dyrektora<br />
(+48 22) 834 92 20<br />
ds. Administracyjno-<br />
(+48 22) 835 31 72<br />
(+48 22) 835 30 41 wew. 407<br />
Technicznych<br />
mgr Dorota Jobda-Kurach Główny Księgowy (+48 22) 833 22 50<br />
(+48 22) 835 30 41 wew. 128<br />
Rada Naukowa:<br />
Przewodniczący: ………………..<br />
Zastępcy Przewodniczącego: ….<br />
Sekretarz: …………………………..<br />
Członkowie:<br />
prof. dr hab. inż. Władysław Karol Włosiński<br />
prof. dr hab. Jacek Baranowski<br />
prof. dr hab. inż. Antoni Rogalski<br />
dr hab. inż. Małgorzata Jakubowska, prof. <strong>ITME</strong><br />
prof. dr hab. Maciej Bugajski<br />
dr hab. inż. Lech Dobrzański, prof. <strong>ITME</strong><br />
prof. dr hab. inż. Włodzimierz Janke<br />
prof. dr hab. inż. Jacek Jagielski<br />
dr hab. inż. Paweł Kamiński, prof. <strong>ITME</strong><br />
prof. dr hab. inż. Marian Kaźmierkowski<br />
inż. Jarosław Kisielewski<br />
dr inż. Andrzej Kowalik<br />
prof. dr hab. inż. Jerzy Lis<br />
prof. dr hab. inż. Tadeusz Łukasiewicz<br />
dr hab. inż. Andrzej Maląg, prof. <strong>ITME</strong><br />
prof. dr hab. inż. Zygmunt Mierczyk<br />
prof. dr hab. Michał Nawrocki<br />
dr hab. Dorota Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />
dr hab. inż. Katarzy<strong>na</strong> Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />
prof. dr hab. Danuta Stróż<br />
dr inż. Włodzimierz Strupiński<br />
prof. dr hab. Henryk Szymczak<br />
mgr inż. Emil Tymicki<br />
mgr inż. Hele<strong>na</strong> Węglarz
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Witam<br />
w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Instytut został utworzony Zarządzeniem Nr 14 Prezesa Rady Ministrów z dnia<br />
5.02.1979 r. Powstał z przekształcenia istniejącego od <strong>rok</strong>u 1971 Ośrodka<br />
Naukowo-Produkcyjnego Materiałów Półprzewodnikowych, który powstał <strong>na</strong><br />
bazie istniejącego od <strong>rok</strong>u 1956 Przemysłowego Instytutu Elektroniki,<br />
stworzonego wcześniej z Biura Badawczo-Rozwojowego Fabryki Lamp<br />
Elektronowych w Warszawie. Przedmiotem działania Instytutu było<br />
prowadzenie prac <strong>na</strong>ukowo-badawczych i rozwojowych oraz wdrożeń w<br />
zakresie materiałów elektronicznych, a w szczególności dotyczących<br />
technologii otrzymywania i efektywnego wykorzystania tych materiałów <strong>na</strong><br />
potrzeby elektronizacji w kraju.<br />
Dziś Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych (<strong>ITME</strong>) jest wiodącym polskim instytutem<br />
badawczym prowadzącym badania <strong>na</strong>ukowe oraz prace badawczo-rozwojowe w zakresie inżynierii<br />
materiałowej, elektroniki, fotoniki, optoelektroniki, informatyki, inżynierii środowiska, technologii<br />
chemicznej, metrologii. Szczególnie w zakresie wytwarzania, badania właściwości i efektywnego<br />
wykorzystania materiałów, w tym również nowej generacji z<strong>na</strong>jdującymi się w centrum zainteresowania<br />
<strong>na</strong>uki światowej. Prace te prowadzone są w ramach tematów statutowych, projektów zamawianych,<br />
projektów badawczych między<strong>na</strong>rodowych i krajowych, w tym także projektów Fundacji <strong>na</strong> rzecz Nauki<br />
Polskiej, Narodowego Centrum Badań i Rozwoju, Narodowego Centrum Nauki oraz projektów<br />
fi<strong>na</strong>nsowanych z funduszy strukturalnych. Nadzór <strong>na</strong>d funkcjonowaniem <strong>ITME</strong> sprawuje Minister<br />
Gospodarki.<br />
Instytut dysponuje ogromnym potencjałem tak <strong>na</strong>ukowo-badawczym jak i infrastrukturalnym, a jego<br />
<strong>na</strong>jmocniejszym atutem jest kapitał ludzki. Instytut posiada kadrę o <strong>na</strong>jwyższych kwalifikacjach, wśród<br />
której z<strong>na</strong>jdują się światowe autorytety.<br />
Instytut współpracuje z wieloma krajowymi i zagranicznymi uczelniami, instytutami, centrami<br />
badawczo-rozwojowymi oraz z<strong>na</strong>czącymi w świecie przedstawicielami przemysłu elektronicznego.<br />
Rezultaty prowadzonych badań są wdrażane w przemyśle lub wykorzystywane we własnej małoseryjnej<br />
produkcji. Są one także publikowane w czołowych czasopismach światowych.<br />
Najistotniejsze tematy związane z <strong>na</strong>szym działaniem przedstawiono <strong>na</strong> <strong>na</strong>stępnych stro<strong>na</strong>ch tego<br />
katalogu. W Instytucie z<strong>na</strong>jdują się unikalne w skali kraju urządzenia technologiczne, umożliwiające<br />
opracowywanie specyficznych materiałów i struktur. Z<strong>na</strong>jdują się także <strong>na</strong>jwiększe w kraju laboratoria<br />
wzrostu kryształów, które pozwalają <strong>na</strong> opracowywanie technologii wzrostu monokryształów:<br />
tlenkowych, krzemu, związków półprzewodnikowych, azotku galu i węglika krzemu. W unikalnych<br />
laboratoriach epitaksji opracowywane są struktury przyrządów dla optoelektroniki, elektroniki<br />
mikrofalowej i mocy. Urządzenia te, jak również jedyny w kraju profesjo<strong>na</strong>lny elektronolitograf oraz<br />
urządzenia do <strong>na</strong>pylania i trawienia struktur pozwalają <strong>na</strong> rozwijanie prac technologicznych w<br />
dziedzinie mikro- i <strong>na</strong>notechnologii. Posiadane urządzenia i przyrządy pomiarowe pozwalają <strong>na</strong> pełną<br />
charakteryzację opracowywanych materiałów i podzespołów. Instytut specjalizuje się w a<strong>na</strong>lizach składu,<br />
badaniach struktur materiałów i stanów ich powierzchni oraz ich właściwości optycznych, elektrycznych,<br />
magnetycznych, mechanicznych i termicznych. Świadczone są także usługi w zakresie obszarów <strong>na</strong>szej<br />
specjalizacji.<br />
Dziś Instytut stanowi centrum badawczo-technologiczne, w którym możliwe jest realizowanie prac w<br />
pełnych cyklach od fazy projektu i badań aż do fazy wdrożenia do produkcji.<br />
Zapraszam do współpracy<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl<br />
dr Zygmunt Łuczyński<br />
Dyrektor <strong>ITME</strong>
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
OBSZARY DZIAŁALNOŚCI INSTYTUTU:<br />
Technologie wytwarzania materiałów nowej generacji:<br />
• grafen;<br />
• izolatory topologiczne;<br />
• materiały dla spintroniki;<br />
• materiały samoorganizujące się;<br />
• kryształy fotoniczne,w tym plazmonicze i metamateriały;<br />
• ceramika, kompozyty ceramiczno-metalowe, złącza.<br />
Technologie wytwarzania materiałów dla energetyki:<br />
• półprzewodniki sze<strong>rok</strong>oprzerwowe, w tym węglik krzemu i do tranzystorów HEMT z GaN;<br />
• światłowody ze szkieł półprzewodnikowych dla fotowoltaiki;<br />
• materiały eutektyczne dla fotowoltaiki;<br />
• płytki i warstwy epitaksjalne z węglika krzemu;<br />
• uszczelnienia szklano-ceramiczne dla ogniw paliwowych;<br />
• materiały termoelektryczne;<br />
• matryce inertne dla bezpiecznego składowania odpadów promieniotwórczych;<br />
• materiały elektrodowe dla jonowych baterii litowych.<br />
Technologie wytwarzania materiałów dla fotoniki:<br />
• materiały do laserów półprzewodnikowych <strong>na</strong> bazie związków III/V (w tym: GaAsP, InGaP, AlGaAs, GaAs, GaSb,<br />
InP), płytki, struktury epitaksjalne;<br />
• struktury epitaksjalne <strong>na</strong> GaN;<br />
• materiały do laserów ciała stałego, w tym <strong>na</strong> bazie: niobianu strontowo-wapniowego;<br />
• fotodetektory <strong>na</strong> zakres podczerwieni oraz ultrafioletu;<br />
• kryształy tlenkowe <strong>na</strong>: lasery, pasywne modulatory dobroci, scyntylatory, przyrządy elektrooptyczne<br />
i piezoelektryczne, podłoża <strong>na</strong> warstwy <strong>na</strong>dprzewodzące HTSc;<br />
• szkła i ceramiki ze specjalnie projektowanymi charakterystykami spektralnymi, w tym: ceramiki przezroczyste;<br />
• elementy optyczne dyfrakcyjne i mikrosoczewki;<br />
• cienkie warstwy o charakterze <strong>na</strong>nostruktur;<br />
• luminescencyjne <strong>na</strong>noproszki i <strong>na</strong>nokryształy;<br />
• włók<strong>na</strong> optyczne i światłowody, w tym włók<strong>na</strong> aktywne i fotoniczne.<br />
Technologie wytwarzania materiałów dla elektroniki:<br />
• monokryształy krzemu (płytki Si standardowe i o specjalnych właściwościach);<br />
• krzem porowaty;<br />
• folie krzemowe;<br />
• warstwy epitaksjalne <strong>na</strong> krzemie i <strong>na</strong> krzemie porowatym;<br />
• płytki i warstwy epitaksjalne z węglika krzemu;<br />
• proszki, pasty i atramenty <strong>na</strong> bazie polimerów i <strong>na</strong>noproszków dla elektroniki drukowanej;<br />
• pasty światłoczułe;<br />
• kryształy piezoelektryczne;<br />
• super czyste metale.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Technologie wytwarzania podzespołów<br />
W laboratoriach <strong>ITME</strong> powstało wiele nowatorskich rozwiązań podzespołów elektronicznych z wytworzonych przez <strong>na</strong>s<br />
materiałów, jak <strong>na</strong> przykład:<br />
• światłowody (aktywne i fotoniczne), filtry, soczewki dyfrakcyjne, dwuwymiarowe mikrostruktury fotoniczne;<br />
• elementy bierne <strong>na</strong> membra<strong>na</strong>ch (sensory);<br />
• filtry, rezo<strong>na</strong>tory i sensory <strong>na</strong> podłozach piezoelektrycznych z akustyczną falą powierzchniową;<br />
• przyrządy półprzewodnikowe (lasery, tranzystory, fotodetektory, diody Schottky’ego);<br />
• lasery ciała stałego, mikrolasery.<br />
Wytwarzanie ich jest możliwe dzięki posiadanym <strong>na</strong>jnowocześniejszym urządzeniom, które umożliwiają:<br />
• projektowanie i wytwarzanie masek;<br />
• <strong>na</strong>noszenie warstw cienkich dielektrycznych (SiO 2, Si 3N 4, AlN);<br />
• metalizację wielowarstwową;<br />
• litografię: kopiowanie kontaktowe w głębokim UV, generacja wzoru wiązką elektronów;<br />
• różnego rodzaju technologie wytrawiania, w tym reaktywne trawienie jonowe i kontrolowane trawienie ścianek<br />
bocznych.<br />
Badania materiałów i struktur<br />
Charakteryzacja materiałów prowadzo<strong>na</strong> jest różnymi metodami, między innymi:<br />
• klasycznej a<strong>na</strong>lizy chemicznej oraz spektralnymi technikami instrumentalnymi (płomieniowa atomowa<br />
spektrometria emisyj<strong>na</strong> i absorpcyj<strong>na</strong>, spektrometria od ultrafioletu do dalekiej podczerwieni);<br />
• spektroskopii mössbauerowskiej (metoda konwencjo<strong>na</strong>l<strong>na</strong>, kon<strong>wersji</strong> elektronów i promieniowania X oraz<br />
opracowaną w <strong>ITME</strong>, unikalną w skali światowej, metodą "rf-Mössbauer");<br />
• rentgenowskiej dyfraktometrii proszkowej, metodą Rietvelda, wysokorozdzielczej dyfraktometrii rentgenowskiej,<br />
reflektometrii rentgenowskiej, rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej;<br />
• skaningowej mikroskopii elektronowej i z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego;<br />
• elektronowego rezo<strong>na</strong>nsu paramagnetycznego;<br />
• mikroskopu sił atomowych;<br />
• termicznymi klasycznymi (mikroskopia wysokotemperaturowa, termograwimetria, różnicowa a<strong>na</strong>liza termicz<strong>na</strong>,<br />
dylatometria, itd.) oraz rentgenowskimi;<br />
• mechanicznymi (wytrzymałościowe, tarciowe, badania twardości, itd.);<br />
• optycznymi (mikroskopia, absorpcja, reflektometria).<br />
Badania podzespołów<br />
W <strong>ITME</strong> wykonywane są badania przyrządów optoelektronicznych, mikroelektronicznych i piezoelektrycznych.<br />
Z<strong>na</strong>jdująca się w Instytucie specjalistycz<strong>na</strong> aparatura umożliwia przeprowadzanie charakteryzacji podzespołów, różnymi<br />
metodami, np.:<br />
• pomiarów I-V, C-V;<br />
• niestacjo<strong>na</strong>rnej spektroskopii głębokich poziomów;<br />
• pomiarów impedancji i elementów macierzy rozproszonej do częstotliwości 20 GHz;<br />
• pomiarów poziomów szumów;<br />
• badań parametrów użytkowych laserów i fotodetektorów.<br />
Instytut także kształci młodą kadrę techniczną poprzez realizację programów dydaktycznych dla studentów kierunków:<br />
chemii, fizyki i inżynierii materiałowej prowadzonych <strong>na</strong> Uniwersytecie Warszawskim oraz Politechnikach: Warszawskiej,<br />
Łódzkiej, Poz<strong>na</strong>ńskiej, Gdańskiej i Lubelskiej. Organizujemy wykłady i zajęcia laboratoryjne, praktyki i staże zawodowe,<br />
pokazy urządzeń technologicznych.<br />
<strong>ITME</strong> posiada prawo <strong>na</strong>dawania stopnia <strong>na</strong>ukowego doktora w dziedzinie <strong>na</strong>uk technicznych, w dyscyplinie inżynieria<br />
materiałowa. Jednocześnie Instytut wraz z Uniwersytetem Warszawskim zorganizował Środowiskowe Studium<br />
Doktoranckie Fizykochemii Materiałów, które zapewnia możliwość interdyscypli<strong>na</strong>rnego kształcenia specjalistów. <strong>ITME</strong><br />
uczestniczy również w między<strong>na</strong>rodowych studiach doktoranckich utworzonych przez Instytut Fizyki Polskiej Akademii<br />
Nauk.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Wybrane tematy realizowane przez <strong>ITME</strong> w <strong>rok</strong>u 2011:<br />
Projekty Europejskie:<br />
ENSEMBLE - Engineered Self-organized Multicomponent structures<br />
with novel controllable Electromagnetic functio<strong>na</strong>lities<br />
(Samoorganizujące się wieloskładnikowe struktury ze sterowalnymi<br />
niekonwencjo<strong>na</strong>lnymi właściwościami elektromagnetycznymi)<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2008 – <strong>2012</strong><br />
MATRANS - Micro- and Nanocrystalline Functio<strong>na</strong>ll Graded materials<br />
for Transport Applications<br />
(Mikro i Nano-krystaliczne materiały gradientowe do zastosowań w przemyśle<br />
transportowym)<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2010 – 2013<br />
ACTMOST - Access to Micro-Optics Expertise, Services &<br />
Technologies<br />
(Dostęp do wiedzy, usług i technologii mikrooptycznych)<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. R. Buczyński<br />
Termin realizacji: 2010 - 2013<br />
Inne projekty między<strong>na</strong>rodowe:<br />
POLSKO - FRANCUSKI<br />
PROJEKT POLONIUM<br />
Czynniki mezo- i makroskopowe w procesie akumulacji defektów radiacyjnych<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr hab. inż. J. Jagielski<br />
Termin realizacji: 2009 - 2011<br />
Charakteryzacja i modelowanie defektów radiacyjnych w ceramikach<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr I. Joźwik<br />
Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />
Cienkie krzemowe monokrystaliczne ogniwa słoneczne z kolektorami fluorescencyjnymi<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. G. Gawlik<br />
Termin realizacji: 2010 - 2011<br />
Opracowanie metody ilościowej a<strong>na</strong>lizy rozkładów defektów złożonych w kryształach<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr hab. inż. A. Turos<br />
Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />
Funkcjo<strong>na</strong>lne podfalowe eutektyczne struktury fotoniczne<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />
Plazmoniczne podzespoły i urządzenia<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr A. Kłos<br />
Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />
Opracowanie technologii wytwarzania epitaksjalnego grafenu do zastosowań w tranzystorach nowej<br />
generacji.<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr hab. J. Baranowski, dr inż. W. Strupiński<br />
Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />
Nowe pasty nieorganiczne do hybrydowych drukowanych układów (demonstratorów)<br />
elektronicznych – Innoinks<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. M. Jakubowska, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2011 - 2014<br />
Hybrydowe materiały półprzewodnikowe do przetwarzania energii słonecznej.<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr inż. J.W. Augustyński; dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2011 - 2015<br />
Zobrazowanie radiacyjnej struktury defektowej krzemowych detektorów cząstek dla akceleratorów<br />
zderzeniowych<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. R. Kozłowski<br />
Termin realizacji: 2010 - 2013<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Wybrane tematy realizowane przez <strong>ITME</strong> w <strong>rok</strong>u 2011:<br />
Projekty w ramach Funduszy Strukturalnych:<br />
PROTEUS - Zintegrowany mobilny system wspomagający działania antyterrostyczne i antykryzysowe<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. L. Dobrzański, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2008 – 2013<br />
KomCerMet - Kompozyty i Nanokompozyty Ceramiczno-Metalowe dla Przemysłu Lotniczego i Samochodowego<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2008 – <strong>2012</strong><br />
Wykorzystanie materiałów i konstrukcji inteligentnych do opracowania koncepcji i wyko<strong>na</strong>nia innowacyjnego systemu łożyskowania<br />
wirników mikroturbin energetycznych<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2010 – 2013<br />
ZAMAT - Zaawansowane materiały i technologie ich wytwarzania<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. W. Strupiński<br />
Termin realizacji: 2010 – 2013<br />
TEAM - Samo-organizacja dla fotoniki/optoelektroniki<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2009 – 2013<br />
CEZAMAT - Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. L. Dobrzański, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2008 - 2013<br />
SICMAT - Opracowanie technologii otrzymywania nowoczesnych materiałów półprzewodnikowych <strong>na</strong> bazie węglika krzemu<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Grasza, Dr inż. W. Strupiński<br />
Termin realizacji: 2010 – 2014<br />
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: mgr A. Waga<br />
Termin realizacji: 2010 - 2014<br />
MINOS - Centrum Mikro- i Nanotechnologii<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr Z. Łuczyński<br />
Termin realizacji: 2010 - 2013<br />
Wsparcie ochrony praw własności przemysłowej dla wy<strong>na</strong>lazku dotyczącego sposobu wytwarzania grafenu<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. W. Strupiński<br />
Termin realizacji: 2010 – 2014<br />
Wsparcie ochrony praw własności przemysłowej dla wy<strong>na</strong>lazku w zakresie elektrochemiczno-mechanicznego polerowania płytek węglika<br />
krzemu (SiC)<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: mgr H. Sakowska<br />
Termin realizacji: 2010 – 2014<br />
Wsparcie ochrony praw własności przemysłowej dla wy<strong>na</strong>lazku w zakresie technologii monokrystalizacji SiC<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: Mgr inż. E. Tymicki<br />
Termin realizacji: 2010 - 2013<br />
Wsparcie fi<strong>na</strong>nsowe ochrony praw własności wy<strong>na</strong>lazków dot. nowej generacji past opartych <strong>na</strong> <strong>na</strong>noproszku srebra przez<strong>na</strong>czonych do<br />
<strong>na</strong>kładania sitodrukiem<br />
Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. M. Jakubowska, prof. <strong>ITME</strong><br />
Termin realizacji: 2010 – 2013<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
PROJEKTY WSPÓŁFINANSOWANE PRZEZ UNIĘ EUROPEJSKĄ<br />
ZE ŚRODKÓW EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU ROZWOJU REGIONALNEGO<br />
Wybrane tematy realizowane przez <strong>ITME</strong> w <strong>rok</strong>u 2011:<br />
Projekty fi<strong>na</strong>nsowane przez Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego, Narodowe<br />
Centrum Nauki, Narodowe Centrum Badań i Rozwoju lub Fundację <strong>na</strong> rzecz Nauki<br />
Polskiej:<br />
Badania struktury defektowej i stanu <strong>na</strong>prężeń w <strong>na</strong>noszonych warstwach epitaksjalnych i implantowanych warstwach epitaksjalnych węglika<br />
krzemu.<br />
Badanie wpływu obciążeń punktowych <strong>na</strong> uszkodzenia układu warstwa - podłoże. A<strong>na</strong>liza warstw węglowych do zastosowań biomedycznych.<br />
Dyfrakcyjne elementy do formowania wiązek światła emitowanych przez lasery półprzewodnikowe<br />
Granulowanie <strong>na</strong>noproszków ceramicznych przez wymrażanie-sposób <strong>na</strong> uzyskanie jakości laserowej przezroczystej ceramiki.<br />
Krystalizacja politypu 3C-SiC z roztworu węgla w krzemie- badania, wytworzenie kryształów.<br />
Luminescencyjne <strong>na</strong>nokrystality o strukturze jednoskośnej (YAM) i regularnej (YAG) rozproszone w wieloskładnikowych szkłach<br />
nieorganicznych.<br />
Metoda korekcji stałych mechanicznych, piezoelektrycznych i dielektrycznych kryształów z wykorzystaniem zmierzonych parametrów<br />
akustycznych fal powierzchniowych.<br />
Nowa generacja past opartych <strong>na</strong> <strong>na</strong>noproszku srebra do zastosowań w elektronice.<br />
Nowe aktywne optycznie materiały kompozytowe do zastosowań w źródłach promieniowania <strong>na</strong> zakres widzialny.<br />
Opracowanie diod i liniowych matryc diod laserowych dużej mocy optycznej <strong>na</strong> pasma 808 i 976 nm do celów przemysłowych i pompowania<br />
optycznego: przykładowe zastosowanie w urządzeniu bezkontaktowego precyzyjnego lutowania i zgrzewania.<br />
Opracowanie metody wytwarzania elementów mikrooptycznych i dyfrakcyjnych dla średniej podczerwieni ze szkieł nieorganicznych.<br />
Opracowanie nowej ekologicznej metody wytwarzania złączy ceramika-metal z wykorzystaniem warstw plastycznych.<br />
Opracowanie technologii otrzymywania przezroczystych, polikrystalicznych materiałów do zastosowań optycznych opartych <strong>na</strong> spinelu<br />
glinowo- magnezowym domieszkowanym kobaltem (Co2+:MgAl2O4).<br />
Opracowanie technologii wytwarzania porowatych preform ceramicznych oraz sposobu modyfikacji ich powierzchni.<br />
Pasywne modulatory dobroci dla rezo<strong>na</strong>torów laserowych<br />
Porów<strong>na</strong>nie i a<strong>na</strong>liza własności generacyjnych cienkowarstwowych, wysokodomieszkowanych laserów ND:YAG pompowanych diodami<br />
laserowymi w pasmach 808nm i 885nm<br />
Projektowanie i wytwarzanie światłowodów fotonicznych do zastosowań w zakresie średniej podczerwieni oraz sze<strong>rok</strong>ospektralnych<br />
Projektowanie i wytwarzanie światłowodów fotonicznych ze strukturyzowanym rdzeniem oraz z dwójłomnym płaszczem fotonicznym<br />
Rezystory grubowarstwowe dla "zielonej elektroniki" <strong>na</strong> podłoża i folie LTCC.<br />
Stabilizacja pola optycznego w płaszczyźnie złącza i tłumienie fi lamentacji przez strukturyzację warstwy p-emitera w diodach laserowych dużej<br />
mocy.<br />
Struktura i własności magnetyczne amorficznych i <strong>na</strong>nokrytalicznych stopów Fe-Zr-Si oraz krystalizacja w polu magnetycznym wysokiej<br />
częstotliwości amorficznych stopów (FeCo)-Zr-Si.<br />
Technologia zol-żel do wytwarzania nowych materiałów dla dozymetrii termoluminescencyjnej (tlenki domieszkowane manganem, synteza,<br />
charakteryzacja).<br />
Węglik krzemu (SiC) domieszkowany wybranymi jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich i metali przejściowych jako kandydat do zastosowania w spintronice.<br />
Właściwości mechaniczne i odporność <strong>na</strong> szoki termiczne przezroczystej ceramiki Y2O3 w funkcji mikrostruktury i temperatury.<br />
Włók<strong>na</strong> fotoniczne do generacji supercontinuum w zakresie średniej podczerwieni.<br />
Wpływ zawartości płytkich domieszek <strong>na</strong> właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC.<br />
Wykorzystanie przemiany fazowej do konstrukcji układów chłodzenia matryc diod laserowych dużej mocy.<br />
Wzrost politypu 4H <strong>na</strong> podłożach o strukturze 6H w procesie monokrystalizacji SiC metodą transportu fizycznego z fazy gazowej.<br />
Zastosowanie inżynierii struktury defektowej do modyfikowania własności elektrycznych niedomieszkowanych monokryształów GaP.<br />
JUVENTUS<br />
- Wytwarzanie i charakteryzacja eutektyków półprzewodnikowych do efektywnego przetwarzania energii słonecznej.<br />
- Próby oszacowania wpływu jonów Mn <strong>na</strong> właściwości SrTiO3, TiO2, SrTiO3-TiO2 otrzymanych metodą mikrowyciągania. Badanie zjawiska<br />
magnetoelektrycznego współistnienia w tychże materiałach.<br />
- Próby krystalizacji perowskitów - monokryształów tlenkowych – zawierających pierwiastki ziem rzadkich oraz jony metali przejściowych,<br />
badania ukierunkowane <strong>na</strong> oszacowanie właściwości multiferroicznych otrzymanych związków.<br />
LIDER<br />
- Rozwój <strong>na</strong>no-technologii materiałów III-N dla przyrządów optoelektronicznych powszechnego użytku.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakłady badawczo-<strong>na</strong>ukowe Instytutu:<br />
Telefon*:<br />
Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej<br />
wew. 140, 481<br />
Czystości<br />
Samodziel<strong>na</strong> Pracownia Spektroskopii Mössbauerowskiej wew. 448, 147<br />
Zakład Badań Mikrostrukturalnych; wew. 115, 420<br />
Zakład Ceramiki wew. 150, 472<br />
Zakład Epitaksji wew. 188, 426<br />
Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych wew. 436, 136<br />
Zakład Kompozytów Ceramiczno-Metalowych i Złączy wew. 485, 416<br />
Zakład Materiałów Grubowarstwowych wew. 457, 460<br />
Zakład Optoelektroniki wew. 104, 102<br />
Zakład Piezoelektroniki wew. 113, 409<br />
Zakład Szkieł wew. 456, 437<br />
Zakład Technologii Chemicznych wew. 452, 458<br />
Zakład Technologii Krzemu (+48) 22 834 99 46<br />
Zakład Technologii Monokryształów Tlenkowych (+48) 22 834 99 49<br />
Zakład Technologii Związków Półprzewodnikowych (+48) 22 834 91 86<br />
Zakład Zastosowań Materiałów AIIIBV (+48) 22 834 97 14<br />
* Centrala <strong>ITME</strong>: (+48) 22 835 30 41 – 49<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej Czystości<br />
Laboratorium wykonuje a<strong>na</strong>lizy:<br />
• zanieczyszczeń w materiałach wysokiej czystości;<br />
• pierwiastków ziem rzadkich;<br />
• materiałów dla:<br />
o piezoelektroniki: LiNbO 3, LiTaO 3, LiB 4O 7, kwarc; GdCa 4O(BO 3) 3,:Nd,Yb,Eu,Pr,Tm;<br />
NdCa 4O(BO 3) 3, LaCa 4O(BO 3) 3<br />
o optoelektroniki: LiNbO 3, BaB 2O 4;<br />
o techniki laserowej: YAG: Nd,Er,Ho,Tm,Pr,Yb; Yb 3Al 5O 12: (YbAG):Er; YVO 4:Ho, Yb,Er,Tm;<br />
GdVO 4:Tm,Er; LuVO 4:Tm,Er; RbNd(WO 4) 2:Yb; La 3La 2Ga 3O 12:Cr; Sr 3Y(BO) 3 (BOYS):Yb;<br />
Sr xBa 1-xNb 2O 6 (SBN): Ce,Nd, Ca xBa 1-xNb 2O 6 (CBN);<br />
o scyntylatorów glinowych: LuAlO 3 (LuAP):Pr,Cr,Mo, PrLaAlO 3, LaAlO 3;<br />
o materiałów <strong>na</strong>dprzewodzących: SrLaAlO 4, SrLaGaO 4, SrLaGa 3O 7:Ho; NdGaO 3:Y;<br />
o materiałów <strong>na</strong> podłoża do epitaksji: GaN, GaAs, GaSb, InP;<br />
o różnego rodzaju szkieł technicznych i optycznych;<br />
o złożonych stopów, jak <strong>na</strong> przykład: AgCu28, AgCuZn, AgSnO 2; WCu25, WCuSb, WCuAgNi,<br />
WAgSb, WAg25, AgCuNi, CuZn, SnIn, AgNi, PbSnAg, AgCuPd, SnP;<br />
• ceramik;<br />
• wody, ścieków i powietrza;<br />
• chromu (VI) w powłokach cynkowych pasywowanych;<br />
Prowadzi także badania czynników występujących w środowisku pracy oraz zajmuje się projektowaniem i<br />
opracowywaniem metod a<strong>na</strong>litycznych, w tym również dla potrzeb ochrony środowiska.<br />
Laboratorium spełnia wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.<br />
Posiada certyfikat Laboratorium Akredytowanego Nr AB 267 udzielony<br />
przez Polskie Centrum Akredytacji w zakresie:<br />
Materiał:<br />
Zawartość<br />
Woda i ścieki<br />
Cr, Cu, Pb, Zn, Cd, Fe, Na, K, As,<br />
Mn, Ni, Mg,<br />
(0,1÷1000 mg/l)<br />
AsH 3<br />
Powietrze <strong>na</strong><br />
(0,019 - 0,19 mg/m 3 )<br />
stanowisku pracy PH 3 (0,07 - 1,14 mg/m 3 )<br />
NO x (0,5 - 7,0 mg/m 3 )<br />
Powłoki cynkowe<br />
Cr VI<br />
pasywowane<br />
(0,02 - 2,00 µg/cm 2 )<br />
Laboratorium wykonuje a<strong>na</strong>lizy stosując klasyczne<br />
metody chemiczne oraz nowoczesne techniki<br />
instrumentalne (spektrometria masowa, spektrometria<br />
w ultrafiolecie i zakresie widzialnym, płomieniowa<br />
atomowa spektrometria absorpcyj<strong>na</strong>, atomowa<br />
spektrometria absorpcyj<strong>na</strong> w kuwecie grafitowej).<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Samodziel<strong>na</strong> Pracownia Spektroskopii Mössbauerowskiej<br />
Pracownia prowadzi działalność <strong>na</strong>ukowo-badawczą w zakresie fizyki ciała stałego i inżynierii materiałowej, w<br />
tym w szczególności badania struktury i własności magnetycznych <strong>na</strong>stępujących grup materiałów zawierających<br />
żelazo <strong>na</strong>turalne lub wprowadzony izotop 57 Fe:<br />
• amorficzne i <strong>na</strong>nokrystaliczne stopy żelaza<br />
• materiały <strong>na</strong>nokompozytowe<br />
• multiferroiki<br />
• perowskity<br />
• stale<br />
• cienkie warstwy<br />
• układy wielowarstwowe<br />
• <strong>na</strong>nocząstki powlekane węglem<br />
• aerozole atmosferyczne (badanie sezonowych zmian koncentracji żelaza, szacowanie wielkości cząstek<br />
zawierających żelazo, określanie zanieczyszczenia atmosfery).<br />
Charakteryzacja badanych materiałów jest prowadzo<strong>na</strong> metodą spektroskopii mössbauerowskiej <strong>na</strong> izotopie 57 Fe<br />
przy wykorzystaniu źródeł 57 Co:<br />
• pomiary mössbauerowskie konwencjo<strong>na</strong>lną metodą w geometrii transmisyjnej dostarczają informacji <strong>na</strong><br />
temat własności strukturalnych i magnetycznych materiałów; pomiary moż<strong>na</strong> prowadzić w zakresie<br />
temperatur od 10 K (w kriostacie) do 800 K (w piecyku);<br />
• pomiary metodą spektroskopii mössbauerowskiej elektronów kon<strong>wersji</strong> (CEMS) i promieniowania X<br />
(CXMS) umożliwiają badanie własności powierzchniowych stopów;<br />
• pomiary opracowaną w Pracowni, unikalną w skali światowej metodą "rf-Mössbauer" (pomiar w<br />
geometrii transmisyjnej w polu magnetycznym wysokiej częstości) umożliwiają badanie miękkich<br />
własności magnetycznych oraz magnetostrykcji.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Badań Mikrostrukturalnych<br />
Zakład prowadzi badania podstawowe i aplikacyjne w dziedzinie badań materiałowych. Podstawowe kierunki<br />
działalności to rozwijanie metod badań i modyfikacji materiałów, a w szczególności badania własności<br />
strukturalnych, funkcjo<strong>na</strong>lnych i mikrotopografii powierzchni materiałów.<br />
Prowadzone prace skoncentrowane są <strong>na</strong>:<br />
• a<strong>na</strong>lizie powierzchni materiałów metodami elektronowej mikroskopii skaningowej (SEM),<br />
• badaniach materiałowych przy użyciu wysokorozdzielczej dyfraktometrii rentgenowskiej (HRXRD),<br />
• zastosowaniu promieniowania synchrotronowego do badań struktur materiałów elektronicznych,<br />
• rentgenowskich badaniach wysokotemperaturowych,<br />
• rozwoju metod numerycznych w zastosowaniu do a<strong>na</strong>lizy rentgenowskich profili dyfrakcyjnych<br />
i reflektometrycznych,<br />
• rozwoju metod modyfikacji materiałów przy pomocy implantacji jonów ,<br />
• modelowaniu procesów akumulacji defektów radiacyjnych w materiałach stosowanych w inżynierii<br />
jądrowej,<br />
• modyfikacji własności funkcjo<strong>na</strong>lnych polimerów,<br />
• badaniach własności tarciowych i zużyciowych warstwy wierzchniej materiałów,<br />
• badaniach emisji światła z przyrządów krzemowych.<br />
Zakład prowadzi również działalność usługową w zakresie:<br />
• badania mikrostruktury materiałów,<br />
• implantacji jonów w różnych materiałach,<br />
• osadzania warstw powierzchniowych.<br />
Prace Zakładu są cenione <strong>na</strong> świecie. Jego <strong>na</strong>ukowcy realizują projekt w ramach programu „Open Access”.<br />
Projekt ten jest pierwszym i jak dotąd jedynym projektem z Polski przyjętym do realizacji przez Pacific Northwest<br />
Natio<strong>na</strong>l Laboratory (Richland, USA), które jest głównym ośrodkiem badawczym w Sta<strong>na</strong>ch Zjednoczonych<br />
zajmującym się zagadnieniami paliw jądrowych. Realizowany projekt ma <strong>na</strong> celu a<strong>na</strong>lizę defektów radiacyjnych w<br />
materiałach przewidzianych do produkcji paliw jądrowych i jednocześnie do immobilizacji odpadów<br />
radioaktywnych powstających w reaktorach energetycznych.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Zakład Ceramiki<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Ceramiki zajmuje się inżynierią materiałów ceramicznych i ceramicznych kompozytów.<br />
Przedmiotem prac badawczych są <strong>na</strong>nostrukturalne materiały tlenkowe (AI 2O 3, AI 2O 3 + ZrO 2, ZrO 2 + Y 2O 3,<br />
Y 2O 3, MgO·Al 2O 3) o bardzo wysokiej wytrzymałości i odporności <strong>na</strong> pękanie, ścieranie i wstrząsy cieplne.<br />
Szczególną uwagę poświęca się zależnościom między mikrostrukturą tworzywa a mechanicznymi własnościami<br />
ceramiki i kompozytów oraz mechanizmom odpowiedzialnym za obserwowane umocnienie materiału. W<br />
obszarze tym prowadzone są także prace <strong>na</strong>d właściwościami <strong>na</strong>dplastycznymi ceramiki. Kolejnym kierunkiem<br />
działalności prowadzonej w Zakładzie są badania <strong>na</strong>d otrzymywaniem polikrystalicznych tworzyw<br />
przezroczystych. W postaci przezroczystej ceramiki wytwarzane są gra<strong>na</strong>t itrowo-glinowy tzw. YAG,<br />
niedomieszkowany lub domieszkowany jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich (aktualnie Nd, Yb, Tm i Ce), tlenek itru oraz spinel<br />
magnezowo- glinowy.<br />
Na podstawie technologii opracowanych w Zakładzie wytwarzane są wyroby konstrukcyjne z ceramiki<br />
korundowo-cyrkonowej pracujące w warunkach wstrząsu cieplnego, wyroby z ceramiki cyrkonowej<br />
stabilizowanej tlenkiem itru (TZP) o dosko<strong>na</strong>łej odporności <strong>na</strong> pękanie i ścieranie (np. końcówki<br />
antystatycznych <strong>na</strong>rzędzi regulacyjnych urządzeń elektronicznych), elementy aparatury laboratoryjnej<br />
wykonywane z ceramiki wysokokorundowej, ceramiki itrowej (Y 2O 3) lub cyrkonowej, np. łódki, tygle, pręty, rurki.<br />
Zakład świadczy usługi badawcze i pomiarowe z zastosowaniem urządzeń do badań<br />
wytrzymałościowych (także w podwyższonych temperaturach do 1500 o C) oraz do bezpośredniej obserwacji<br />
propagacji pęknięć w materiale ceramicznym. Na bazie pieca do badań wytrzymałościowych w podwyższonej<br />
temperaturze skonstruowano także układ do poddawania szokom termicznym próbek ceramicznych zarówno<br />
przy chłodzeniu jak i <strong>na</strong>grzewaniu. W ofercie jest również pomiar kąta zwilżania przez wodę różnych<br />
materiałów, urządzaniem Easy–Drop produkcji firmy Kruss. Zakład posiada również stanowisko do pomiaru<br />
właściwości katalitycznych warstw dwutlenku tytanu, które składa się z komory o pojemności ok. 3 dm 3<br />
wyposażonej w układ pompowy i podłączonego do komory a<strong>na</strong>lizatora gazów, w postaci spektrometru<br />
masowego. Medium podlegającym degradacji jest etanol. Spektrometr masowy mierzy zmiany składu<br />
atmosfery gazowej w komorze, w tym zmiany koncentracji etanolu w wyniku fotodegradacji w funkcji czasu<br />
<strong>na</strong>świetlania promieniowaniem UV.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Epitaksji<br />
Zakład składa się z Pracowni Epitaksji Krzemu oraz Pracowni Miernictwa Warstw Epitaksjalnych. Obszary<br />
działalności Zakładu:<br />
• wytwarzanie krzemowych warstw epitaksjalnych metodą chemicznego osadzania z fazy gazowej<br />
(CVD),<br />
• wytwarzanie warstw epitaksjalnych gra<strong>na</strong>tów z wykorzystaniem metody epitaksji z fazy ciekłej,<br />
• pomiary parametrów krzemowych warstw epitaksjalnych,<br />
• badanie właściwości centrów defektowych w kryształach materiałów półprzewodnikowych,<br />
• rozwój metod badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych<br />
• sze<strong>rok</strong>iej przerwie zabronionej takich jak: GaP, SiC, GaN czy AlN.<br />
W Zakładzie, miedzy innymi, opracowano technologie wytwarzania <strong>na</strong>jwyższej jakości krzemowych warstw<br />
epitaksjalnych, a w szczególności warstw epitaksjalnych dla detektorów cząstek o wysokiej energii.<br />
Opracowano również technologie wytwarzania warstw epitaksjalnych gra<strong>na</strong>tów do zastosowań w laserach <strong>na</strong><br />
ciele stałym.<br />
Zakład ściśle współpracuje z czołowymi ośrodkami <strong>na</strong> świecie, w tym:<br />
• z ośrodkiem CERN w ramach programu pt.: Radiation hard semiconductor devices for very high<br />
luminosity colliders – RD50. Zakres współpracy obejmuje wytwarzanie warstw epitaksjalnych o dużej<br />
odporności <strong>na</strong> radiację oraz badanie radiacyjnych centrów defektowych w krzemie <strong>na</strong>promieniowanym<br />
dużymi dawkami hadronów.<br />
• z Laboratoire de Genie Electrique de Paris i Naval Researche Laboratory oraz University of South<br />
Caroli<strong>na</strong> w zakresie badania centrów defektowych w półprzewodnikach o sze<strong>rok</strong>iej przerwie<br />
energetycznej.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych<br />
W Zakładzie wytwarza się struktury epitaksjalne metodą MOCVD /Metal Organic Chemical Vapour Deposition/ i<br />
CVD /Chemical Vapour Deposition/ związków półprzewodnikowych III-V oraz IV-IV z wykorzystaniem<br />
profesjo<strong>na</strong>lnych reaktorów firmy AIXTRON. Najwyższej jakości hetero-struktury stosowane są do produkcji<br />
nowoczesnych przyrządów elektronowych oraz do badań podstawowych.<br />
• związki III-V: GaAs- , InP-, GaSb- i GaN-pochodne: GaAs, AlAs, AlGaAs, InP, InGaAs, InGaAsP, InAlAs,<br />
InGaP, GaN, AlN, GaAlN, GaInN, GaSb, GaAlSb, GaInSb, InSb, GaAlAsSb, GaInAsSb, itp.<br />
Zastosowanie : tranzystory, lasery F-P, lasery VCSEL, lasery QCL, diody LED, detektory, waraktory,<br />
diody mikrofalowe, SOA, falowody, itp. Wytwarzane struktury: studnie kwantowe (QW), supersieci (SL),<br />
kropki kwantowe (QD), struktury pseudo- i meta-morficzne, itp.<br />
• SiC: diody Schottky’ego, fotodetektory, tranzystory;<br />
• Grafen wytwarzany metodą sublimacji oraz metodą CVD <strong>na</strong> podłożach SiC, Cu, Ni, W.<br />
Ważniejsze heterostruktury epitaksjalne opracowane w ostatnim czasie :<br />
• kwantowe lasery kaskadowe (QCL) <strong>na</strong> bazie InP;<br />
• tranzystory HEMT GaN/AlGaN, AlInN/GaN, GaAs/AlGaAs, InP/InGaAs;<br />
• lasery VCSEL GaAs/AlGaAs oraz InP/InGaAs;<br />
• fotodetektory GaN/AlGaN;<br />
• lasery 808nm GaAs/AlGaAs;<br />
• lasery InGaAsP;<br />
• ogniwa słoneczne InGaP/Ge;<br />
• diody Schottky’ego SiC;<br />
• diody UV GaN/AlGaN;<br />
• diody LED GaN/InGaN.<br />
Do charakteryzacji wytwarzanych materiałów w Zakładzie stosowane są różnorodne techniki takie jak:<br />
mikroskopia optycz<strong>na</strong>, mikroskopia elektronowa, metoda Hall’a, metoda ECV, pomiary rentgenowskie,<br />
fotoluminescencja, pomiary mikrofalowe, spektroskopia Rama<strong>na</strong> i inne. Zakład współpracuje z wieloma<br />
przodującymi światowymi ośrodkami badawczo-rozwojowymi oraz firmami produkcyjnymi w dziedzinie fizyki ciała<br />
stałego, technologii elektronowej i elektroniki oraz inżynierii materiałowej.<br />
Zakład jest między innymi zaangażowany w realizację projektu Epitaxial Graphene Transistor (Opracowanie<br />
technologii wytwarzania epitaksjalnego grafenu do zastosowań w tranzystorach nowej generacji) w ramach<br />
EuroGRAPHENE - EPIGRAT fi<strong>na</strong>nsowanego przez Europejską Fundację Nauki (ESF).<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Kompozytów Ceramiczno-Metalowych i Złączy<br />
Badania i prace technologiczne prowadzone w Zakładzie koncentrują się wokół: wytwarzania ceramicznometalowych<br />
materiałów kompozytowych i gradientowych oraz spajania materiałów zaawansowanych, ze<br />
szczególnym uwzględnieniem zjawisk fizycznych i chemicznych towarzyszącym procesom ich otrzymywania.<br />
Wytwarzane materiały kompozytowe to m.in.:<br />
materiały o wysokiej przewodności cieplnej: Cu-C f, Cu-SiC, Cu-AlN;<br />
materiały stykowe: WC-Ag, W-Cu, W-Cu-Sb, W-Ag;<br />
materiały konstrukcyjne: Al 2O 3-Cr, Al 2O 3-Mo, Al 2O 3 –NiAl, Al 2O 3-Ni 3Al.<br />
Materiały te wytwarzane są przy wykorzystaniu techniki metalurgii proszków (mieszanie – konwencjo<strong>na</strong>lne lub<br />
wysokoenergetyczne; formowanie – prasowanie lub wylewanie folii; spiekanie – swobodne lub pod ciśnieniem)<br />
lub poprzez spiekanie infiltrowanych ciekłym stopem szkieletów. Przy wytwarzaniu kompozytowych materiałów<br />
stykowych wykorzystywane są klasyczne metody metalurgii proszków oraz orygi<strong>na</strong>l<strong>na</strong> technologia <strong>na</strong>sycania.<br />
Osobnym zagadnieniem jest opracowywanie technologii spajania materiałów kompozytowych z innymi<br />
materiałami, w tym <strong>na</strong>d łączeniem różnorodnych materiałów elektroizolacyjnych (ceramika korundowa, azotkowa,<br />
węglikowa, szkło) z metalami (miedź, molibden, stopy FeNi, stale) do aplikacji próżniowych, elektronicznych,<br />
jądrowych i energetycznych. Próżnioszczelne konstrukcje izolowanych przejść prądowych i <strong>na</strong>pięciowych<br />
lutowane są stopami nisko- i wysokotemperaturowymi wyko<strong>na</strong>nymi głównie ze srebra i miedzi - zależnie od<br />
warunków eksploatacyjnych i montażowych złączy.<br />
Opracowane technologie spajania dotyczą: ceramik typu: Al 2O 3, AlN, SiC, Si 3N 4, ZrO 2, metali: Cu, Al, Cr, Mo,<br />
FeNi, FeNiCo, stal, związków międzymetalicznych: NiAl, FeAl oraz materiałów kompozytowych: Cu-C f, Al 2O 3-Cr,<br />
Al 2O 3-Mo, WC-Ag, W-Cu, a stosowane techniki to: metalizacja proszkowa, spajanie bezpośrednie, zgrzewanie<br />
dyfuzyjne, lutowanie w atmosferach ochronnych i aktywne, spajanie z wykorzystaniem FGM.<br />
Wytwarzamy też warstwy metaliczne <strong>na</strong> różnorodnych podłożach ceramicznych oraz specjalne podłoża<br />
warstwowe miedź - ceramika korundowa - miedź wytwarzane techniką spajania bezpośredniego CDB (Copper<br />
Direct Bonding), materiały przez<strong>na</strong>czone do montażu powierzchniowego. Prowadzone są również prace<br />
badawcze, wdrożeniowe i usługowe (technologia wytopów próżniowych) w zakresie wytwarzania stopów metali.<br />
Zakład uczestniczy w Programie Operacyjnym Innowacyj<strong>na</strong> Gospodarka w projektach:<br />
Kompozyty i <strong>na</strong>nokompozyty ceramiczno-metalowe dla przemysłu lotniczego i samochodowego<br />
(KomCerMet), koordy<strong>na</strong>tor - IPPT PAN;<br />
Materiały i konstrukcje inteligentne w budowie mikroturbin energetycznych”, koordy<strong>na</strong>tor - Uniwersytet<br />
Warmińsko-Mazurski w Olsztynie.<br />
Zakład jest członkiem Konsorcjum prowadzącego prace w ramach 7PR EU w projekcie MATRANS (Micro and<br />
Nanocrystalline Functio<strong>na</strong>lly Graded Materials for Transport Applications), a Kierownik Zakładu jest<br />
Koordy<strong>na</strong>torem <strong>na</strong>ukowym tego projektu. Zakład jest członkiem Instytutu KMM-VIN (www.kmm-vin.eu).<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Materiałów Grubowarstwowych<br />
Przedmiotem prac Zakładu są nowoczesne materiały stosowane w technologii grubowarstwowej, <strong>na</strong>kładane <strong>na</strong><br />
podłoża techniką sitodruku, a w szczególności:<br />
• materiały grubowarstwowe przez<strong>na</strong>czone <strong>na</strong> podłoża ceramiczne, wypalane w temperaturach 500 -<br />
1100°C<br />
o przewodzące<br />
o rezystywne<br />
o dielektryczne <strong>na</strong> skrzyżowania i do układów wielowarstwowych<br />
o dielektryczne – zabezpieczające<br />
• materiały grubowarstwowe przez<strong>na</strong>czone <strong>na</strong> podłoża ceramiczne, fotoformowane UV (380-410 nm)<br />
wypalane w temperaturach 500 - 1100°C<br />
o przewodzące<br />
o dielektryczne <strong>na</strong> skrzyżowania i do układów wielowarstwowych<br />
• materiały grubowarstwowe polimerowe, przez<strong>na</strong>czone <strong>na</strong> podłoża elastyczne, utwardzane w<br />
temperaturze poniżej 200°C (m. in. srebrowe, grafitowe, zawierające luminofory)<br />
• materiały do specjalnych zastosowań, w tym kompozyty zawierające <strong>na</strong>norurki węglowe<br />
Zakład oferuje również sze<strong>rok</strong>ą współpracę w dziedzinie materiałów grubowarstwowych dostosowanych do<br />
potrzeb i oczekiwań klientów. Prowadzone są badania materiałów o niestandardowych właściwościach zgodnie z<br />
indywidualnym zapotrzebowaniem zleceniodawców. Udostępniane są niewielkie próbki opracowanych past.<br />
Ostatnio w Zakładzie, między innymi, badano i opracowano:<br />
• materiały grubowarstwowe do wytwarzania mikroukładów o wysokiej skali integracji umożliwiających<br />
łączenie techniki sitodruku z fotolitografią.<br />
• pasty przewodzące zgodne z Dyrektywą ROHS, tj. nie zawierających ołowiu, kadmu ani ich związków.<br />
• bezołowiowe pasty szkliwiące do wytwarzania warstw pośrednich stosowanych w połączeniach ceramiki<br />
z polimerem<br />
• bezołowiowe pasty rezystywne do wytwarzania rezystorów.<br />
• pasty przewodzące do wytwarzania (mikro)układów zdolnych do pracy powyżej 300 o C<br />
• kompozyty zawierające wielościenne <strong>na</strong>norurki węglowe, przez<strong>na</strong>czone do zastosowań w technologii<br />
grubowarstwowej.<br />
Opracowywane materiały <strong>na</strong>jczęściej stosowane są w układach grubowarstwowych, np.: rezystorach,<br />
termistorach, różnego rodzaju czujnikach, wyświetlaczach.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Zakład Optoelektroniki<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład koncentruje się <strong>na</strong> konstruowaniu i badaniach podzespołów oraz przyrządów elektronicznych <strong>na</strong> bazie<br />
materiałów wytwarzanych w innych zakładach <strong>ITME</strong>, w szczególności laserowych. Zakład składa się z pracowni:<br />
Pracownia Projektowania i Pomiarów, w której prowadzone są badania z zakresu projektowania i pomiarów:<br />
• laserów półprzewodnikowych i matryc laserowych,<br />
• zintegrowanych układów laserowych wykorzystujących wszystkie rozwinięte w <strong>ITME</strong> technologie materiałów<br />
laserowych.<br />
Dla charakteryzacji diod laserowych (DL) i diodowych matryc laserowych (DML) rozwinięte są techniki pomiarów:<br />
impulsowych charakterystyk mocowo-prądowych i <strong>na</strong>pięciowo-prądowych (P-I-V) w temperaturach 10 – 70ºC;<br />
charakterystyk P-I-V w reżimie pracy QCW i CW w temperaturach 10 – 70ºC; charakterystyk spektralnych w<br />
zakresie 400 – 1300 nm (w tym z rozdzielczością czasową do 2 ns, w zakresie spektralnym 450 – 850 nm)<br />
impulsowych i CW w temperaturach 10 – 70ºC; kątowych charakterystyk promieniowania [pomiary rozkładu<br />
promieniowania w polu dalekim (FF)]; charakterystyk rozkładu promieniowania w polu bliskim (NF, ~<strong>na</strong> lustrze<br />
laserowym).<br />
Pracownia Technologii Przyrządów, w której wykonywane są usługi technologiczne w zakresie pojedynczych<br />
operacji lub całych ciągów procesów technologicznych. Posiada linie do: fotolitografii kontaktowej do ścieżek 2<br />
μm dla płytek o średnicy do 4”, operacji chemicznych, hydromechanicznego i ciśnieniowego mycia płytek o<br />
średnicy do 4”, a także urządzenia do <strong>na</strong>pylania próżniowego /metodami: sputteringu, elektrowiązkową,<br />
rezystancyjną/ i montażu struktur przyrządowych (lutowanie, klejenie, bonding ultrakompresyjny).<br />
Pracownia dysponuje także kompletną technologią wytwarzania przyrządów piezoelektrycznych, urządzeniem<br />
do precyzyjnej obróbki płytek podłożowych oraz stanowiskami do testowania jakości wyko<strong>na</strong>nych operacji.<br />
Pracownia Badań Optycznych i Termicznych Materiałów Fotonicznych, zajmująca się badaniami z zakresu<br />
• spektroskopii materiałów dla optoelektroniki wytwarzanych w <strong>ITME</strong>, m.in. ceramik laserowych,<br />
<strong>na</strong>noproszków i <strong>na</strong>nokryształów, polimerów, warstw epitaksjalnych, fotonicznych włókien aktywnych, szkieł,<br />
kryształów tlenkowych domieszkowanych i współdomieszkowanych jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich i metali<br />
przejściowych (Yb, Nd, Tm, Er, Co, Bi, Ni);<br />
• układów laserowych wykorzystujących pompowanie diodowe m.in. dla takich materiałów, jak fotoniczne<br />
włók<strong>na</strong> aktywne, warstwy epitaksjalne i kryształy tlenkowe;<br />
• termowizji materiałów i przyrządów optoelektronicznych (profilowanie termiczne, detekcja defektów,<br />
wykrywanie gorących punktów, kontrola jakości montażu diod i matryc laserowych dużej mocy oraz innych<br />
przyrządów optoelektronicznych, jak np. ogniw fotowoltaicznych);<br />
• budowy zaawansowanych układów chłodzenia dla przyrządów optoelektronicznych dużej mocy.<br />
Wyposażenie: stanowisko do pomiarów spektralnych: monochromator, detektory (chłodzony fotopowielacz <strong>na</strong><br />
zakres widzialny, chłodzony detektor InGaAs), źródła pobudzania (diody i matryce laserowe <strong>na</strong> zakresy λ = 780,<br />
808, 885, 911, 976 i 1300 nm, pracujące impulsowo, Q-CW i CW oraz laser argonowy); stanowisko do badań<br />
laserowych materiałów pompowanych diodowo; stanowisko do badań termicznych materiałów i przyrządów:<br />
kamera termowizyj<strong>na</strong> firmy Thermosensorik SM 640 z detektorem InSb (zakres 1,1 – 5,3 µm) i obiektywami IR.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Piezoelektroniki<br />
Działalność Zakładu Piezoelektroniki dotyczy <strong>na</strong>stępujących dziedzin:<br />
• Pomiary stałych elastycznych, piezoelektrycznych i dielektrycznych nowych kryształów<br />
piezoelektrycznych.<br />
• Obliczenia i pomiary Akustycznych Fal Powierzchniowych (AFP), Akustycznych Fal<br />
Pseudopowierzchniowych (AFPP), Akustycznych Poprzecznych Fal Powierzchniowych (APFP)<br />
i Akustycznych Modów Płytowych (AMP) w kryształach piezoelektrycznych.<br />
• Projektowanie i wytwarzanie podzespołów z falami akustycznymi do zastosowań w telekomunikacji i w<br />
czujnikach piezoelektrycznych.<br />
• Prace badawcze <strong>na</strong>d piezoelektrycznymi czujnikami lepkości, temperatury i ciśnienia.<br />
Następujące projekty badawcze, fi<strong>na</strong>nsowane z budżetu państwa, zostały zrealizowane w 2011 <strong>rok</strong>u:<br />
• Pomiary własności akustycznych fal powierzchniowych w krysztale SrLaGa 3O 7.<br />
• Rezo<strong>na</strong>tor kwarcowy z akustyczną poprzeczną falą powierzchniową do zastosowań w czujnikach<br />
temperatury.<br />
• Wyko<strong>na</strong>nie laboratoryjnego miernika lepkości cieczy z akustycznym modem płytowym <strong>na</strong> niobianie litu<br />
o orientacji YZ.<br />
W Zakładzie Piezoelektroniki opracowano program komputerowy do wyz<strong>na</strong>czenia stałych materiałowych z<br />
pomiarów akustycznych fal powierzchniowych. Wyz<strong>na</strong>czono stałe elastyczne, piezoelektryczne i dielektryczne<br />
kryształu GaN w ramach grantu przyz<strong>na</strong>nego przez Armię USA.<br />
Wyz<strong>na</strong>czono także stałe materiałowe kryształu NdCa 4O(BO 3) 3. Kyształ ten jest atrakcyjnym materiałem do<br />
zastosowań w laserach z powielaniem częstotliwości w wiązkach harmonicznych.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Zakład Szkieł<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Działalność badawcza i technologicz<strong>na</strong> Zakładu obejmuje głównie opracowywanie syntez i metod topienia<br />
różnych typów szkieł dla optyki, elektroniki i optoelektroniki oraz przetwarzanie szkieł optycznych <strong>na</strong> różnego typu<br />
struktury włókniste.<br />
Zakład specjalizuje się w <strong>na</strong>stępujących obszarach:<br />
• projektowanie i wytwarzanie różnych rodzajów szkieł optycznych i technicznych (w tym szkieł o wysokiej<br />
transmisji w zakresie VIS, NIR i MidIR; domieszkowanych jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich; barwnych <strong>na</strong><br />
absorpcyjne filtry optyczne);<br />
• odlewanie bloków i rur szklanych (np. rur wyko<strong>na</strong>nych ze szkła boro-krzemianowego o wysokiej<br />
transmisji optycznej lub z „czarnego szkła” typu EMA);<br />
• przetwórstwo szkła metodą ceramiczną (mielenie, prasowanie, wypalanie);<br />
• mechanicz<strong>na</strong> obróbka szkła metodami cięcia, zakrążania, szlifowania i polerowania (wytwarzanie<br />
elementów szklanych <strong>na</strong> preformy do wyciągania włókien);<br />
• projektowanie i wytwarzanie różnych typów struktur multikapilarowych (np. do nebulizacji cieczy w<br />
spektrometrach a<strong>na</strong>litycznych);<br />
• kształtowanie i kalibrowanie cienkościennych rur szklanych (zmia<strong>na</strong> ich przekroju, kształtu, grubości<br />
ścianki, średnicy);<br />
• wyciąganie różnego rodzaju i kształtu prętów optycznych, wielordzeniowych prętów światłowodowych,<br />
wyspecjalizowanych włókien optycznych;<br />
• wytwarzanie struktur światłowodowych i obrazowodowych (np. końcówek światłowodowych do lamp<br />
stomatologicznych, płytek i taperów z optyki włóknistej, obrazowodów prętowych, wyspecjalizowanych<br />
wiązek światłowodowych, w tym z włókien kwarcowych);<br />
• opracowywanie i wytwarzanie różnych typów mikrostrukturalnych włókien optycznych typu PCF<br />
(Photonic Crystal Fiber) ze szkieł wieloskładnikowych (np. włókien nieliniowych do generacji<br />
supercontinuum, włókien o wysokiej dwójłomności).<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Technologii Chemicznych<br />
Zakład specjalizuje się w <strong>na</strong>stępujących dziedzi<strong>na</strong>ch:<br />
• chemicz<strong>na</strong> synteza <strong>na</strong>nokrystalicznych materiałów dla zastosowań w elektronice i optoelektronice,<br />
• galwaniczne <strong>na</strong>kładanie powłok,<br />
• trawienie kształtowe blach metalowych,<br />
• usuwanie toksycznych substancji ze ścieków przemysłowych, zwłaszcza galwanicznych.<br />
Nową podjętą tematyką badawczą jest chemiczne i elektrochemiczne wytwarzanie <strong>na</strong>nopłatków grafenowych.<br />
Materiały <strong>na</strong>nokrystaliczne wytwarza się metodami:<br />
• zol-żel,<br />
• współstrącania,<br />
• syntezy spaleniowej.<br />
Otrzymywane materiały z<strong>na</strong>jdują zastosowanie jako:<br />
- materiały wyjściowe do wytwarzania ceramik laserowych. Przykładowe produkty: YAG (gra<strong>na</strong>t itrowo-glinowy) z<br />
koncentracją domieszki neodymu aż do 27,5 % at.; Y 4Al 2O 9 (YAM) o strukturze jednoskośnej domieszkowany<br />
neodymem, gra<strong>na</strong>t gadolinowo-galowy Gd 3Ga 5O 12 (GGG) domieszkowany jo<strong>na</strong>mi neodymu, europu i erbu oraz<br />
inne.<br />
- kompozyty <strong>na</strong> bazie matryc organicznych i nieorganicznych. Przykładowe produkty: materiały katodowe do<br />
baterii litowo-jonowych.<br />
- luminofory świecące w różnych zakresach fal, w tym: luminofor światła białego SrCe 2O 4, <strong>na</strong>nokrystaliczny Y 2O 3<br />
współdomieszkowany jo<strong>na</strong>mi neodymu i iterbu oraz perowskit itrowo-glinowy, mający zastosowanie w holografii<br />
oraz dozymetrii termoluminescencyjnej promieniowania jonizującego.<br />
Zakład wykonuje prace w zakresie <strong>na</strong>kładania powłok galwanicznych a także prowadzi badania z dziedziny<br />
galwanotechniki i ochrony środowiska. W szczególności oferujemy:<br />
• <strong>na</strong>kładanie powłok galwanicznych ze złota, srebra, miedzi, niklu, palladu i stopowych PdNi20;<br />
• <strong>na</strong>kładanie powłok niklu bezprądowego (tzw. chemicznego) Ni-P, zwłaszcza <strong>na</strong> stopach aluminiowych;<br />
• polerowanie chemiczne i elektrochemiczne stopów miedzi;<br />
• pomiary grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej;<br />
• pomiary mikrotwardości powłok;<br />
• usuwanie toksycznych substancji ze ścieków przemysłowych, w szczególności galwanicznych;<br />
• precyzyjnym wytrawianiem detali otrzymywanych z folii i blach metalowych przy zastosowaniu<br />
fotolitografii;<br />
• metalowe szablony stosowane w technologii montażu powierzchniowego.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Technologii Krzemu<br />
W laboratoriach Zakładu rozwinęliśmy różne technologie wytwarzania produktów krzemowych, takie jak CZ<br />
(metoda Czochralskiego), MCZ (magnetycz<strong>na</strong> metoda Czochralskiego), czy FZ (metoda beztyglowa). Oferujemy<br />
monokryształy i płytki krzemowe (różnych rodzajów) o średnicach od 50 do 150 mm – standardowe i<br />
po<strong>na</strong>dstandardowe. Dostarczamy płytki krzemowe bezpośrednio po cięciu, trawione oraz polerowane jedno- lub<br />
obustronnie, w zależności od potrzeb.<br />
Równolegle Zakład prowadzi badania jakości powierzchni płytek i warstw pod powierzchnią oraz <strong>na</strong>d<br />
technologiami wytwarzania płytek krzemowych, takimi jak: zastosowania płynnego wosku, metody adhezyjne,<br />
wybór mieszanek trawiących do trawienia krzemu, elimi<strong>na</strong>cja z powierzchni polerowanych płytek defektów typu<br />
„haze”, czy poprawa czystości krzemu w polerowanych płytkach do standardów światowych.<br />
Bada się także defekty typu „haze”, OSF, S-PITS oraz przydatność różnych materiałów do procesów<br />
geterowania wewnętrznego.<br />
W Zakładzie opracowano procesy technologiczne wytwarzania krzemu, w których:<br />
• osiągnięto kontrolowaną zawartość tlenu w monokryształach krzemu <strong>na</strong> poziomie 6,5 ÷ 8,7*10 17 atomów<br />
<strong>na</strong> cm 3 lub 8,7 ÷ 9,5 atomów <strong>na</strong> cm 3 oraz wdrożono oprogramowanie do automatycznej kontroli<br />
procesów wzrostu kryształów);<br />
• sterując warunkami topienia i przepływu argonu z<strong>na</strong>cząco ograniczono wpływ migracji węgla w krzemie<br />
podczas wzrostu kryształów (standardowa zawartość węgla w wytwarzanych monokryształach krzemu<br />
jest niższa niż 2,5*10 16 atomów <strong>na</strong> cm 3 );<br />
• uzyskuje się monokryształy Φ 1˝ , Φ2˝ i Φ3” o nietypowych orientacjach (, , , ,<br />
, , , , , );<br />
• polerowane płytki krzemowe o średnicach do Φ100 mm i grubościach >2000 µm charakteryzują się<br />
tolerancją grubości TTV i falistości
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Technologii Monokryształów Tlenkowych<br />
Zakład prowadzi badania w zakresie wytwarzania nowych materiałów dla optoelektroniki, przede wszystkim w<br />
postaci monokryształów. Są to materiały: laserowe aktywne, do pasywnej modulacji dobroci rezo<strong>na</strong>torów<br />
laserowych (Q-switch), do powielania częstości, scyntylacyjne, podłożowe pod warstwy azotku galu i<br />
wysokotemperaturowych warstw <strong>na</strong>dprzewodzących, piezoelektrycznych materiałów do układów elektronicznych<br />
z falą powierzchniową.<br />
Równolegle są prowadzone badania <strong>na</strong>d krystalizacją węglika krzemu, badania <strong>na</strong>d otrzymywaniem<br />
materiałów o nieliniowych własnościach optycznych metodą krystalizacji z roztworów wysokotemperaturowych z<br />
zastosowaniem ekstremalnie niskich gradientów temperatury, badania <strong>na</strong>d krystalizacją niobianu barowo<br />
strontowego, który w zależności od stosunku strontu do baru wykazuje własności ferroelektryczne lub<br />
relaksorowe.<br />
W Zakładzie opracowano metodę i otrzymywane są kryształy fluorku wapnia i fluorku baru metodą Bridgma<strong>na</strong>,<br />
stosowane jako ok<strong>na</strong> <strong>na</strong> podczerwień.<br />
Rozwijane też są badania <strong>na</strong>d otrzymywaniem struktur fotonicznych oraz metamateriałów.<br />
Zakład realizuje statutowe i strukturalne projekty, a także od wielu lat równolegle między<strong>na</strong>rodowe. Obecnie<br />
jest koordy<strong>na</strong>torem europejskiego projektu ENSEMBLE /Samoorganizujące się wieloskładnikowe struktury ze<br />
sterowalnymi niekonwencjo<strong>na</strong>lnymi własnościami elektromagnetycznymi/. Współdziała także w projektach<br />
europejskich COST. Aktywnie działa w programie TEAM dla młodych <strong>na</strong>ukowców.<br />
Ostatnio, między innymi, Zakład brał udział w badaniach i pracach technologicznych związanych z<br />
opracowaniem:<br />
• samoorganizujących się mikro i <strong>na</strong>nomateriałów hybrydowych;<br />
• polikrystalicznego gra<strong>na</strong>tu itrowo glinowego Nd:YAG do zastosowań laserowych;<br />
• materiałów do zastosowań w przełącznikach optycznych <strong>na</strong> bazie domieszkowania iterbem<br />
monokryształów tlenkowych zawierających stechiometryczny neodym;<br />
• krystalizacja i charakteryzacja bikryształów eutektyku SrTiO 3;<br />
• kompozyty zawierających mikro i <strong>na</strong>nokryształy boranów do zastosowań w optyce nieliniowej;<br />
• materiałów <strong>na</strong> bazie węglika krzemu do zastosowań w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i<br />
wysokich temperatur;<br />
• procesów technologicznych monokrystalizacji podłoży z węglika krzemu oraz obróbki powierzchni<br />
węglika krzemu;<br />
• samopowielającego się lasera <strong>na</strong> podczerwień i światło widzialne /światło czerwone, zielone i niebieskie/<br />
z wykorzystaniem kryształu GdCOB;<br />
• <strong>na</strong>nokrystalicznych materiałów dla optoelektroniki otrzymywane metodą zol-żel;<br />
• monokryształów YAG:Co +2 i, YVO:Nd , Nd:GdCa 4O(BO 3) 3., YAG:V +3 .<br />
YAG:Nd<br />
SBN<br />
YVO:Nd<br />
NdGaO 3<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Technologii Związków Półprzewodnikowych<br />
Działalność Zakładu polega <strong>na</strong>:<br />
• opracowywaniu metod wytwarzania monokryształów związków półprzewodnikowych i innych<br />
specjalnych materiałów;<br />
• badaniu właściwości (elektrycznych, strukturalnych i optycznych) materiałów półprzewodnikowych;<br />
• małoseryjnej produkcji materiałów elektronicznych takich jak związki półprzewodnikowe A III B V (GaAs,<br />
InAs, GaP, InP, GaSb, InSb) oraz innych o bardzo wysokiej czystości;<br />
• opracowaniu metod wytwarzania i badaniach nowych materiałów termoelektrycznych i dla spintroniki;<br />
• opracowaniu metod wytwarzania i badaniach izolatorów topologicznych.<br />
W Zakładzie, między innymi, opracowano technologie wytwarzania i metody badań jakości związane z<br />
półprzewodnikami A III B V :<br />
• B 2O 3 z kontrolowaną zawartością H 2O dla potrzeb krystalizacji związków AIIIBV techniką LEC;<br />
• injekcyj<strong>na</strong> metoda syntezy związków A III B V (GaAs, InAs, GaP, InP);<br />
• monokryształy InAs (średnica 2”, orientacja i ) o koncentracji nośników n6000 cm 2 /Vs;<br />
• monokryształy i płytki podłożowe InP (średnica 2” i 3”, orientacja ) domieszkowane siarką oraz<br />
półizolacyjne domieszkowane żelazem i niedomieszkowane o oporności ρ>10 7 Ωcm;<br />
• monokryształy i płytki podłożowe GaP (średnica 2” i 3”, orientacja , i )<br />
domieszkowane siarką i niedomieszkowane o wysokim stopniu czystości, o koncentracji nośników<br />
n140 cm 2 /Vs;<br />
• monokryształy i płytki podłożowe GaSb (średnica 2”, orientacja i ) niedomieszkowane o<br />
wysokiej czystości, domieszkowane <strong>na</strong> typ n tellurem oraz <strong>na</strong> typ p krzemem lub cynkiem (Czochralski);<br />
• jednorodne mieszane monokryształy Ga 1-xIn xAs (x
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />
Zakład Zastosowań Materiałów A III B V<br />
Zakład opracowuje technologię i konstrukcję przyrządów półprzewodnikowych <strong>na</strong> monokrystalicznych<br />
podłożach i warstwach epitaksjalnych <strong>na</strong>noszonych w <strong>ITME</strong>, a także zapewnia zwrotną informację <strong>na</strong> temat<br />
jakości kryształów i warstw. Część z tych przyrządów jest sprzedawa<strong>na</strong>.<br />
W Zakładzie opracowano:<br />
• technologię tranzystora MESFET <strong>na</strong> GaAs wykorzystującą bezpośrednią implantację jonów do<br />
półizolacyjnego kryształu,<br />
• układy scalone z GaAs w układach BFL (buffered fet logic),<br />
• detektory promieniowania X, alfa i gamma z arsenku galu,<br />
• tranzystory HEMT oraz rezo<strong>na</strong>nsowe diody tunelowe (RTD) z GaAs/InGaAs/AlGaAs,<br />
• tranzystory HEMT oraz rezo<strong>na</strong>nsowe diody tunelowe (RTD) z InP/InGaAs/InAlAs,<br />
• bolometr i elementy termoczułe wyko<strong>na</strong>ne metodą mikromechaniki krzemowej,<br />
• detektory ultrafioletu oparte <strong>na</strong> diodach Schottky’ego GaN/AlGaN oraz diodach p-i-n,<br />
• tranzystory HEMT z GaN/AlGaN,<br />
• wysoko<strong>na</strong>pięciowe diody Schottky’ego <strong>na</strong> węgliku krzemu SiC,<br />
• technologię wytwarzania laserów SCH (separate confinement heterostructure),<br />
• technologię dyfrakcyjnych elementów optycznych (DOEs),<br />
• technologię masek chromowych wysokiej jakości do fotolitografii.<br />
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />
Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />
http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;