10.03.2014 Views

Katalog na rok 2012 w wersji PDF - ITME

Katalog na rok 2012 w wersji PDF - ITME

Katalog na rok 2012 w wersji PDF - ITME

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49<br />

Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl<br />

Dyrekcja:<br />

dr Zygmunt Łuczyński Dyrektor (+48 22) 834 90 03<br />

(+48 22) 835 30 41 wew. 100<br />

(+48 22) 835 44 16<br />

(+48 22) 835 30 41 wew. 454<br />

prof. dr hab. inż. Andrzej Jeleński Z-ca Dyrektora<br />

ds. Naukowych<br />

mgr inż. Zenon Godziejewski Z-ca Dyrektora<br />

(+48 22) 835 30 41 wew. 465<br />

ds. Rozwoju<br />

inż. Józef Śrembowski<br />

Z-ca Dyrektora<br />

(+48 22) 834 92 20<br />

ds. Administracyjno-<br />

(+48 22) 835 31 72<br />

(+48 22) 835 30 41 wew. 407<br />

Technicznych<br />

mgr Dorota Jobda-Kurach Główny Księgowy (+48 22) 833 22 50<br />

(+48 22) 835 30 41 wew. 128<br />

Rada Naukowa:<br />

Przewodniczący: ………………..<br />

Zastępcy Przewodniczącego: ….<br />

Sekretarz: …………………………..<br />

Członkowie:<br />

prof. dr hab. inż. Władysław Karol Włosiński<br />

prof. dr hab. Jacek Baranowski<br />

prof. dr hab. inż. Antoni Rogalski<br />

dr hab. inż. Małgorzata Jakubowska, prof. <strong>ITME</strong><br />

prof. dr hab. Maciej Bugajski<br />

dr hab. inż. Lech Dobrzański, prof. <strong>ITME</strong><br />

prof. dr hab. inż. Włodzimierz Janke<br />

prof. dr hab. inż. Jacek Jagielski<br />

dr hab. inż. Paweł Kamiński, prof. <strong>ITME</strong><br />

prof. dr hab. inż. Marian Kaźmierkowski<br />

inż. Jarosław Kisielewski<br />

dr inż. Andrzej Kowalik<br />

prof. dr hab. inż. Jerzy Lis<br />

prof. dr hab. inż. Tadeusz Łukasiewicz<br />

dr hab. inż. Andrzej Maląg, prof. <strong>ITME</strong><br />

prof. dr hab. inż. Zygmunt Mierczyk<br />

prof. dr hab. Michał Nawrocki<br />

dr hab. Dorota Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />

dr hab. inż. Katarzy<strong>na</strong> Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />

prof. dr hab. Danuta Stróż<br />

dr inż. Włodzimierz Strupiński<br />

prof. dr hab. Henryk Szymczak<br />

mgr inż. Emil Tymicki<br />

mgr inż. Hele<strong>na</strong> Węglarz


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Witam<br />

w Instytucie Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Instytut został utworzony Zarządzeniem Nr 14 Prezesa Rady Ministrów z dnia<br />

5.02.1979 r. Powstał z przekształcenia istniejącego od <strong>rok</strong>u 1971 Ośrodka<br />

Naukowo-Produkcyjnego Materiałów Półprzewodnikowych, który powstał <strong>na</strong><br />

bazie istniejącego od <strong>rok</strong>u 1956 Przemysłowego Instytutu Elektroniki,<br />

stworzonego wcześniej z Biura Badawczo-Rozwojowego Fabryki Lamp<br />

Elektronowych w Warszawie. Przedmiotem działania Instytutu było<br />

prowadzenie prac <strong>na</strong>ukowo-badawczych i rozwojowych oraz wdrożeń w<br />

zakresie materiałów elektronicznych, a w szczególności dotyczących<br />

technologii otrzymywania i efektywnego wykorzystania tych materiałów <strong>na</strong><br />

potrzeby elektronizacji w kraju.<br />

Dziś Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych (<strong>ITME</strong>) jest wiodącym polskim instytutem<br />

badawczym prowadzącym badania <strong>na</strong>ukowe oraz prace badawczo-rozwojowe w zakresie inżynierii<br />

materiałowej, elektroniki, fotoniki, optoelektroniki, informatyki, inżynierii środowiska, technologii<br />

chemicznej, metrologii. Szczególnie w zakresie wytwarzania, badania właściwości i efektywnego<br />

wykorzystania materiałów, w tym również nowej generacji z<strong>na</strong>jdującymi się w centrum zainteresowania<br />

<strong>na</strong>uki światowej. Prace te prowadzone są w ramach tematów statutowych, projektów zamawianych,<br />

projektów badawczych między<strong>na</strong>rodowych i krajowych, w tym także projektów Fundacji <strong>na</strong> rzecz Nauki<br />

Polskiej, Narodowego Centrum Badań i Rozwoju, Narodowego Centrum Nauki oraz projektów<br />

fi<strong>na</strong>nsowanych z funduszy strukturalnych. Nadzór <strong>na</strong>d funkcjonowaniem <strong>ITME</strong> sprawuje Minister<br />

Gospodarki.<br />

Instytut dysponuje ogromnym potencjałem tak <strong>na</strong>ukowo-badawczym jak i infrastrukturalnym, a jego<br />

<strong>na</strong>jmocniejszym atutem jest kapitał ludzki. Instytut posiada kadrę o <strong>na</strong>jwyższych kwalifikacjach, wśród<br />

której z<strong>na</strong>jdują się światowe autorytety.<br />

Instytut współpracuje z wieloma krajowymi i zagranicznymi uczelniami, instytutami, centrami<br />

badawczo-rozwojowymi oraz z<strong>na</strong>czącymi w świecie przedstawicielami przemysłu elektronicznego.<br />

Rezultaty prowadzonych badań są wdrażane w przemyśle lub wykorzystywane we własnej małoseryjnej<br />

produkcji. Są one także publikowane w czołowych czasopismach światowych.<br />

Najistotniejsze tematy związane z <strong>na</strong>szym działaniem przedstawiono <strong>na</strong> <strong>na</strong>stępnych stro<strong>na</strong>ch tego<br />

katalogu. W Instytucie z<strong>na</strong>jdują się unikalne w skali kraju urządzenia technologiczne, umożliwiające<br />

opracowywanie specyficznych materiałów i struktur. Z<strong>na</strong>jdują się także <strong>na</strong>jwiększe w kraju laboratoria<br />

wzrostu kryształów, które pozwalają <strong>na</strong> opracowywanie technologii wzrostu monokryształów:<br />

tlenkowych, krzemu, związków półprzewodnikowych, azotku galu i węglika krzemu. W unikalnych<br />

laboratoriach epitaksji opracowywane są struktury przyrządów dla optoelektroniki, elektroniki<br />

mikrofalowej i mocy. Urządzenia te, jak również jedyny w kraju profesjo<strong>na</strong>lny elektronolitograf oraz<br />

urządzenia do <strong>na</strong>pylania i trawienia struktur pozwalają <strong>na</strong> rozwijanie prac technologicznych w<br />

dziedzinie mikro- i <strong>na</strong>notechnologii. Posiadane urządzenia i przyrządy pomiarowe pozwalają <strong>na</strong> pełną<br />

charakteryzację opracowywanych materiałów i podzespołów. Instytut specjalizuje się w a<strong>na</strong>lizach składu,<br />

badaniach struktur materiałów i stanów ich powierzchni oraz ich właściwości optycznych, elektrycznych,<br />

magnetycznych, mechanicznych i termicznych. Świadczone są także usługi w zakresie obszarów <strong>na</strong>szej<br />

specjalizacji.<br />

Dziś Instytut stanowi centrum badawczo-technologiczne, w którym możliwe jest realizowanie prac w<br />

pełnych cyklach od fazy projektu i badań aż do fazy wdrożenia do produkcji.<br />

Zapraszam do współpracy<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl<br />

dr Zygmunt Łuczyński<br />

Dyrektor <strong>ITME</strong>


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

OBSZARY DZIAŁALNOŚCI INSTYTUTU:<br />

Technologie wytwarzania materiałów nowej generacji:<br />

• grafen;<br />

• izolatory topologiczne;<br />

• materiały dla spintroniki;<br />

• materiały samoorganizujące się;<br />

• kryształy fotoniczne,w tym plazmonicze i metamateriały;<br />

• ceramika, kompozyty ceramiczno-metalowe, złącza.<br />

Technologie wytwarzania materiałów dla energetyki:<br />

• półprzewodniki sze<strong>rok</strong>oprzerwowe, w tym węglik krzemu i do tranzystorów HEMT z GaN;<br />

• światłowody ze szkieł półprzewodnikowych dla fotowoltaiki;<br />

• materiały eutektyczne dla fotowoltaiki;<br />

• płytki i warstwy epitaksjalne z węglika krzemu;<br />

• uszczelnienia szklano-ceramiczne dla ogniw paliwowych;<br />

• materiały termoelektryczne;<br />

• matryce inertne dla bezpiecznego składowania odpadów promieniotwórczych;<br />

• materiały elektrodowe dla jonowych baterii litowych.<br />

Technologie wytwarzania materiałów dla fotoniki:<br />

• materiały do laserów półprzewodnikowych <strong>na</strong> bazie związków III/V (w tym: GaAsP, InGaP, AlGaAs, GaAs, GaSb,<br />

InP), płytki, struktury epitaksjalne;<br />

• struktury epitaksjalne <strong>na</strong> GaN;<br />

• materiały do laserów ciała stałego, w tym <strong>na</strong> bazie: niobianu strontowo-wapniowego;<br />

• fotodetektory <strong>na</strong> zakres podczerwieni oraz ultrafioletu;<br />

• kryształy tlenkowe <strong>na</strong>: lasery, pasywne modulatory dobroci, scyntylatory, przyrządy elektrooptyczne<br />

i piezoelektryczne, podłoża <strong>na</strong> warstwy <strong>na</strong>dprzewodzące HTSc;<br />

• szkła i ceramiki ze specjalnie projektowanymi charakterystykami spektralnymi, w tym: ceramiki przezroczyste;<br />

• elementy optyczne dyfrakcyjne i mikrosoczewki;<br />

• cienkie warstwy o charakterze <strong>na</strong>nostruktur;<br />

• luminescencyjne <strong>na</strong>noproszki i <strong>na</strong>nokryształy;<br />

• włók<strong>na</strong> optyczne i światłowody, w tym włók<strong>na</strong> aktywne i fotoniczne.<br />

Technologie wytwarzania materiałów dla elektroniki:<br />

• monokryształy krzemu (płytki Si standardowe i o specjalnych właściwościach);<br />

• krzem porowaty;<br />

• folie krzemowe;<br />

• warstwy epitaksjalne <strong>na</strong> krzemie i <strong>na</strong> krzemie porowatym;<br />

• płytki i warstwy epitaksjalne z węglika krzemu;<br />

• proszki, pasty i atramenty <strong>na</strong> bazie polimerów i <strong>na</strong>noproszków dla elektroniki drukowanej;<br />

• pasty światłoczułe;<br />

• kryształy piezoelektryczne;<br />

• super czyste metale.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Technologie wytwarzania podzespołów<br />

W laboratoriach <strong>ITME</strong> powstało wiele nowatorskich rozwiązań podzespołów elektronicznych z wytworzonych przez <strong>na</strong>s<br />

materiałów, jak <strong>na</strong> przykład:<br />

• światłowody (aktywne i fotoniczne), filtry, soczewki dyfrakcyjne, dwuwymiarowe mikrostruktury fotoniczne;<br />

• elementy bierne <strong>na</strong> membra<strong>na</strong>ch (sensory);<br />

• filtry, rezo<strong>na</strong>tory i sensory <strong>na</strong> podłozach piezoelektrycznych z akustyczną falą powierzchniową;<br />

• przyrządy półprzewodnikowe (lasery, tranzystory, fotodetektory, diody Schottky’ego);<br />

• lasery ciała stałego, mikrolasery.<br />

Wytwarzanie ich jest możliwe dzięki posiadanym <strong>na</strong>jnowocześniejszym urządzeniom, które umożliwiają:<br />

• projektowanie i wytwarzanie masek;<br />

• <strong>na</strong>noszenie warstw cienkich dielektrycznych (SiO 2, Si 3N 4, AlN);<br />

• metalizację wielowarstwową;<br />

• litografię: kopiowanie kontaktowe w głębokim UV, generacja wzoru wiązką elektronów;<br />

• różnego rodzaju technologie wytrawiania, w tym reaktywne trawienie jonowe i kontrolowane trawienie ścianek<br />

bocznych.<br />

Badania materiałów i struktur<br />

Charakteryzacja materiałów prowadzo<strong>na</strong> jest różnymi metodami, między innymi:<br />

• klasycznej a<strong>na</strong>lizy chemicznej oraz spektralnymi technikami instrumentalnymi (płomieniowa atomowa<br />

spektrometria emisyj<strong>na</strong> i absorpcyj<strong>na</strong>, spektrometria od ultrafioletu do dalekiej podczerwieni);<br />

• spektroskopii mössbauerowskiej (metoda konwencjo<strong>na</strong>l<strong>na</strong>, kon<strong>wersji</strong> elektronów i promieniowania X oraz<br />

opracowaną w <strong>ITME</strong>, unikalną w skali światowej, metodą "rf-Mössbauer");<br />

• rentgenowskiej dyfraktometrii proszkowej, metodą Rietvelda, wysokorozdzielczej dyfraktometrii rentgenowskiej,<br />

reflektometrii rentgenowskiej, rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej;<br />

• skaningowej mikroskopii elektronowej i z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego;<br />

• elektronowego rezo<strong>na</strong>nsu paramagnetycznego;<br />

• mikroskopu sił atomowych;<br />

• termicznymi klasycznymi (mikroskopia wysokotemperaturowa, termograwimetria, różnicowa a<strong>na</strong>liza termicz<strong>na</strong>,<br />

dylatometria, itd.) oraz rentgenowskimi;<br />

• mechanicznymi (wytrzymałościowe, tarciowe, badania twardości, itd.);<br />

• optycznymi (mikroskopia, absorpcja, reflektometria).<br />

Badania podzespołów<br />

W <strong>ITME</strong> wykonywane są badania przyrządów optoelektronicznych, mikroelektronicznych i piezoelektrycznych.<br />

Z<strong>na</strong>jdująca się w Instytucie specjalistycz<strong>na</strong> aparatura umożliwia przeprowadzanie charakteryzacji podzespołów, różnymi<br />

metodami, np.:<br />

• pomiarów I-V, C-V;<br />

• niestacjo<strong>na</strong>rnej spektroskopii głębokich poziomów;<br />

• pomiarów impedancji i elementów macierzy rozproszonej do częstotliwości 20 GHz;<br />

• pomiarów poziomów szumów;<br />

• badań parametrów użytkowych laserów i fotodetektorów.<br />

Instytut także kształci młodą kadrę techniczną poprzez realizację programów dydaktycznych dla studentów kierunków:<br />

chemii, fizyki i inżynierii materiałowej prowadzonych <strong>na</strong> Uniwersytecie Warszawskim oraz Politechnikach: Warszawskiej,<br />

Łódzkiej, Poz<strong>na</strong>ńskiej, Gdańskiej i Lubelskiej. Organizujemy wykłady i zajęcia laboratoryjne, praktyki i staże zawodowe,<br />

pokazy urządzeń technologicznych.<br />

<strong>ITME</strong> posiada prawo <strong>na</strong>dawania stopnia <strong>na</strong>ukowego doktora w dziedzinie <strong>na</strong>uk technicznych, w dyscyplinie inżynieria<br />

materiałowa. Jednocześnie Instytut wraz z Uniwersytetem Warszawskim zorganizował Środowiskowe Studium<br />

Doktoranckie Fizykochemii Materiałów, które zapewnia możliwość interdyscypli<strong>na</strong>rnego kształcenia specjalistów. <strong>ITME</strong><br />

uczestniczy również w między<strong>na</strong>rodowych studiach doktoranckich utworzonych przez Instytut Fizyki Polskiej Akademii<br />

Nauk.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Wybrane tematy realizowane przez <strong>ITME</strong> w <strong>rok</strong>u 2011:<br />

Projekty Europejskie:<br />

ENSEMBLE - Engineered Self-organized Multicomponent structures<br />

with novel controllable Electromagnetic functio<strong>na</strong>lities<br />

(Samoorganizujące się wieloskładnikowe struktury ze sterowalnymi<br />

niekonwencjo<strong>na</strong>lnymi właściwościami elektromagnetycznymi)<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2008 – <strong>2012</strong><br />

MATRANS - Micro- and Nanocrystalline Functio<strong>na</strong>ll Graded materials<br />

for Transport Applications<br />

(Mikro i Nano-krystaliczne materiały gradientowe do zastosowań w przemyśle<br />

transportowym)<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2010 – 2013<br />

ACTMOST - Access to Micro-Optics Expertise, Services &<br />

Technologies<br />

(Dostęp do wiedzy, usług i technologii mikrooptycznych)<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. R. Buczyński<br />

Termin realizacji: 2010 - 2013<br />

Inne projekty między<strong>na</strong>rodowe:<br />

POLSKO - FRANCUSKI<br />

PROJEKT POLONIUM<br />

Czynniki mezo- i makroskopowe w procesie akumulacji defektów radiacyjnych<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr hab. inż. J. Jagielski<br />

Termin realizacji: 2009 - 2011<br />

Charakteryzacja i modelowanie defektów radiacyjnych w ceramikach<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr I. Joźwik<br />

Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />

Cienkie krzemowe monokrystaliczne ogniwa słoneczne z kolektorami fluorescencyjnymi<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. G. Gawlik<br />

Termin realizacji: 2010 - 2011<br />

Opracowanie metody ilościowej a<strong>na</strong>lizy rozkładów defektów złożonych w kryształach<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr hab. inż. A. Turos<br />

Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />

Funkcjo<strong>na</strong>lne podfalowe eutektyczne struktury fotoniczne<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />

Plazmoniczne podzespoły i urządzenia<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr A. Kłos<br />

Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />

Opracowanie technologii wytwarzania epitaksjalnego grafenu do zastosowań w tranzystorach nowej<br />

generacji.<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr hab. J. Baranowski, dr inż. W. Strupiński<br />

Termin realizacji: 2010 - <strong>2012</strong><br />

Nowe pasty nieorganiczne do hybrydowych drukowanych układów (demonstratorów)<br />

elektronicznych – Innoinks<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. M. Jakubowska, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2011 - 2014<br />

Hybrydowe materiały półprzewodnikowe do przetwarzania energii słonecznej.<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: prof. dr inż. J.W. Augustyński; dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2011 - 2015<br />

Zobrazowanie radiacyjnej struktury defektowej krzemowych detektorów cząstek dla akceleratorów<br />

zderzeniowych<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. R. Kozłowski<br />

Termin realizacji: 2010 - 2013<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Wybrane tematy realizowane przez <strong>ITME</strong> w <strong>rok</strong>u 2011:<br />

Projekty w ramach Funduszy Strukturalnych:<br />

PROTEUS - Zintegrowany mobilny system wspomagający działania antyterrostyczne i antykryzysowe<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. L. Dobrzański, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2008 – 2013<br />

KomCerMet - Kompozyty i Nanokompozyty Ceramiczno-Metalowe dla Przemysłu Lotniczego i Samochodowego<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2008 – <strong>2012</strong><br />

Wykorzystanie materiałów i konstrukcji inteligentnych do opracowania koncepcji i wyko<strong>na</strong>nia innowacyjnego systemu łożyskowania<br />

wirników mikroturbin energetycznych<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Pietrzak, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2010 – 2013<br />

ZAMAT - Zaawansowane materiały i technologie ich wytwarzania<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. W. Strupiński<br />

Termin realizacji: 2010 – 2013<br />

TEAM - Samo-organizacja dla fotoniki/optoelektroniki<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. D. A. Pawlak, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2009 – 2013<br />

CEZAMAT - Centrum Zaawansowanych Materiałów i Technologii<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. L. Dobrzański, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2008 - 2013<br />

SICMAT - Opracowanie technologii otrzymywania nowoczesnych materiałów półprzewodnikowych <strong>na</strong> bazie węglika krzemu<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. K. Grasza, Dr inż. W. Strupiński<br />

Termin realizacji: 2010 – 2014<br />

RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: mgr A. Waga<br />

Termin realizacji: 2010 - 2014<br />

MINOS - Centrum Mikro- i Nanotechnologii<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr Z. Łuczyński<br />

Termin realizacji: 2010 - 2013<br />

Wsparcie ochrony praw własności przemysłowej dla wy<strong>na</strong>lazku dotyczącego sposobu wytwarzania grafenu<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr inż. W. Strupiński<br />

Termin realizacji: 2010 – 2014<br />

Wsparcie ochrony praw własności przemysłowej dla wy<strong>na</strong>lazku w zakresie elektrochemiczno-mechanicznego polerowania płytek węglika<br />

krzemu (SiC)<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: mgr H. Sakowska<br />

Termin realizacji: 2010 – 2014<br />

Wsparcie ochrony praw własności przemysłowej dla wy<strong>na</strong>lazku w zakresie technologii monokrystalizacji SiC<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: Mgr inż. E. Tymicki<br />

Termin realizacji: 2010 - 2013<br />

Wsparcie fi<strong>na</strong>nsowe ochrony praw własności wy<strong>na</strong>lazków dot. nowej generacji past opartych <strong>na</strong> <strong>na</strong>noproszku srebra przez<strong>na</strong>czonych do<br />

<strong>na</strong>kładania sitodrukiem<br />

Kontakt w <strong>ITME</strong>: dr hab. inż. M. Jakubowska, prof. <strong>ITME</strong><br />

Termin realizacji: 2010 – 2013<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

PROJEKTY WSPÓŁFINANSOWANE PRZEZ UNIĘ EUROPEJSKĄ<br />

ZE ŚRODKÓW EUROPEJSKIEGO FUNDUSZU ROZWOJU REGIONALNEGO<br />

Wybrane tematy realizowane przez <strong>ITME</strong> w <strong>rok</strong>u 2011:<br />

Projekty fi<strong>na</strong>nsowane przez Ministerstwo Nauki i Szkolnictwa Wyższego, Narodowe<br />

Centrum Nauki, Narodowe Centrum Badań i Rozwoju lub Fundację <strong>na</strong> rzecz Nauki<br />

Polskiej:<br />

Badania struktury defektowej i stanu <strong>na</strong>prężeń w <strong>na</strong>noszonych warstwach epitaksjalnych i implantowanych warstwach epitaksjalnych węglika<br />

krzemu.<br />

Badanie wpływu obciążeń punktowych <strong>na</strong> uszkodzenia układu warstwa - podłoże. A<strong>na</strong>liza warstw węglowych do zastosowań biomedycznych.<br />

Dyfrakcyjne elementy do formowania wiązek światła emitowanych przez lasery półprzewodnikowe<br />

Granulowanie <strong>na</strong>noproszków ceramicznych przez wymrażanie-sposób <strong>na</strong> uzyskanie jakości laserowej przezroczystej ceramiki.<br />

Krystalizacja politypu 3C-SiC z roztworu węgla w krzemie- badania, wytworzenie kryształów.<br />

Luminescencyjne <strong>na</strong>nokrystality o strukturze jednoskośnej (YAM) i regularnej (YAG) rozproszone w wieloskładnikowych szkłach<br />

nieorganicznych.<br />

Metoda korekcji stałych mechanicznych, piezoelektrycznych i dielektrycznych kryształów z wykorzystaniem zmierzonych parametrów<br />

akustycznych fal powierzchniowych.<br />

Nowa generacja past opartych <strong>na</strong> <strong>na</strong>noproszku srebra do zastosowań w elektronice.<br />

Nowe aktywne optycznie materiały kompozytowe do zastosowań w źródłach promieniowania <strong>na</strong> zakres widzialny.<br />

Opracowanie diod i liniowych matryc diod laserowych dużej mocy optycznej <strong>na</strong> pasma 808 i 976 nm do celów przemysłowych i pompowania<br />

optycznego: przykładowe zastosowanie w urządzeniu bezkontaktowego precyzyjnego lutowania i zgrzewania.<br />

Opracowanie metody wytwarzania elementów mikrooptycznych i dyfrakcyjnych dla średniej podczerwieni ze szkieł nieorganicznych.<br />

Opracowanie nowej ekologicznej metody wytwarzania złączy ceramika-metal z wykorzystaniem warstw plastycznych.<br />

Opracowanie technologii otrzymywania przezroczystych, polikrystalicznych materiałów do zastosowań optycznych opartych <strong>na</strong> spinelu<br />

glinowo- magnezowym domieszkowanym kobaltem (Co2+:MgAl2O4).<br />

Opracowanie technologii wytwarzania porowatych preform ceramicznych oraz sposobu modyfikacji ich powierzchni.<br />

Pasywne modulatory dobroci dla rezo<strong>na</strong>torów laserowych<br />

Porów<strong>na</strong>nie i a<strong>na</strong>liza własności generacyjnych cienkowarstwowych, wysokodomieszkowanych laserów ND:YAG pompowanych diodami<br />

laserowymi w pasmach 808nm i 885nm<br />

Projektowanie i wytwarzanie światłowodów fotonicznych do zastosowań w zakresie średniej podczerwieni oraz sze<strong>rok</strong>ospektralnych<br />

Projektowanie i wytwarzanie światłowodów fotonicznych ze strukturyzowanym rdzeniem oraz z dwójłomnym płaszczem fotonicznym<br />

Rezystory grubowarstwowe dla "zielonej elektroniki" <strong>na</strong> podłoża i folie LTCC.<br />

Stabilizacja pola optycznego w płaszczyźnie złącza i tłumienie fi lamentacji przez strukturyzację warstwy p-emitera w diodach laserowych dużej<br />

mocy.<br />

Struktura i własności magnetyczne amorficznych i <strong>na</strong>nokrytalicznych stopów Fe-Zr-Si oraz krystalizacja w polu magnetycznym wysokiej<br />

częstotliwości amorficznych stopów (FeCo)-Zr-Si.<br />

Technologia zol-żel do wytwarzania nowych materiałów dla dozymetrii termoluminescencyjnej (tlenki domieszkowane manganem, synteza,<br />

charakteryzacja).<br />

Węglik krzemu (SiC) domieszkowany wybranymi jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich i metali przejściowych jako kandydat do zastosowania w spintronice.<br />

Właściwości mechaniczne i odporność <strong>na</strong> szoki termiczne przezroczystej ceramiki Y2O3 w funkcji mikrostruktury i temperatury.<br />

Włók<strong>na</strong> fotoniczne do generacji supercontinuum w zakresie średniej podczerwieni.<br />

Wpływ zawartości płytkich domieszek <strong>na</strong> właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC.<br />

Wykorzystanie przemiany fazowej do konstrukcji układów chłodzenia matryc diod laserowych dużej mocy.<br />

Wzrost politypu 4H <strong>na</strong> podłożach o strukturze 6H w procesie monokrystalizacji SiC metodą transportu fizycznego z fazy gazowej.<br />

Zastosowanie inżynierii struktury defektowej do modyfikowania własności elektrycznych niedomieszkowanych monokryształów GaP.<br />

JUVENTUS<br />

- Wytwarzanie i charakteryzacja eutektyków półprzewodnikowych do efektywnego przetwarzania energii słonecznej.<br />

- Próby oszacowania wpływu jonów Mn <strong>na</strong> właściwości SrTiO3, TiO2, SrTiO3-TiO2 otrzymanych metodą mikrowyciągania. Badanie zjawiska<br />

magnetoelektrycznego współistnienia w tychże materiałach.<br />

- Próby krystalizacji perowskitów - monokryształów tlenkowych – zawierających pierwiastki ziem rzadkich oraz jony metali przejściowych,<br />

badania ukierunkowane <strong>na</strong> oszacowanie właściwości multiferroicznych otrzymanych związków.<br />

LIDER<br />

- Rozwój <strong>na</strong>no-technologii materiałów III-N dla przyrządów optoelektronicznych powszechnego użytku.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakłady badawczo-<strong>na</strong>ukowe Instytutu:<br />

Telefon*:<br />

Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej<br />

wew. 140, 481<br />

Czystości<br />

Samodziel<strong>na</strong> Pracownia Spektroskopii Mössbauerowskiej wew. 448, 147<br />

Zakład Badań Mikrostrukturalnych; wew. 115, 420<br />

Zakład Ceramiki wew. 150, 472<br />

Zakład Epitaksji wew. 188, 426<br />

Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych wew. 436, 136<br />

Zakład Kompozytów Ceramiczno-Metalowych i Złączy wew. 485, 416<br />

Zakład Materiałów Grubowarstwowych wew. 457, 460<br />

Zakład Optoelektroniki wew. 104, 102<br />

Zakład Piezoelektroniki wew. 113, 409<br />

Zakład Szkieł wew. 456, 437<br />

Zakład Technologii Chemicznych wew. 452, 458<br />

Zakład Technologii Krzemu (+48) 22 834 99 46<br />

Zakład Technologii Monokryształów Tlenkowych (+48) 22 834 99 49<br />

Zakład Technologii Związków Półprzewodnikowych (+48) 22 834 91 86<br />

Zakład Zastosowań Materiałów AIIIBV (+48) 22 834 97 14<br />

* Centrala <strong>ITME</strong>: (+48) 22 835 30 41 – 49<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Laboratorium Charakteryzacji Materiałów Wysokiej Czystości<br />

Laboratorium wykonuje a<strong>na</strong>lizy:<br />

• zanieczyszczeń w materiałach wysokiej czystości;<br />

• pierwiastków ziem rzadkich;<br />

• materiałów dla:<br />

o piezoelektroniki: LiNbO 3, LiTaO 3, LiB 4O 7, kwarc; GdCa 4O(BO 3) 3,:Nd,Yb,Eu,Pr,Tm;<br />

NdCa 4O(BO 3) 3, LaCa 4O(BO 3) 3<br />

o optoelektroniki: LiNbO 3, BaB 2O 4;<br />

o techniki laserowej: YAG: Nd,Er,Ho,Tm,Pr,Yb; Yb 3Al 5O 12: (YbAG):Er; YVO 4:Ho, Yb,Er,Tm;<br />

GdVO 4:Tm,Er; LuVO 4:Tm,Er; RbNd(WO 4) 2:Yb; La 3La 2Ga 3O 12:Cr; Sr 3Y(BO) 3 (BOYS):Yb;<br />

Sr xBa 1-xNb 2O 6 (SBN): Ce,Nd, Ca xBa 1-xNb 2O 6 (CBN);<br />

o scyntylatorów glinowych: LuAlO 3 (LuAP):Pr,Cr,Mo, PrLaAlO 3, LaAlO 3;<br />

o materiałów <strong>na</strong>dprzewodzących: SrLaAlO 4, SrLaGaO 4, SrLaGa 3O 7:Ho; NdGaO 3:Y;<br />

o materiałów <strong>na</strong> podłoża do epitaksji: GaN, GaAs, GaSb, InP;<br />

o różnego rodzaju szkieł technicznych i optycznych;<br />

o złożonych stopów, jak <strong>na</strong> przykład: AgCu28, AgCuZn, AgSnO 2; WCu25, WCuSb, WCuAgNi,<br />

WAgSb, WAg25, AgCuNi, CuZn, SnIn, AgNi, PbSnAg, AgCuPd, SnP;<br />

• ceramik;<br />

• wody, ścieków i powietrza;<br />

• chromu (VI) w powłokach cynkowych pasywowanych;<br />

Prowadzi także badania czynników występujących w środowisku pracy oraz zajmuje się projektowaniem i<br />

opracowywaniem metod a<strong>na</strong>litycznych, w tym również dla potrzeb ochrony środowiska.<br />

Laboratorium spełnia wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.<br />

Posiada certyfikat Laboratorium Akredytowanego Nr AB 267 udzielony<br />

przez Polskie Centrum Akredytacji w zakresie:<br />

Materiał:<br />

Zawartość<br />

Woda i ścieki<br />

Cr, Cu, Pb, Zn, Cd, Fe, Na, K, As,<br />

Mn, Ni, Mg,<br />

(0,1÷1000 mg/l)<br />

AsH 3<br />

Powietrze <strong>na</strong><br />

(0,019 - 0,19 mg/m 3 )<br />

stanowisku pracy PH 3 (0,07 - 1,14 mg/m 3 )<br />

NO x (0,5 - 7,0 mg/m 3 )<br />

Powłoki cynkowe<br />

Cr VI<br />

pasywowane<br />

(0,02 - 2,00 µg/cm 2 )<br />

Laboratorium wykonuje a<strong>na</strong>lizy stosując klasyczne<br />

metody chemiczne oraz nowoczesne techniki<br />

instrumentalne (spektrometria masowa, spektrometria<br />

w ultrafiolecie i zakresie widzialnym, płomieniowa<br />

atomowa spektrometria absorpcyj<strong>na</strong>, atomowa<br />

spektrometria absorpcyj<strong>na</strong> w kuwecie grafitowej).<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Samodziel<strong>na</strong> Pracownia Spektroskopii Mössbauerowskiej<br />

Pracownia prowadzi działalność <strong>na</strong>ukowo-badawczą w zakresie fizyki ciała stałego i inżynierii materiałowej, w<br />

tym w szczególności badania struktury i własności magnetycznych <strong>na</strong>stępujących grup materiałów zawierających<br />

żelazo <strong>na</strong>turalne lub wprowadzony izotop 57 Fe:<br />

• amorficzne i <strong>na</strong>nokrystaliczne stopy żelaza<br />

• materiały <strong>na</strong>nokompozytowe<br />

• multiferroiki<br />

• perowskity<br />

• stale<br />

• cienkie warstwy<br />

• układy wielowarstwowe<br />

• <strong>na</strong>nocząstki powlekane węglem<br />

• aerozole atmosferyczne (badanie sezonowych zmian koncentracji żelaza, szacowanie wielkości cząstek<br />

zawierających żelazo, określanie zanieczyszczenia atmosfery).<br />

Charakteryzacja badanych materiałów jest prowadzo<strong>na</strong> metodą spektroskopii mössbauerowskiej <strong>na</strong> izotopie 57 Fe<br />

przy wykorzystaniu źródeł 57 Co:<br />

• pomiary mössbauerowskie konwencjo<strong>na</strong>lną metodą w geometrii transmisyjnej dostarczają informacji <strong>na</strong><br />

temat własności strukturalnych i magnetycznych materiałów; pomiary moż<strong>na</strong> prowadzić w zakresie<br />

temperatur od 10 K (w kriostacie) do 800 K (w piecyku);<br />

• pomiary metodą spektroskopii mössbauerowskiej elektronów kon<strong>wersji</strong> (CEMS) i promieniowania X<br />

(CXMS) umożliwiają badanie własności powierzchniowych stopów;<br />

• pomiary opracowaną w Pracowni, unikalną w skali światowej metodą "rf-Mössbauer" (pomiar w<br />

geometrii transmisyjnej w polu magnetycznym wysokiej częstości) umożliwiają badanie miękkich<br />

własności magnetycznych oraz magnetostrykcji.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Badań Mikrostrukturalnych<br />

Zakład prowadzi badania podstawowe i aplikacyjne w dziedzinie badań materiałowych. Podstawowe kierunki<br />

działalności to rozwijanie metod badań i modyfikacji materiałów, a w szczególności badania własności<br />

strukturalnych, funkcjo<strong>na</strong>lnych i mikrotopografii powierzchni materiałów.<br />

Prowadzone prace skoncentrowane są <strong>na</strong>:<br />

• a<strong>na</strong>lizie powierzchni materiałów metodami elektronowej mikroskopii skaningowej (SEM),<br />

• badaniach materiałowych przy użyciu wysokorozdzielczej dyfraktometrii rentgenowskiej (HRXRD),<br />

• zastosowaniu promieniowania synchrotronowego do badań struktur materiałów elektronicznych,<br />

• rentgenowskich badaniach wysokotemperaturowych,<br />

• rozwoju metod numerycznych w zastosowaniu do a<strong>na</strong>lizy rentgenowskich profili dyfrakcyjnych<br />

i reflektometrycznych,<br />

• rozwoju metod modyfikacji materiałów przy pomocy implantacji jonów ,<br />

• modelowaniu procesów akumulacji defektów radiacyjnych w materiałach stosowanych w inżynierii<br />

jądrowej,<br />

• modyfikacji własności funkcjo<strong>na</strong>lnych polimerów,<br />

• badaniach własności tarciowych i zużyciowych warstwy wierzchniej materiałów,<br />

• badaniach emisji światła z przyrządów krzemowych.<br />

Zakład prowadzi również działalność usługową w zakresie:<br />

• badania mikrostruktury materiałów,<br />

• implantacji jonów w różnych materiałach,<br />

• osadzania warstw powierzchniowych.<br />

Prace Zakładu są cenione <strong>na</strong> świecie. Jego <strong>na</strong>ukowcy realizują projekt w ramach programu „Open Access”.<br />

Projekt ten jest pierwszym i jak dotąd jedynym projektem z Polski przyjętym do realizacji przez Pacific Northwest<br />

Natio<strong>na</strong>l Laboratory (Richland, USA), które jest głównym ośrodkiem badawczym w Sta<strong>na</strong>ch Zjednoczonych<br />

zajmującym się zagadnieniami paliw jądrowych. Realizowany projekt ma <strong>na</strong> celu a<strong>na</strong>lizę defektów radiacyjnych w<br />

materiałach przewidzianych do produkcji paliw jądrowych i jednocześnie do immobilizacji odpadów<br />

radioaktywnych powstających w reaktorach energetycznych.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Zakład Ceramiki<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Ceramiki zajmuje się inżynierią materiałów ceramicznych i ceramicznych kompozytów.<br />

Przedmiotem prac badawczych są <strong>na</strong>nostrukturalne materiały tlenkowe (AI 2O 3, AI 2O 3 + ZrO 2, ZrO 2 + Y 2O 3,<br />

Y 2O 3, MgO·Al 2O 3) o bardzo wysokiej wytrzymałości i odporności <strong>na</strong> pękanie, ścieranie i wstrząsy cieplne.<br />

Szczególną uwagę poświęca się zależnościom między mikrostrukturą tworzywa a mechanicznymi własnościami<br />

ceramiki i kompozytów oraz mechanizmom odpowiedzialnym za obserwowane umocnienie materiału. W<br />

obszarze tym prowadzone są także prace <strong>na</strong>d właściwościami <strong>na</strong>dplastycznymi ceramiki. Kolejnym kierunkiem<br />

działalności prowadzonej w Zakładzie są badania <strong>na</strong>d otrzymywaniem polikrystalicznych tworzyw<br />

przezroczystych. W postaci przezroczystej ceramiki wytwarzane są gra<strong>na</strong>t itrowo-glinowy tzw. YAG,<br />

niedomieszkowany lub domieszkowany jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich (aktualnie Nd, Yb, Tm i Ce), tlenek itru oraz spinel<br />

magnezowo- glinowy.<br />

Na podstawie technologii opracowanych w Zakładzie wytwarzane są wyroby konstrukcyjne z ceramiki<br />

korundowo-cyrkonowej pracujące w warunkach wstrząsu cieplnego, wyroby z ceramiki cyrkonowej<br />

stabilizowanej tlenkiem itru (TZP) o dosko<strong>na</strong>łej odporności <strong>na</strong> pękanie i ścieranie (np. końcówki<br />

antystatycznych <strong>na</strong>rzędzi regulacyjnych urządzeń elektronicznych), elementy aparatury laboratoryjnej<br />

wykonywane z ceramiki wysokokorundowej, ceramiki itrowej (Y 2O 3) lub cyrkonowej, np. łódki, tygle, pręty, rurki.<br />

Zakład świadczy usługi badawcze i pomiarowe z zastosowaniem urządzeń do badań<br />

wytrzymałościowych (także w podwyższonych temperaturach do 1500 o C) oraz do bezpośredniej obserwacji<br />

propagacji pęknięć w materiale ceramicznym. Na bazie pieca do badań wytrzymałościowych w podwyższonej<br />

temperaturze skonstruowano także układ do poddawania szokom termicznym próbek ceramicznych zarówno<br />

przy chłodzeniu jak i <strong>na</strong>grzewaniu. W ofercie jest również pomiar kąta zwilżania przez wodę różnych<br />

materiałów, urządzaniem Easy–Drop produkcji firmy Kruss. Zakład posiada również stanowisko do pomiaru<br />

właściwości katalitycznych warstw dwutlenku tytanu, które składa się z komory o pojemności ok. 3 dm 3<br />

wyposażonej w układ pompowy i podłączonego do komory a<strong>na</strong>lizatora gazów, w postaci spektrometru<br />

masowego. Medium podlegającym degradacji jest etanol. Spektrometr masowy mierzy zmiany składu<br />

atmosfery gazowej w komorze, w tym zmiany koncentracji etanolu w wyniku fotodegradacji w funkcji czasu<br />

<strong>na</strong>świetlania promieniowaniem UV.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Epitaksji<br />

Zakład składa się z Pracowni Epitaksji Krzemu oraz Pracowni Miernictwa Warstw Epitaksjalnych. Obszary<br />

działalności Zakładu:<br />

• wytwarzanie krzemowych warstw epitaksjalnych metodą chemicznego osadzania z fazy gazowej<br />

(CVD),<br />

• wytwarzanie warstw epitaksjalnych gra<strong>na</strong>tów z wykorzystaniem metody epitaksji z fazy ciekłej,<br />

• pomiary parametrów krzemowych warstw epitaksjalnych,<br />

• badanie właściwości centrów defektowych w kryształach materiałów półprzewodnikowych,<br />

• rozwój metod badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych<br />

• sze<strong>rok</strong>iej przerwie zabronionej takich jak: GaP, SiC, GaN czy AlN.<br />

W Zakładzie, miedzy innymi, opracowano technologie wytwarzania <strong>na</strong>jwyższej jakości krzemowych warstw<br />

epitaksjalnych, a w szczególności warstw epitaksjalnych dla detektorów cząstek o wysokiej energii.<br />

Opracowano również technologie wytwarzania warstw epitaksjalnych gra<strong>na</strong>tów do zastosowań w laserach <strong>na</strong><br />

ciele stałym.<br />

Zakład ściśle współpracuje z czołowymi ośrodkami <strong>na</strong> świecie, w tym:<br />

• z ośrodkiem CERN w ramach programu pt.: Radiation hard semiconductor devices for very high<br />

luminosity colliders – RD50. Zakres współpracy obejmuje wytwarzanie warstw epitaksjalnych o dużej<br />

odporności <strong>na</strong> radiację oraz badanie radiacyjnych centrów defektowych w krzemie <strong>na</strong>promieniowanym<br />

dużymi dawkami hadronów.<br />

• z Laboratoire de Genie Electrique de Paris i Naval Researche Laboratory oraz University of South<br />

Caroli<strong>na</strong> w zakresie badania centrów defektowych w półprzewodnikach o sze<strong>rok</strong>iej przerwie<br />

energetycznej.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Epitaksji Związków Półprzewodnikowych<br />

W Zakładzie wytwarza się struktury epitaksjalne metodą MOCVD /Metal Organic Chemical Vapour Deposition/ i<br />

CVD /Chemical Vapour Deposition/ związków półprzewodnikowych III-V oraz IV-IV z wykorzystaniem<br />

profesjo<strong>na</strong>lnych reaktorów firmy AIXTRON. Najwyższej jakości hetero-struktury stosowane są do produkcji<br />

nowoczesnych przyrządów elektronowych oraz do badań podstawowych.<br />

• związki III-V: GaAs- , InP-, GaSb- i GaN-pochodne: GaAs, AlAs, AlGaAs, InP, InGaAs, InGaAsP, InAlAs,<br />

InGaP, GaN, AlN, GaAlN, GaInN, GaSb, GaAlSb, GaInSb, InSb, GaAlAsSb, GaInAsSb, itp.<br />

Zastosowanie : tranzystory, lasery F-P, lasery VCSEL, lasery QCL, diody LED, detektory, waraktory,<br />

diody mikrofalowe, SOA, falowody, itp. Wytwarzane struktury: studnie kwantowe (QW), supersieci (SL),<br />

kropki kwantowe (QD), struktury pseudo- i meta-morficzne, itp.<br />

• SiC: diody Schottky’ego, fotodetektory, tranzystory;<br />

• Grafen wytwarzany metodą sublimacji oraz metodą CVD <strong>na</strong> podłożach SiC, Cu, Ni, W.<br />

Ważniejsze heterostruktury epitaksjalne opracowane w ostatnim czasie :<br />

• kwantowe lasery kaskadowe (QCL) <strong>na</strong> bazie InP;<br />

• tranzystory HEMT GaN/AlGaN, AlInN/GaN, GaAs/AlGaAs, InP/InGaAs;<br />

• lasery VCSEL GaAs/AlGaAs oraz InP/InGaAs;<br />

• fotodetektory GaN/AlGaN;<br />

• lasery 808nm GaAs/AlGaAs;<br />

• lasery InGaAsP;<br />

• ogniwa słoneczne InGaP/Ge;<br />

• diody Schottky’ego SiC;<br />

• diody UV GaN/AlGaN;<br />

• diody LED GaN/InGaN.<br />

Do charakteryzacji wytwarzanych materiałów w Zakładzie stosowane są różnorodne techniki takie jak:<br />

mikroskopia optycz<strong>na</strong>, mikroskopia elektronowa, metoda Hall’a, metoda ECV, pomiary rentgenowskie,<br />

fotoluminescencja, pomiary mikrofalowe, spektroskopia Rama<strong>na</strong> i inne. Zakład współpracuje z wieloma<br />

przodującymi światowymi ośrodkami badawczo-rozwojowymi oraz firmami produkcyjnymi w dziedzinie fizyki ciała<br />

stałego, technologii elektronowej i elektroniki oraz inżynierii materiałowej.<br />

Zakład jest między innymi zaangażowany w realizację projektu Epitaxial Graphene Transistor (Opracowanie<br />

technologii wytwarzania epitaksjalnego grafenu do zastosowań w tranzystorach nowej generacji) w ramach<br />

EuroGRAPHENE - EPIGRAT fi<strong>na</strong>nsowanego przez Europejską Fundację Nauki (ESF).<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Kompozytów Ceramiczno-Metalowych i Złączy<br />

Badania i prace technologiczne prowadzone w Zakładzie koncentrują się wokół: wytwarzania ceramicznometalowych<br />

materiałów kompozytowych i gradientowych oraz spajania materiałów zaawansowanych, ze<br />

szczególnym uwzględnieniem zjawisk fizycznych i chemicznych towarzyszącym procesom ich otrzymywania.<br />

Wytwarzane materiały kompozytowe to m.in.:<br />

materiały o wysokiej przewodności cieplnej: Cu-C f, Cu-SiC, Cu-AlN;<br />

materiały stykowe: WC-Ag, W-Cu, W-Cu-Sb, W-Ag;<br />

materiały konstrukcyjne: Al 2O 3-Cr, Al 2O 3-Mo, Al 2O 3 –NiAl, Al 2O 3-Ni 3Al.<br />

Materiały te wytwarzane są przy wykorzystaniu techniki metalurgii proszków (mieszanie – konwencjo<strong>na</strong>lne lub<br />

wysokoenergetyczne; formowanie – prasowanie lub wylewanie folii; spiekanie – swobodne lub pod ciśnieniem)<br />

lub poprzez spiekanie infiltrowanych ciekłym stopem szkieletów. Przy wytwarzaniu kompozytowych materiałów<br />

stykowych wykorzystywane są klasyczne metody metalurgii proszków oraz orygi<strong>na</strong>l<strong>na</strong> technologia <strong>na</strong>sycania.<br />

Osobnym zagadnieniem jest opracowywanie technologii spajania materiałów kompozytowych z innymi<br />

materiałami, w tym <strong>na</strong>d łączeniem różnorodnych materiałów elektroizolacyjnych (ceramika korundowa, azotkowa,<br />

węglikowa, szkło) z metalami (miedź, molibden, stopy FeNi, stale) do aplikacji próżniowych, elektronicznych,<br />

jądrowych i energetycznych. Próżnioszczelne konstrukcje izolowanych przejść prądowych i <strong>na</strong>pięciowych<br />

lutowane są stopami nisko- i wysokotemperaturowymi wyko<strong>na</strong>nymi głównie ze srebra i miedzi - zależnie od<br />

warunków eksploatacyjnych i montażowych złączy.<br />

Opracowane technologie spajania dotyczą: ceramik typu: Al 2O 3, AlN, SiC, Si 3N 4, ZrO 2, metali: Cu, Al, Cr, Mo,<br />

FeNi, FeNiCo, stal, związków międzymetalicznych: NiAl, FeAl oraz materiałów kompozytowych: Cu-C f, Al 2O 3-Cr,<br />

Al 2O 3-Mo, WC-Ag, W-Cu, a stosowane techniki to: metalizacja proszkowa, spajanie bezpośrednie, zgrzewanie<br />

dyfuzyjne, lutowanie w atmosferach ochronnych i aktywne, spajanie z wykorzystaniem FGM.<br />

Wytwarzamy też warstwy metaliczne <strong>na</strong> różnorodnych podłożach ceramicznych oraz specjalne podłoża<br />

warstwowe miedź - ceramika korundowa - miedź wytwarzane techniką spajania bezpośredniego CDB (Copper<br />

Direct Bonding), materiały przez<strong>na</strong>czone do montażu powierzchniowego. Prowadzone są również prace<br />

badawcze, wdrożeniowe i usługowe (technologia wytopów próżniowych) w zakresie wytwarzania stopów metali.<br />

Zakład uczestniczy w Programie Operacyjnym Innowacyj<strong>na</strong> Gospodarka w projektach:<br />

Kompozyty i <strong>na</strong>nokompozyty ceramiczno-metalowe dla przemysłu lotniczego i samochodowego<br />

(KomCerMet), koordy<strong>na</strong>tor - IPPT PAN;<br />

Materiały i konstrukcje inteligentne w budowie mikroturbin energetycznych”, koordy<strong>na</strong>tor - Uniwersytet<br />

Warmińsko-Mazurski w Olsztynie.<br />

Zakład jest członkiem Konsorcjum prowadzącego prace w ramach 7PR EU w projekcie MATRANS (Micro and<br />

Nanocrystalline Functio<strong>na</strong>lly Graded Materials for Transport Applications), a Kierownik Zakładu jest<br />

Koordy<strong>na</strong>torem <strong>na</strong>ukowym tego projektu. Zakład jest członkiem Instytutu KMM-VIN (www.kmm-vin.eu).<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Materiałów Grubowarstwowych<br />

Przedmiotem prac Zakładu są nowoczesne materiały stosowane w technologii grubowarstwowej, <strong>na</strong>kładane <strong>na</strong><br />

podłoża techniką sitodruku, a w szczególności:<br />

• materiały grubowarstwowe przez<strong>na</strong>czone <strong>na</strong> podłoża ceramiczne, wypalane w temperaturach 500 -<br />

1100°C<br />

o przewodzące<br />

o rezystywne<br />

o dielektryczne <strong>na</strong> skrzyżowania i do układów wielowarstwowych<br />

o dielektryczne – zabezpieczające<br />

• materiały grubowarstwowe przez<strong>na</strong>czone <strong>na</strong> podłoża ceramiczne, fotoformowane UV (380-410 nm)<br />

wypalane w temperaturach 500 - 1100°C<br />

o przewodzące<br />

o dielektryczne <strong>na</strong> skrzyżowania i do układów wielowarstwowych<br />

• materiały grubowarstwowe polimerowe, przez<strong>na</strong>czone <strong>na</strong> podłoża elastyczne, utwardzane w<br />

temperaturze poniżej 200°C (m. in. srebrowe, grafitowe, zawierające luminofory)<br />

• materiały do specjalnych zastosowań, w tym kompozyty zawierające <strong>na</strong>norurki węglowe<br />

Zakład oferuje również sze<strong>rok</strong>ą współpracę w dziedzinie materiałów grubowarstwowych dostosowanych do<br />

potrzeb i oczekiwań klientów. Prowadzone są badania materiałów o niestandardowych właściwościach zgodnie z<br />

indywidualnym zapotrzebowaniem zleceniodawców. Udostępniane są niewielkie próbki opracowanych past.<br />

Ostatnio w Zakładzie, między innymi, badano i opracowano:<br />

• materiały grubowarstwowe do wytwarzania mikroukładów o wysokiej skali integracji umożliwiających<br />

łączenie techniki sitodruku z fotolitografią.<br />

• pasty przewodzące zgodne z Dyrektywą ROHS, tj. nie zawierających ołowiu, kadmu ani ich związków.<br />

• bezołowiowe pasty szkliwiące do wytwarzania warstw pośrednich stosowanych w połączeniach ceramiki<br />

z polimerem<br />

• bezołowiowe pasty rezystywne do wytwarzania rezystorów.<br />

• pasty przewodzące do wytwarzania (mikro)układów zdolnych do pracy powyżej 300 o C<br />

• kompozyty zawierające wielościenne <strong>na</strong>norurki węglowe, przez<strong>na</strong>czone do zastosowań w technologii<br />

grubowarstwowej.<br />

Opracowywane materiały <strong>na</strong>jczęściej stosowane są w układach grubowarstwowych, np.: rezystorach,<br />

termistorach, różnego rodzaju czujnikach, wyświetlaczach.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Zakład Optoelektroniki<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład koncentruje się <strong>na</strong> konstruowaniu i badaniach podzespołów oraz przyrządów elektronicznych <strong>na</strong> bazie<br />

materiałów wytwarzanych w innych zakładach <strong>ITME</strong>, w szczególności laserowych. Zakład składa się z pracowni:<br />

Pracownia Projektowania i Pomiarów, w której prowadzone są badania z zakresu projektowania i pomiarów:<br />

• laserów półprzewodnikowych i matryc laserowych,<br />

• zintegrowanych układów laserowych wykorzystujących wszystkie rozwinięte w <strong>ITME</strong> technologie materiałów<br />

laserowych.<br />

Dla charakteryzacji diod laserowych (DL) i diodowych matryc laserowych (DML) rozwinięte są techniki pomiarów:<br />

impulsowych charakterystyk mocowo-prądowych i <strong>na</strong>pięciowo-prądowych (P-I-V) w temperaturach 10 – 70ºC;<br />

charakterystyk P-I-V w reżimie pracy QCW i CW w temperaturach 10 – 70ºC; charakterystyk spektralnych w<br />

zakresie 400 – 1300 nm (w tym z rozdzielczością czasową do 2 ns, w zakresie spektralnym 450 – 850 nm)<br />

impulsowych i CW w temperaturach 10 – 70ºC; kątowych charakterystyk promieniowania [pomiary rozkładu<br />

promieniowania w polu dalekim (FF)]; charakterystyk rozkładu promieniowania w polu bliskim (NF, ~<strong>na</strong> lustrze<br />

laserowym).<br />

Pracownia Technologii Przyrządów, w której wykonywane są usługi technologiczne w zakresie pojedynczych<br />

operacji lub całych ciągów procesów technologicznych. Posiada linie do: fotolitografii kontaktowej do ścieżek 2<br />

μm dla płytek o średnicy do 4”, operacji chemicznych, hydromechanicznego i ciśnieniowego mycia płytek o<br />

średnicy do 4”, a także urządzenia do <strong>na</strong>pylania próżniowego /metodami: sputteringu, elektrowiązkową,<br />

rezystancyjną/ i montażu struktur przyrządowych (lutowanie, klejenie, bonding ultrakompresyjny).<br />

Pracownia dysponuje także kompletną technologią wytwarzania przyrządów piezoelektrycznych, urządzeniem<br />

do precyzyjnej obróbki płytek podłożowych oraz stanowiskami do testowania jakości wyko<strong>na</strong>nych operacji.<br />

Pracownia Badań Optycznych i Termicznych Materiałów Fotonicznych, zajmująca się badaniami z zakresu<br />

• spektroskopii materiałów dla optoelektroniki wytwarzanych w <strong>ITME</strong>, m.in. ceramik laserowych,<br />

<strong>na</strong>noproszków i <strong>na</strong>nokryształów, polimerów, warstw epitaksjalnych, fotonicznych włókien aktywnych, szkieł,<br />

kryształów tlenkowych domieszkowanych i współdomieszkowanych jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich i metali<br />

przejściowych (Yb, Nd, Tm, Er, Co, Bi, Ni);<br />

• układów laserowych wykorzystujących pompowanie diodowe m.in. dla takich materiałów, jak fotoniczne<br />

włók<strong>na</strong> aktywne, warstwy epitaksjalne i kryształy tlenkowe;<br />

• termowizji materiałów i przyrządów optoelektronicznych (profilowanie termiczne, detekcja defektów,<br />

wykrywanie gorących punktów, kontrola jakości montażu diod i matryc laserowych dużej mocy oraz innych<br />

przyrządów optoelektronicznych, jak np. ogniw fotowoltaicznych);<br />

• budowy zaawansowanych układów chłodzenia dla przyrządów optoelektronicznych dużej mocy.<br />

Wyposażenie: stanowisko do pomiarów spektralnych: monochromator, detektory (chłodzony fotopowielacz <strong>na</strong><br />

zakres widzialny, chłodzony detektor InGaAs), źródła pobudzania (diody i matryce laserowe <strong>na</strong> zakresy λ = 780,<br />

808, 885, 911, 976 i 1300 nm, pracujące impulsowo, Q-CW i CW oraz laser argonowy); stanowisko do badań<br />

laserowych materiałów pompowanych diodowo; stanowisko do badań termicznych materiałów i przyrządów:<br />

kamera termowizyj<strong>na</strong> firmy Thermosensorik SM 640 z detektorem InSb (zakres 1,1 – 5,3 µm) i obiektywami IR.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Piezoelektroniki<br />

Działalność Zakładu Piezoelektroniki dotyczy <strong>na</strong>stępujących dziedzin:<br />

• Pomiary stałych elastycznych, piezoelektrycznych i dielektrycznych nowych kryształów<br />

piezoelektrycznych.<br />

• Obliczenia i pomiary Akustycznych Fal Powierzchniowych (AFP), Akustycznych Fal<br />

Pseudopowierzchniowych (AFPP), Akustycznych Poprzecznych Fal Powierzchniowych (APFP)<br />

i Akustycznych Modów Płytowych (AMP) w kryształach piezoelektrycznych.<br />

• Projektowanie i wytwarzanie podzespołów z falami akustycznymi do zastosowań w telekomunikacji i w<br />

czujnikach piezoelektrycznych.<br />

• Prace badawcze <strong>na</strong>d piezoelektrycznymi czujnikami lepkości, temperatury i ciśnienia.<br />

Następujące projekty badawcze, fi<strong>na</strong>nsowane z budżetu państwa, zostały zrealizowane w 2011 <strong>rok</strong>u:<br />

• Pomiary własności akustycznych fal powierzchniowych w krysztale SrLaGa 3O 7.<br />

• Rezo<strong>na</strong>tor kwarcowy z akustyczną poprzeczną falą powierzchniową do zastosowań w czujnikach<br />

temperatury.<br />

• Wyko<strong>na</strong>nie laboratoryjnego miernika lepkości cieczy z akustycznym modem płytowym <strong>na</strong> niobianie litu<br />

o orientacji YZ.<br />

W Zakładzie Piezoelektroniki opracowano program komputerowy do wyz<strong>na</strong>czenia stałych materiałowych z<br />

pomiarów akustycznych fal powierzchniowych. Wyz<strong>na</strong>czono stałe elastyczne, piezoelektryczne i dielektryczne<br />

kryształu GaN w ramach grantu przyz<strong>na</strong>nego przez Armię USA.<br />

Wyz<strong>na</strong>czono także stałe materiałowe kryształu NdCa 4O(BO 3) 3. Kyształ ten jest atrakcyjnym materiałem do<br />

zastosowań w laserach z powielaniem częstotliwości w wiązkach harmonicznych.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Zakład Szkieł<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Działalność badawcza i technologicz<strong>na</strong> Zakładu obejmuje głównie opracowywanie syntez i metod topienia<br />

różnych typów szkieł dla optyki, elektroniki i optoelektroniki oraz przetwarzanie szkieł optycznych <strong>na</strong> różnego typu<br />

struktury włókniste.<br />

Zakład specjalizuje się w <strong>na</strong>stępujących obszarach:<br />

• projektowanie i wytwarzanie różnych rodzajów szkieł optycznych i technicznych (w tym szkieł o wysokiej<br />

transmisji w zakresie VIS, NIR i MidIR; domieszkowanych jo<strong>na</strong>mi ziem rzadkich; barwnych <strong>na</strong><br />

absorpcyjne filtry optyczne);<br />

• odlewanie bloków i rur szklanych (np. rur wyko<strong>na</strong>nych ze szkła boro-krzemianowego o wysokiej<br />

transmisji optycznej lub z „czarnego szkła” typu EMA);<br />

• przetwórstwo szkła metodą ceramiczną (mielenie, prasowanie, wypalanie);<br />

• mechanicz<strong>na</strong> obróbka szkła metodami cięcia, zakrążania, szlifowania i polerowania (wytwarzanie<br />

elementów szklanych <strong>na</strong> preformy do wyciągania włókien);<br />

• projektowanie i wytwarzanie różnych typów struktur multikapilarowych (np. do nebulizacji cieczy w<br />

spektrometrach a<strong>na</strong>litycznych);<br />

• kształtowanie i kalibrowanie cienkościennych rur szklanych (zmia<strong>na</strong> ich przekroju, kształtu, grubości<br />

ścianki, średnicy);<br />

• wyciąganie różnego rodzaju i kształtu prętów optycznych, wielordzeniowych prętów światłowodowych,<br />

wyspecjalizowanych włókien optycznych;<br />

• wytwarzanie struktur światłowodowych i obrazowodowych (np. końcówek światłowodowych do lamp<br />

stomatologicznych, płytek i taperów z optyki włóknistej, obrazowodów prętowych, wyspecjalizowanych<br />

wiązek światłowodowych, w tym z włókien kwarcowych);<br />

• opracowywanie i wytwarzanie różnych typów mikrostrukturalnych włókien optycznych typu PCF<br />

(Photonic Crystal Fiber) ze szkieł wieloskładnikowych (np. włókien nieliniowych do generacji<br />

supercontinuum, włókien o wysokiej dwójłomności).<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Technologii Chemicznych<br />

Zakład specjalizuje się w <strong>na</strong>stępujących dziedzi<strong>na</strong>ch:<br />

• chemicz<strong>na</strong> synteza <strong>na</strong>nokrystalicznych materiałów dla zastosowań w elektronice i optoelektronice,<br />

• galwaniczne <strong>na</strong>kładanie powłok,<br />

• trawienie kształtowe blach metalowych,<br />

• usuwanie toksycznych substancji ze ścieków przemysłowych, zwłaszcza galwanicznych.<br />

Nową podjętą tematyką badawczą jest chemiczne i elektrochemiczne wytwarzanie <strong>na</strong>nopłatków grafenowych.<br />

Materiały <strong>na</strong>nokrystaliczne wytwarza się metodami:<br />

• zol-żel,<br />

• współstrącania,<br />

• syntezy spaleniowej.<br />

Otrzymywane materiały z<strong>na</strong>jdują zastosowanie jako:<br />

- materiały wyjściowe do wytwarzania ceramik laserowych. Przykładowe produkty: YAG (gra<strong>na</strong>t itrowo-glinowy) z<br />

koncentracją domieszki neodymu aż do 27,5 % at.; Y 4Al 2O 9 (YAM) o strukturze jednoskośnej domieszkowany<br />

neodymem, gra<strong>na</strong>t gadolinowo-galowy Gd 3Ga 5O 12 (GGG) domieszkowany jo<strong>na</strong>mi neodymu, europu i erbu oraz<br />

inne.<br />

- kompozyty <strong>na</strong> bazie matryc organicznych i nieorganicznych. Przykładowe produkty: materiały katodowe do<br />

baterii litowo-jonowych.<br />

- luminofory świecące w różnych zakresach fal, w tym: luminofor światła białego SrCe 2O 4, <strong>na</strong>nokrystaliczny Y 2O 3<br />

współdomieszkowany jo<strong>na</strong>mi neodymu i iterbu oraz perowskit itrowo-glinowy, mający zastosowanie w holografii<br />

oraz dozymetrii termoluminescencyjnej promieniowania jonizującego.<br />

Zakład wykonuje prace w zakresie <strong>na</strong>kładania powłok galwanicznych a także prowadzi badania z dziedziny<br />

galwanotechniki i ochrony środowiska. W szczególności oferujemy:<br />

• <strong>na</strong>kładanie powłok galwanicznych ze złota, srebra, miedzi, niklu, palladu i stopowych PdNi20;<br />

• <strong>na</strong>kładanie powłok niklu bezprądowego (tzw. chemicznego) Ni-P, zwłaszcza <strong>na</strong> stopach aluminiowych;<br />

• polerowanie chemiczne i elektrochemiczne stopów miedzi;<br />

• pomiary grubości powłok metodą fluorescencji rentgenowskiej;<br />

• pomiary mikrotwardości powłok;<br />

• usuwanie toksycznych substancji ze ścieków przemysłowych, w szczególności galwanicznych;<br />

• precyzyjnym wytrawianiem detali otrzymywanych z folii i blach metalowych przy zastosowaniu<br />

fotolitografii;<br />

• metalowe szablony stosowane w technologii montażu powierzchniowego.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Technologii Krzemu<br />

W laboratoriach Zakładu rozwinęliśmy różne technologie wytwarzania produktów krzemowych, takie jak CZ<br />

(metoda Czochralskiego), MCZ (magnetycz<strong>na</strong> metoda Czochralskiego), czy FZ (metoda beztyglowa). Oferujemy<br />

monokryształy i płytki krzemowe (różnych rodzajów) o średnicach od 50 do 150 mm – standardowe i<br />

po<strong>na</strong>dstandardowe. Dostarczamy płytki krzemowe bezpośrednio po cięciu, trawione oraz polerowane jedno- lub<br />

obustronnie, w zależności od potrzeb.<br />

Równolegle Zakład prowadzi badania jakości powierzchni płytek i warstw pod powierzchnią oraz <strong>na</strong>d<br />

technologiami wytwarzania płytek krzemowych, takimi jak: zastosowania płynnego wosku, metody adhezyjne,<br />

wybór mieszanek trawiących do trawienia krzemu, elimi<strong>na</strong>cja z powierzchni polerowanych płytek defektów typu<br />

„haze”, czy poprawa czystości krzemu w polerowanych płytkach do standardów światowych.<br />

Bada się także defekty typu „haze”, OSF, S-PITS oraz przydatność różnych materiałów do procesów<br />

geterowania wewnętrznego.<br />

W Zakładzie opracowano procesy technologiczne wytwarzania krzemu, w których:<br />

• osiągnięto kontrolowaną zawartość tlenu w monokryształach krzemu <strong>na</strong> poziomie 6,5 ÷ 8,7*10 17 atomów<br />

<strong>na</strong> cm 3 lub 8,7 ÷ 9,5 atomów <strong>na</strong> cm 3 oraz wdrożono oprogramowanie do automatycznej kontroli<br />

procesów wzrostu kryształów);<br />

• sterując warunkami topienia i przepływu argonu z<strong>na</strong>cząco ograniczono wpływ migracji węgla w krzemie<br />

podczas wzrostu kryształów (standardowa zawartość węgla w wytwarzanych monokryształach krzemu<br />

jest niższa niż 2,5*10 16 atomów <strong>na</strong> cm 3 );<br />

• uzyskuje się monokryształy Φ 1˝ , Φ2˝ i Φ3” o nietypowych orientacjach (, , , ,<br />

, , , , , );<br />

• polerowane płytki krzemowe o średnicach do Φ100 mm i grubościach >2000 µm charakteryzują się<br />

tolerancją grubości TTV i falistości


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Technologii Monokryształów Tlenkowych<br />

Zakład prowadzi badania w zakresie wytwarzania nowych materiałów dla optoelektroniki, przede wszystkim w<br />

postaci monokryształów. Są to materiały: laserowe aktywne, do pasywnej modulacji dobroci rezo<strong>na</strong>torów<br />

laserowych (Q-switch), do powielania częstości, scyntylacyjne, podłożowe pod warstwy azotku galu i<br />

wysokotemperaturowych warstw <strong>na</strong>dprzewodzących, piezoelektrycznych materiałów do układów elektronicznych<br />

z falą powierzchniową.<br />

Równolegle są prowadzone badania <strong>na</strong>d krystalizacją węglika krzemu, badania <strong>na</strong>d otrzymywaniem<br />

materiałów o nieliniowych własnościach optycznych metodą krystalizacji z roztworów wysokotemperaturowych z<br />

zastosowaniem ekstremalnie niskich gradientów temperatury, badania <strong>na</strong>d krystalizacją niobianu barowo<br />

strontowego, który w zależności od stosunku strontu do baru wykazuje własności ferroelektryczne lub<br />

relaksorowe.<br />

W Zakładzie opracowano metodę i otrzymywane są kryształy fluorku wapnia i fluorku baru metodą Bridgma<strong>na</strong>,<br />

stosowane jako ok<strong>na</strong> <strong>na</strong> podczerwień.<br />

Rozwijane też są badania <strong>na</strong>d otrzymywaniem struktur fotonicznych oraz metamateriałów.<br />

Zakład realizuje statutowe i strukturalne projekty, a także od wielu lat równolegle między<strong>na</strong>rodowe. Obecnie<br />

jest koordy<strong>na</strong>torem europejskiego projektu ENSEMBLE /Samoorganizujące się wieloskładnikowe struktury ze<br />

sterowalnymi niekonwencjo<strong>na</strong>lnymi własnościami elektromagnetycznymi/. Współdziała także w projektach<br />

europejskich COST. Aktywnie działa w programie TEAM dla młodych <strong>na</strong>ukowców.<br />

Ostatnio, między innymi, Zakład brał udział w badaniach i pracach technologicznych związanych z<br />

opracowaniem:<br />

• samoorganizujących się mikro i <strong>na</strong>nomateriałów hybrydowych;<br />

• polikrystalicznego gra<strong>na</strong>tu itrowo glinowego Nd:YAG do zastosowań laserowych;<br />

• materiałów do zastosowań w przełącznikach optycznych <strong>na</strong> bazie domieszkowania iterbem<br />

monokryształów tlenkowych zawierających stechiometryczny neodym;<br />

• krystalizacja i charakteryzacja bikryształów eutektyku SrTiO 3;<br />

• kompozyty zawierających mikro i <strong>na</strong>nokryształy boranów do zastosowań w optyce nieliniowej;<br />

• materiałów <strong>na</strong> bazie węglika krzemu do zastosowań w elektronice wielkich częstotliwości, dużych mocy i<br />

wysokich temperatur;<br />

• procesów technologicznych monokrystalizacji podłoży z węglika krzemu oraz obróbki powierzchni<br />

węglika krzemu;<br />

• samopowielającego się lasera <strong>na</strong> podczerwień i światło widzialne /światło czerwone, zielone i niebieskie/<br />

z wykorzystaniem kryształu GdCOB;<br />

• <strong>na</strong>nokrystalicznych materiałów dla optoelektroniki otrzymywane metodą zol-żel;<br />

• monokryształów YAG:Co +2 i, YVO:Nd , Nd:GdCa 4O(BO 3) 3., YAG:V +3 .<br />

YAG:Nd<br />

SBN<br />

YVO:Nd<br />

NdGaO 3<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Technologii Związków Półprzewodnikowych<br />

Działalność Zakładu polega <strong>na</strong>:<br />

• opracowywaniu metod wytwarzania monokryształów związków półprzewodnikowych i innych<br />

specjalnych materiałów;<br />

• badaniu właściwości (elektrycznych, strukturalnych i optycznych) materiałów półprzewodnikowych;<br />

• małoseryjnej produkcji materiałów elektronicznych takich jak związki półprzewodnikowe A III B V (GaAs,<br />

InAs, GaP, InP, GaSb, InSb) oraz innych o bardzo wysokiej czystości;<br />

• opracowaniu metod wytwarzania i badaniach nowych materiałów termoelektrycznych i dla spintroniki;<br />

• opracowaniu metod wytwarzania i badaniach izolatorów topologicznych.<br />

W Zakładzie, między innymi, opracowano technologie wytwarzania i metody badań jakości związane z<br />

półprzewodnikami A III B V :<br />

• B 2O 3 z kontrolowaną zawartością H 2O dla potrzeb krystalizacji związków AIIIBV techniką LEC;<br />

• injekcyj<strong>na</strong> metoda syntezy związków A III B V (GaAs, InAs, GaP, InP);<br />

• monokryształy InAs (średnica 2”, orientacja i ) o koncentracji nośników n6000 cm 2 /Vs;<br />

• monokryształy i płytki podłożowe InP (średnica 2” i 3”, orientacja ) domieszkowane siarką oraz<br />

półizolacyjne domieszkowane żelazem i niedomieszkowane o oporności ρ>10 7 Ωcm;<br />

• monokryształy i płytki podłożowe GaP (średnica 2” i 3”, orientacja , i )<br />

domieszkowane siarką i niedomieszkowane o wysokim stopniu czystości, o koncentracji nośników<br />

n140 cm 2 /Vs;<br />

• monokryształy i płytki podłożowe GaSb (średnica 2”, orientacja i ) niedomieszkowane o<br />

wysokiej czystości, domieszkowane <strong>na</strong> typ n tellurem oraz <strong>na</strong> typ p krzemem lub cynkiem (Czochralski);<br />

• jednorodne mieszane monokryształy Ga 1-xIn xAs (x


Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych<br />

Zakład Zastosowań Materiałów A III B V<br />

Zakład opracowuje technologię i konstrukcję przyrządów półprzewodnikowych <strong>na</strong> monokrystalicznych<br />

podłożach i warstwach epitaksjalnych <strong>na</strong>noszonych w <strong>ITME</strong>, a także zapewnia zwrotną informację <strong>na</strong> temat<br />

jakości kryształów i warstw. Część z tych przyrządów jest sprzedawa<strong>na</strong>.<br />

W Zakładzie opracowano:<br />

• technologię tranzystora MESFET <strong>na</strong> GaAs wykorzystującą bezpośrednią implantację jonów do<br />

półizolacyjnego kryształu,<br />

• układy scalone z GaAs w układach BFL (buffered fet logic),<br />

• detektory promieniowania X, alfa i gamma z arsenku galu,<br />

• tranzystory HEMT oraz rezo<strong>na</strong>nsowe diody tunelowe (RTD) z GaAs/InGaAs/AlGaAs,<br />

• tranzystory HEMT oraz rezo<strong>na</strong>nsowe diody tunelowe (RTD) z InP/InGaAs/InAlAs,<br />

• bolometr i elementy termoczułe wyko<strong>na</strong>ne metodą mikromechaniki krzemowej,<br />

• detektory ultrafioletu oparte <strong>na</strong> diodach Schottky’ego GaN/AlGaN oraz diodach p-i-n,<br />

• tranzystory HEMT z GaN/AlGaN,<br />

• wysoko<strong>na</strong>pięciowe diody Schottky’ego <strong>na</strong> węgliku krzemu SiC,<br />

• technologię wytwarzania laserów SCH (separate confinement heterostructure),<br />

• technologię dyfrakcyjnych elementów optycznych (DOEs),<br />

• technologię masek chromowych wysokiej jakości do fotolitografii.<br />

Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych; ul Wólczyńska 133; PL-01-919 Warszawa<br />

Telefon: (+48) 22 835 30 41 - 49; Faks: (+48) 22 864 54 96, (+48) 22 834 90 03<br />

http:// www.itme.edu.pl; e-mail: itme@itme.edu.pl;

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!