12.07.2015 Views

Глава 3. Строение вещества в конденсированном состоянии

Глава 3. Строение вещества в конденсированном состоянии

Глава 3. Строение вещества в конденсированном состоянии

SHOW MORE
SHOW LESS
  • No tags were found...

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Кристаллографические системы координат часто бы<strong>в</strong>ают непрямоугольными.Согласно закону целых чисел, открытому <strong>в</strong> 1784 г. Гаюи (Франция), грани кристалла<strong>в</strong>сегда ориентиро<strong>в</strong>аны <strong>в</strong> пространст<strong>в</strong>е так, что отрезки, отсекаемые на трех координатныхосях кристалла одной гранью, относятся к отрезкам, отсекаемым на тех же осях другойгранью, как целые числа. Гаюи объяснил этот закон тем, что кристаллы построены из частиц,имеющих форму многограннико<strong>в</strong>. Рис. 1.67а иллюстрирует образо<strong>в</strong>ание грани кристалла,состоящего из кубико<strong>в</strong>, а на рис. 1.67б показано, что д<strong>в</strong>е грани СВ и СВ' построенного изкубико<strong>в</strong> кристалла могут отсекать на оси z отрезки ОС и ОС', относящиеся друг к другу как2:1.Частицы, из которых состоят кристаллы, - атомы, ионы или молекулы - располагаются <strong>в</strong>пространст<strong>в</strong>е <strong>в</strong> пра<strong>в</strong>ильном порядке, образуя кристаллическую решетку, которая состоит изэлементарных ячеек, имеющих форму параллелепипедо<strong>в</strong>. На законе целых чисел осно<strong>в</strong>анасистема обозначений граней кристалло<strong>в</strong>. Для каждой грани пишут набор обратных значенийдлин отрезко<strong>в</strong>, отсекаемых ею на осях х, у и z. Эти длины характеризуют целымиотносительными значениями, <strong>в</strong>ыраженными как отношения длин отрезко<strong>в</strong> к <strong>в</strong>еличинам,пропорциональным периодам кристаллической решетки (периоды решетки соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>уютребрам элементарной ячейки-параллелепипеда). Такие обозначения назы<strong>в</strong>аюткристаллографическими индексами граней, или индексами Миллера (1829 г.). На рис. 1.68показаны индексы Миллера для граней кубических и октаэдрических кристалло<strong>в</strong> (знакминус пишут над цифрой).Несмотря на многообразие форм кристалло<strong>в</strong>, их можно строго и однозначноклассифициро<strong>в</strong>ать. Систематизация форм кристалло<strong>в</strong> была <strong>в</strong><strong>в</strong>едена русским академиком А.В. Гадолиным (1867 г.); она осно<strong>в</strong>ана на особенностях симметрии кристалло<strong>в</strong>.


Рис. 1.67. Иллюстрация закона целых чисел: а - формиро<strong>в</strong>ание грани октаэдрическогокристалла, построенного из ячеек, имеющих форму куба; б - проекции граней накоординатной осиРис. 1.68. Кристаллографические индексы граней кубического и октаэдрическогокристалло<strong>в</strong>Симметричные геометрические фигуры обладают одним или несколькими элементамисимметрии: центром, осями или плоскостями симметрии. Центром симметрии С назы<strong>в</strong>аютточку, делящую пополам <strong>в</strong>сякую проходящую через нее прямую, про<strong>в</strong>еденную допересечения с гранями фигуры (рис. 1.69). Плоскость симметрии делит фигуру на д<strong>в</strong>е части,каждая из которых я<strong>в</strong>ляется зеркальным изображением другой. Осью симметрии назы<strong>в</strong>аютлинию, при по<strong>в</strong>ороте <strong>в</strong>округ которой на 360° фигура со<strong>в</strong>падает сама с собой п раз. Число пназы<strong>в</strong>ается порядком оси. Различают оси <strong>в</strong>торого, третьего и т. д. порядко<strong>в</strong> (оси пер<strong>в</strong>огопорядка не рассматри<strong>в</strong>аются, ими обладает <strong>в</strong>сякая фигура - по<strong>в</strong>орот на 360° <strong>в</strong>округ любойлинии при<strong>в</strong>одит к со<strong>в</strong>мещению).Возможны 32 группы симметрии кристаллических форм, каждая из которыххарактеризуется определенным сочетанием элементо<strong>в</strong> симметрии. Сейчас из<strong>в</strong>естныкристаллы <strong>в</strong>сех 32 групп симметрии (<strong>в</strong>о <strong>в</strong>ремена А. В. Гадолина было из<strong>в</strong>естно около 20групп).


Низшая категория, сингоний: а - триклинная (кислый <strong>в</strong>иннокислый стронцийSr[COOH(CHOH) 2 COO] 2 ); б - моноклинная (молочный сахар C 12 H 22 O 11·Н 2 O); <strong>в</strong> - ромбическая(сера); средняя категория, сингоний: г - тригональная (тригидрат периодата натрияNaIO 4·3H 2 O); д - тетрагональная (касситерит SnO 2 ); е - гексагональная (нефелин NaAlSiO 4 );<strong>в</strong>ысшая категория: ж - кубическая сингония (каменная соль NaCI)Необходимым усло<strong>в</strong>ием для образо<strong>в</strong>ания кристалло<strong>в</strong> <strong>в</strong>ысокой симметрии я<strong>в</strong>ляетсясимметричность соста<strong>в</strong>ляющих их частиц. Большинст<strong>в</strong>о молекул, <strong>в</strong> частности органических,несимметрично, поэтому кристаллы <strong>в</strong>ысокой симметрии соста<strong>в</strong>ляют лишь небольшую долюот общего числа из<strong>в</strong>естных.Одно и то же <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>о может иметь различные кристаллические формы, которыеотличаются по <strong>в</strong>нутреннему строению, а значит, и по физико-химическим с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>ам. Такоея<strong>в</strong>ление назы<strong>в</strong>ается полиморфизмом. Например, ярко-красный иодид ртути HgI 2 ,образующий при нормальных усло<strong>в</strong>иях кристаллы тетрагональной сингоний, при 131°Спре<strong>в</strong>ращается <strong>в</strong> ярко-желтую ромбическую форму.Нередко также наблюдается я<strong>в</strong>ление изоморфизма - д<strong>в</strong>а разных по природе <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>образуют кристаллы одинако<strong>в</strong>ой структуры. Такие <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> могут замещать друг друга <strong>в</strong>кристаллической решетке, образуя смешанные кристаллы. Примером изоморфных <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>я<strong>в</strong>ляются алюмокалие<strong>в</strong>ые и хромокалие<strong>в</strong>ые к<strong>в</strong>асцы KAl(SO 4 ) 2·12H 2 O и KCr(SO 4 ) 2·12H 2 O.Смешанные кристаллы я<strong>в</strong>ляются со<strong>в</strong>ершенно однородными смесями т<strong>в</strong>ердых <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> - этот<strong>в</strong>ердые раст<strong>в</strong>оры замещения. Поэтому можно сказать, что изоморфизм - это способностьобразо<strong>в</strong>ы<strong>в</strong>ать т<strong>в</strong>ердые раст<strong>в</strong>оры замещения.К<strong>в</strong>асцы иллюстрируют наиболее со<strong>в</strong>ершенный изоморфизм, когда изоморфные <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>родст<strong>в</strong>енны одно<strong>в</strong>ременно по химическому соста<strong>в</strong>у, по типу химической с<strong>в</strong>язи, по формекристалло<strong>в</strong>, по структуре, по <strong>в</strong>алентности элементо<strong>в</strong>, по размерам замещающих друг другачастиц. При соблюдении не <strong>в</strong>сех признако<strong>в</strong> сходст<strong>в</strong>а соединений изоморфизм считаетсянесо<strong>в</strong>ершенным (что проя<strong>в</strong>ляется <strong>в</strong> ограниченной смеши<strong>в</strong>аемости) или же <strong>в</strong>ообщеотсутст<strong>в</strong>ует. Так, несо<strong>в</strong>ершенен изоморфизм соединений SrSO 4 и K[BF 4 ]. Вещест<strong>в</strong>а NaCl иКСl неизоморфны, хотя и тип с<strong>в</strong>язи, и химический соста<strong>в</strong>, и форма кристалло<strong>в</strong>, и строениеих тождест<strong>в</strong>енны (сказы<strong>в</strong>ается различие <strong>в</strong> радиусах Na + и K + ). Из-за различия атомныхрадиусо<strong>в</strong> и типа химической с<strong>в</strong>язи неизоморфны также CuCl и CuZn, кристаллы которыхимеют одинако<strong>в</strong>ую структуру и одинако<strong>в</strong>ую форму. Хотя r(Na + ) ≈ r(Сu + ), однако NaCl и CuClтакже неизоморфны; сходст<strong>в</strong>о нарушено значительным различием поляризационных с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>катионо<strong>в</strong>.2. Исследо<strong>в</strong>ание структуры кристалло<strong>в</strong>. Пра<strong>в</strong>ильная форма кристалло<strong>в</strong> обусло<strong>в</strong>ленаупорядоченным расположением соста<strong>в</strong>ляющих их частиц - атомо<strong>в</strong>, ионо<strong>в</strong> или молекул. Какуказано <strong>в</strong>ыше, это расположение может быть предста<strong>в</strong>лено <strong>в</strong> <strong>в</strong>иде кристаллической решетки- пространст<strong>в</strong>енного каркаса, образо<strong>в</strong>анного пересекающимися друг с другом плоскостями.В точках пересечения трех плоскостей (узлах решетки) лежат центры частиц, образующихкристалл. Такие предста<strong>в</strong>ления о строении кристаллических тел <strong>в</strong>ысказы<strong>в</strong>ались да<strong>в</strong>номногими исследо<strong>в</strong>ателями, <strong>в</strong> частности М. В. Ломоносо<strong>в</strong> использо<strong>в</strong>ал их для объясненияс<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong> селитры. Однако экспериментально исследо<strong>в</strong>ать <strong>в</strong>нутреннюю структуру кристалло<strong>в</strong>удалось только <strong>в</strong> XX столетии, после того как <strong>в</strong> 1912 г. Лауэ, Фридрих и Книппинг(Германия) открыли я<strong>в</strong>ление дифракции рентгено<strong>в</strong>ских лучей, на котором осно<strong>в</strong>ан методрентгеноструктурного анализа.Длины <strong>в</strong>олн рентгено<strong>в</strong>ских лучей имеют тот же порядок <strong>в</strong>еличины, что и размерыатомо<strong>в</strong>, поэтому кристалл, состоящий из упорядоченно расположенных частиц, предста<strong>в</strong>ляетестест<strong>в</strong>енную дифракционную решетку для рентгено<strong>в</strong>ских лучей.Рассмотрим прохождение через кристалл пучка рентгено<strong>в</strong>ских лучей с длиной <strong>в</strong>олны λ(рис. 1.71). В<strong>в</strong>иду значительной проникающей способности рентгено<strong>в</strong>ского излучениябольшая часть его проходит через кристалл. Некоторая доля излучения отражается отплоскостей, <strong>в</strong> которых расположены атомы, соста<strong>в</strong>ляющие кристаллическую решетку


(атомные плоскости p 1 , р 2 , р 3 ,, р 4 ). Отраженные лучи интерферируют друг с другом, <strong>в</strong>результате чего происходит их <strong>в</strong>заимное усиление или погашение. Оче<strong>в</strong>идно, что результатинтерференции за<strong>в</strong>исит от разности хода δ лучей, отраженных от соседних параллельныхплоскостей. Усиление излучения происходит <strong>в</strong> том случае, когда δ ра<strong>в</strong>но целому числу длин<strong>в</strong>олн, тогда отраженные <strong>в</strong>олны находятся <strong>в</strong> одинако<strong>в</strong>ой фазе. Как <strong>в</strong>идно из рис. 1.71, луч S 1 ,Рис. 1.71. К <strong>в</strong>ы<strong>в</strong>оду ура<strong>в</strong>нения Брегга-Вульфаотраженный от плоскости атомо<strong>в</strong> р 1 , проходит меньший путь, чем луч S 2 , отраженный отсоседней плоскости р 2 ; разность этих путей ра<strong>в</strong>на сумме длин отрезко<strong>в</strong> АВ и ВС. ПосколькуАВ = ВС = d sinϕ, то δ = 2d sinϕ (где d - расстояние между плоскостями отражения, ϕ - угол,образуемый падающим лучом и плоскостью). Усиление отраженного излучения происходитпри усло<strong>в</strong>ииnλ = 2dsinϕ (n - целое число). (1.66)Ура<strong>в</strong>нение (1.66), <strong>в</strong>ы<strong>в</strong>еденное одно<strong>в</strong>ременно и неза<strong>в</strong>исимо <strong>в</strong> 1913 г. Брэггом (Англия) иЮ. В. Вульфом (Россия), я<strong>в</strong>ляется осно<strong>в</strong>ным соотношением, используемым для определениястроения кристалло<strong>в</strong>.Если кристалл ориентиро<strong>в</strong>ан по отношению к падающему на него рентгено<strong>в</strong>скому лучутак, что <strong>в</strong>ыполняется соотношение (1.66), то имеет место отражение лучей. Если же усло<strong>в</strong>ие(1.66) не соблюдается, то отражения не происходит. Так, при δ, ра<strong>в</strong>ном ½λ, лучи,отраженные от соседних плоскостей p 1 и р 2 , находятся <strong>в</strong> проти<strong>в</strong>офазе и <strong>в</strong>заимно погашаются;если δ = ¼λ, то луч, отраженный от плоскости р 1 , погашается лучом, идущим от плоскостир 3 , и т. д.Разумеется, через атомы <strong>в</strong> кристаллической решётке можно про<strong>в</strong>ести очень многоплоскостей. Однако плотность заполнения многих плоскостей атомами не<strong>в</strong>елика, поэтомуотражение от них будет слабым; только от немногих плоскостей достигается яркоеотражение. Интенси<strong>в</strong>ность отраженных лучей неодинако<strong>в</strong>а и за<strong>в</strong>исит от числа атомо<strong>в</strong>,приходящихся на единицу площади плоскости отражения, а также от рассеи<strong>в</strong>ающейспособности атомо<strong>в</strong> данного <strong>в</strong>ида.Рентгеноструктурный анализ кристалло<strong>в</strong> часто про<strong>в</strong>одят методом <strong>в</strong>ращения образца. Поэтому методу кристалл закрепляют на стержне <strong>в</strong> центре цилиндрической камеры, на<strong>в</strong>нутренней стенке которой имеется фотографическая пленка (рис. 1.72). Кристалл при<strong>в</strong>одят<strong>в</strong>о <strong>в</strong>ращение. Сбоку <strong>в</strong> камеру напра<strong>в</strong>ляют через диафрагму рентгено<strong>в</strong>ский луч так, чтобы онпадал перпендикулярно оси <strong>в</strong>ращения.


Рис. 1.72. Схема <strong>в</strong>ыполнения рентгеноструктурного анализа кристалло<strong>в</strong> по методу<strong>в</strong>ращения образца (а) и по методу Дебая - Шеррера (б)При тех положениях кристалла, при которых <strong>в</strong>ыполняется соотношение (1.66),происходит отражение рентгено<strong>в</strong>ского луча. Отраженные лучи регистрируют фотопленкой.Таким образом получают рентгенограмму, состоящую из рядо<strong>в</strong> точек, которые я<strong>в</strong>ляютсяследами отраженных лучей.Наиболее простым способом расшифро<strong>в</strong>ки рентгенограмм я<strong>в</strong>ляется метод проб и ошибок.Исследуемому <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>у приписы<strong>в</strong>ают определенную структуру и по соотношению (1.66)рассчиты<strong>в</strong>ают его рентгенограмму (набор значений межатомных расстояний), которуюсра<strong>в</strong>ни<strong>в</strong>ают с экспериментальной. Если рассчитанная и экспериментальная рентгенограммысо<strong>в</strong>падают, то структура предложена пра<strong>в</strong>ильно, если не со<strong>в</strong>падают, анализ по<strong>в</strong>торяют,предположи<strong>в</strong> другую структуру. Естест<strong>в</strong>енно, что данный метод применим лишь <strong>в</strong> техслучаях, когда структура <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> достаточно проста и ее можно «угадать». Дляустано<strong>в</strong>ления сложных структур используют иные приемы, расшифро<strong>в</strong>ка рентгенограмм <strong>в</strong>омногих случаях предста<strong>в</strong>ляет собой сложную задачу, и про<strong>в</strong>одимые при этом расчетыобычно очень трудоемки (<strong>в</strong> настоящее <strong>в</strong>ремя их про<strong>в</strong>одят с помощью ЭВМ).Для исследо<strong>в</strong>ания структуры <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>, для которых трудно получить сра<strong>в</strong>нительнобольшие кристаллы, применяют метод порошка (метод Дебая - Шеррера). Рентгено<strong>в</strong>скийлуч пропускают через образец, спрессо<strong>в</strong>анный из мелких кристалло<strong>в</strong> исследуемого <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>,отраженные лучи регистрируют на фотопленке (рис. 1.72б).Среди большого числа кристаллико<strong>в</strong> <strong>в</strong> порошке <strong>в</strong>сегда найдутся такие, ориентациякоторых удо<strong>в</strong>лет<strong>в</strong>оряет ура<strong>в</strong>нению (1.66), от этих кристалло<strong>в</strong> произойдет отражениерентгено<strong>в</strong>ских лучей. Получаемые таким образом рентгенограммы назы<strong>в</strong>аютдебаеграммами. Метод порошка экспериментально более прост, чем метод <strong>в</strong>ращения, однакорасшифро<strong>в</strong>ка дебаеграммы, как пра<strong>в</strong>ило, более сложна, для кристалло<strong>в</strong> некоторых типо<strong>в</strong>полное устано<strong>в</strong>ление структуры этим методом <strong>в</strong>ообще не<strong>в</strong>озможно.Обычно метод порошка используют не для устано<strong>в</strong>ления структуры, а дляидентификации <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> и для про<strong>в</strong>едения рентгенофазо<strong>в</strong>ого анализа. Получи<strong>в</strong> дебаеграмму,по спра<strong>в</strong>очным данным для дебаеграмм различных <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> определяют, какое <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>о<strong>в</strong>зято для анализа или сколько его содержится <strong>в</strong> смеси (об этом судят по интенси<strong>в</strong>ностилиний). Анализ с помощью дебаеграммы по сра<strong>в</strong>нению с химическим анализомобеспечи<strong>в</strong>ает быстроту определения и поз<strong>в</strong>оляет решать многие задачи, недоступные для


химического анализа. Например, по дебаеграммам легко различить смеси КВг + NaCl и NaBr+ KCl, чего нельзя достигнуть с помощью химических методо<strong>в</strong>.Отражение рентгено<strong>в</strong>ских лучей от атомо<strong>в</strong> происходит <strong>в</strong> результате <strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ияизлучения с электронами, поэтому определяемые рентгенографически центры атомо<strong>в</strong>я<strong>в</strong>ляются «центрами тяжести» электронных оболочек. Для многоэлектронных атомо<strong>в</strong> этицентры практически со<strong>в</strong>падают с ядрами, для легких атомо<strong>в</strong> положения ядер могут заметноотличаться. Положение протоно<strong>в</strong>, у которых отсутст<strong>в</strong>уют электронные оболочки, <strong>в</strong>ообще неможет быть устано<strong>в</strong>лено рентгеноструктурным анализом. Для решения этой задачииспользуют метод исследо<strong>в</strong>ания, осно<strong>в</strong>анный на дифракции нейтроно<strong>в</strong>. Пучки нейтроно<strong>в</strong>получают с помощью атомного реактора. В отличие от рентгено<strong>в</strong>ских лучей нейтроны не<strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>уют со спаренными электронами*, но они отражаются атомными ядрами.Для исследо<strong>в</strong>ания структуры кристалло<strong>в</strong> применяют также электронографию.Поскольку электроны задержи<strong>в</strong>аются <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>ом значительно сильнее, чем рентгено<strong>в</strong>скиелучи, при электронографическом изучении т<strong>в</strong>ердых тел исследуют прохождение электроно<strong>в</strong>через очень тонкие слои <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>, или изучают дифракцию электроно<strong>в</strong> при отражении их отпо<strong>в</strong>ерхности. Последний метод ценен тем, что он дает <strong>в</strong>озможность определять структурутонких по<strong>в</strong>ерхностных слое<strong>в</strong>, например покры<strong>в</strong>ающих металлы пленок оксидо<strong>в</strong>, нитридо<strong>в</strong> идругих соединений.* Нейтрон не имеет электрического заряда, но обладает магнитным моментом, поэтомуон <strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ует со спино<strong>в</strong>ыми магнитными моментами неспаренных электроно<strong>в</strong>.Результирующий магнитный момент пары электроно<strong>в</strong> ра<strong>в</strong>ен нулю.<strong>3.</strong> Типы кристаллических решеток. Кристаллические решетки подразделяются нанесколько типо<strong>в</strong> <strong>в</strong> за<strong>в</strong>исимости от <strong>в</strong>ида частиц, находящихся <strong>в</strong> узлах решетки, и от характерас<strong>в</strong>язи между ними.В узлах атомных (ко<strong>в</strong>алентных) кристаллических решеток находятся атомы,соединенные друг с другом ко<strong>в</strong>алентными с<strong>в</strong>язями. Вещест<strong>в</strong>, имеющих атомную решетку,сра<strong>в</strong>нительно немного. К ним относятся алмаз, кремний, некоторые соединения элементо<strong>в</strong> суглеродом и кремнием - карбиды и силициды. В структуре атомного кристалла не<strong>в</strong>озможно<strong>в</strong>ыделить отдельные молекулы, <strong>в</strong>есь кристалл можно рассматри<strong>в</strong>ать как одну гигантскуюмолекулу. Поскольку ко<strong>в</strong>алентные с<strong>в</strong>язи <strong>в</strong>есьма прочны, <strong>в</strong>се <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>, имеющие атомныерешетки, я<strong>в</strong>ляются т<strong>в</strong>ердыми, тугопла<strong>в</strong>кими, малолетучими.В узлах молекулярных кристаллических решеток находятся молекулы, которые с<strong>в</strong>язаныдруг с другом слабыми межмолекуляриыми силами. Такие кристаллы образуют <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> ско<strong>в</strong>алентной с<strong>в</strong>язью <strong>в</strong> молекулах. Вещест<strong>в</strong> с молекулярной кристаллической решеткойиз<strong>в</strong>естно очень много. Это т<strong>в</strong>ердые <strong>в</strong>одород, хлор, диоксид углерода и другие <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>,которые при обычной температуре газообразны. Кристаллы большинст<strong>в</strong>а органических<strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> также относятся к этому типу. Молекулярные кристаллические <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>характеризуются значительной летучестью, т<strong>в</strong>ердость их не<strong>в</strong>елика, они легкопла<strong>в</strong>ки.Особенно низкие температуры пла<strong>в</strong>ления и кипения у тех <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>, молекулы которыхнеполярны. Кристаллы, образуемые благородными газами, также следует отнести кмолекулярным, состоящим из одноатомных молекул, поскольку <strong>в</strong>алентные силы <strong>в</strong>образо<strong>в</strong>ании этих кристалло<strong>в</strong> роли не играют, и с<strong>в</strong>язи между частицами имеют тот жехарактер, что и <strong>в</strong> других молекулярных кристаллах.Ионные кристаллические решетки, <strong>в</strong> узлах которых чередуются положительные иотрицательные ионы, характерны для соединений элементо<strong>в</strong>, сильно отличающихся поэлектроотрицательности. Предста<strong>в</strong>ителями этого типа <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> я<strong>в</strong>ляются фториды щелочныхметалло<strong>в</strong>. Как и <strong>в</strong> атомных решетках, <strong>в</strong> ионных кристаллах нельзя <strong>в</strong>ыделить отдельныемолекулы, <strong>в</strong>есь кристалл можно рассматри<strong>в</strong>ать как одну гигантскую молекулу. С<strong>в</strong>язи междуионами прочные, поэтому ионным соединениям с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>енны <strong>в</strong>ысокие температурыпла<strong>в</strong>ления, малая летучесть, большая т<strong>в</strong>ердость, хотя обычно несколько меньшая, чем для


<strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> с атомной решеткой.Многие ионные кристаллы содержат многоатомные ионы, такие как SO 2- 4 , NO - 3 , [HgI 4 ] 2- ,[Cu(NH 3 ) 2 ) 2+ [AlF 6 ] 3- . С<strong>в</strong>язи между частицами, образующими такую решетку, я<strong>в</strong>ляютсяионными, но <strong>в</strong>нутри этих сложных ионо<strong>в</strong> атомы, как пра<strong>в</strong>ило, соединены ко<strong>в</strong>алентнойс<strong>в</strong>язью. Поскольку комплексные ионы имеют большиеРис. 1.7<strong>3.</strong> Кристаллическая решетка натрия. Штрихо<strong>в</strong>кой <strong>в</strong>ыделена элементарная ячейка(кубическая объемноцентриро<strong>в</strong>анная структура)размеры, то силы <strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ия частиц <strong>в</strong> решетке, содержащей многоатомные ионы,значительно слабее, чем <strong>в</strong> решетке, состоящей из одноатомных ионо<strong>в</strong> с теми же зарядами.В<strong>в</strong>иду этого температуры пла<strong>в</strong>ления и т<strong>в</strong>ердость соединений, содержащих многоатомныеионы, более низкие. Например, температура пла<strong>в</strong>ления NaCl ра<strong>в</strong>на 801°С, NaNO 3 - только308°С.Кристаллические решетки, образуемые металлами, назы<strong>в</strong>аются металлическими. В узлахтаких решеток находятся положительные ионы металло<strong>в</strong>, а <strong>в</strong>алентные электроныперед<strong>в</strong>игаются между ними <strong>в</strong> различных напра<strong>в</strong>лениях. Со<strong>в</strong>окупность с<strong>в</strong>ободных электроно<strong>в</strong>иногда назы<strong>в</strong>ают электронным газом. Такое строение решетки обусло<strong>в</strong>ли<strong>в</strong>ает большуюэлектропро<strong>в</strong>одность, теплопро<strong>в</strong>одность и <strong>в</strong>ысокую пластичность металло<strong>в</strong> - примеханическом деформиро<strong>в</strong>ании не происходит разры<strong>в</strong>а с<strong>в</strong>язей и разрушения кристалла,поскольку соста<strong>в</strong>ляющие его ионы как бы пла<strong>в</strong>ают <strong>в</strong> облаке электронного газа.Как указано <strong>в</strong>ыше, любую кристаллическую решетку можно рассматри<strong>в</strong>ать каксо<strong>в</strong>окупность элементарных ячеек. Элементарной ячейкой назы<strong>в</strong>ают ту наименьшую частькристалла, которая сохраняет особенности структуры, характерные для данной решетки. Нарис. 1.73 изображена кристаллическая решетка металлического натрия, <strong>в</strong> которойштрихо<strong>в</strong>кой показана одна из элементарных ячеек. Элементарная ячейка предста<strong>в</strong>ляет собойпараллелепипед, перемещая который <strong>в</strong> напра<strong>в</strong>лений каждой из трех координатных осей x, у иz, можно построить кристаллическую решетку. Эта операция напоминает получениекирпичной кладки. На рис. 1.74 показана элементарная ячейка меди.4. Некоторые кристаллические структуры. Начнем рассмотрение структуры кристалло<strong>в</strong>со структур металло<strong>в</strong>. Для кристаллической решетки большинст<strong>в</strong>а металло<strong>в</strong> характернамаксимально плотная упако<strong>в</strong>ка частиц. Возможны д<strong>в</strong>а <strong>в</strong>арианта плотнейшей упако<strong>в</strong>кисферических тел - кубическая гранецентриро<strong>в</strong>анная и гексагональная (рис. 1.75). Этиструктуры отличаются расположением слое<strong>в</strong> шаро<strong>в</strong> (показаны на рис. 1.75 <strong>в</strong> горизонтальнойплоскости). При гексагональной упако<strong>в</strong>ке шар каждого третьего слоя находится точно надшаром пер<strong>в</strong>ого слоя. В кубической гранецентриро<strong>в</strong>анной структуре шары третьего слоярасположены над лунками между шарами пер<strong>в</strong>ого слоя. В обоих случаях степень заполненияпространст<strong>в</strong>а шарами одинако<strong>в</strong>а и соста<strong>в</strong>ляет 74,05%.


Координационное число атомо<strong>в</strong> <strong>в</strong> том и другом <strong>в</strong>ариантах структуры ра<strong>в</strong>но 12.Примером металла, имеющего плотнейшую кубическую упако<strong>в</strong>ку, я<strong>в</strong>ляется медь (см. рис.1.74), гексагональную - магний.Рис. 1.74. Элементарная ячейка кристаллической решетки меди (кубическаягранецентриро<strong>в</strong>анная структура)Для некоторых металло<strong>в</strong> характерна иная кристаллическая решетка, а именнокубическая объемноцентриро<strong>в</strong>анная. Такую структуру, <strong>в</strong> частности, имеют щелочныеметаллы (см. рис. 1.73). Координационное число <strong>в</strong> этом случае ра<strong>в</strong>но 8.Рис. 1.75. Плотнейшие упако<strong>в</strong>ки шаро<strong>в</strong>:а - гексагональная; б - кубическая гранецентриро<strong>в</strong>аннаяРис. 1.76. Кристаллическая решетка хлорида цезия.С<strong>в</strong>етлые шары - ионы Cs + , темные - ионы Сl - . Сле<strong>в</strong>а показана ячейка CsCl


Рис. 1.77. Кристаллическая решетка хлорида натрия.С<strong>в</strong>етлые шары - ионы Na + , темные - ионы Сl - . Сле<strong>в</strong>а показана элементарная ячейка NaCIСтруктуру, сходную с объемноцентриро<strong>в</strong>анной решеткой металло<strong>в</strong>, имеет хлорид цезия(рис. 1.76). В отличие от металлических решеток эта структура состоит из д<strong>в</strong>ух различныхчастиц - ионо<strong>в</strong> Cs + и С1 - . Координационные числа для этих ионо<strong>в</strong> <strong>в</strong> структуре хлорида цезияра<strong>в</strong>ны 8.Иную структуру имеет хлорид натрия (рис. 1.77). Расположение ионо<strong>в</strong> одного <strong>в</strong>ида,например Сl - , <strong>в</strong> решетке NaCl такое же, как и при кубической плотнейшей упако<strong>в</strong>ке, т. е. этиионы располагаются <strong>в</strong> <strong>в</strong>ершинах куба и <strong>в</strong> центрах каждой его грани. В центре кубическойячейки NaCl находится ион натрия, другие ионы натрия располагаются посередине реберкуба, <strong>в</strong>се <strong>в</strong>месте они образуют такую же сетку, как и хлорид - ионы. Координационное числокак для иона Na + , так и для Сl - <strong>в</strong> структуре хлорида натрия ра<strong>в</strong>но 6, т. е. <strong>в</strong>округ каждого ионарасполагаются шесть ионо<strong>в</strong> другого знака, таким образом образуется пра<strong>в</strong>ильный октаэдр.Структурные типы NaCl и CsCl до<strong>в</strong>ольно широко распространены среди неорганических<strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>, <strong>в</strong> частности структуры <strong>в</strong>сех галогенидо<strong>в</strong> щелочных металло<strong>в</strong> принадлежат к этимтипам. В обычных усло<strong>в</strong>иях решетку типа хлорида цезия имеют CsCl, CsBr и CsI, остальныегалогениды щелочных металло<strong>в</strong> образуют структуру типа NaCl.Некоторые простые <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> (кремний, германий, серое оло<strong>в</strong>о) имеют кристаллическиерешетки, принадлежащие к структурному типу алмаза, ячейка такой решетки изображена нарис. 1.78. В решетке алмаза каждый атом углерода с<strong>в</strong>язан четырьмя ко<strong>в</strong>алентными с<strong>в</strong>язями счетырьмя другими атомами углерода. Ячейка этой решетки построена следующим образом.К 14 атомам, соста<strong>в</strong>ляющим гранецентриро<strong>в</strong>анное кубическое расположение, доба<strong>в</strong>ляетсяеще 4 атома. Последние располагаются <strong>в</strong>нутри куба <strong>в</strong> центре тетраэдро<strong>в</strong>, образо<strong>в</strong>анныхатомом, находящимся <strong>в</strong> <strong>в</strong>ершине куба, и его тремя ближайшими соседями, расположенными<strong>в</strong> центрах граней. Координационное число атомо<strong>в</strong> <strong>в</strong> решетке алмаза ра<strong>в</strong>но 4.Решетке алмаза подобен структурный тип сфалерита - одной из модификаций ZnS (рис.1.79а). Структуру этого <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> можно получить из структуры алмаза, если поло<strong>в</strong>инуатомо<strong>в</strong> углерода <strong>в</strong> решетке алмаза заменить атомами Zn, а другую поло<strong>в</strong>ину - атомами S (см.рис. 1.79а и 1.78). Структурный тип сфалерита характерен для бинарных соединений, <strong>в</strong>молекулах которых суммарное число <strong>в</strong>алентных электроно<strong>в</strong> такое же, как и у углерода(алмазоподобные полупро<strong>в</strong>одники). Такой структурой обладают, <strong>в</strong> частности, SiC, BN(кубическая форма), АlР, InAs, InSb, GaAs, CuCl. Суммарное число <strong>в</strong>нешних электроно<strong>в</strong>атомо<strong>в</strong>, <strong>в</strong>ходящих <strong>в</strong> молекулы этих соединений, соста<strong>в</strong>ляет 8, к. ч., как и у алмаза, ра<strong>в</strong>но 4.


Рис. 1.78. Кристаллическая решетка алмазаРис. 1.79. Кристаллические решетки модификаций сульфида цинка:А - сфалерит; б - <strong>в</strong>юртцит; маленькие шары - ионы Zn 2+ , большие - S 2-<strong>Строение</strong> другой модификации ZnS - <strong>в</strong>юртцита - показано на рис. 1.79б. Впредста<strong>в</strong>ленном фрагменте решетки атомы одного <strong>в</strong>ида (S) располагаются <strong>в</strong> углахшестигранной призмы, <strong>в</strong> центре ее <strong>в</strong>ерхней и нижней граней и <strong>в</strong>нутри трех из шеститрехгранных призм, соста<strong>в</strong>ляющих рассматри<strong>в</strong>аемую шестигранную призму. Атомы другого<strong>в</strong>ида (Zn) находятся на боко<strong>в</strong>ых ребрах <strong>в</strong>сех шести указанных трехгранных призм, а также<strong>в</strong>нутри тех из них, где имеются атомы другого элемента (S). Расположение частиц <strong>в</strong> решетке<strong>в</strong>юртцита тако<strong>в</strong>о, что каждый атом одного элемента окружен тетраэдрически четырьмяатомами другого элемента. Таким образом, по ближайшему окружению структуры <strong>в</strong>юртцитаи сфалерита не различаются.Аналогично <strong>в</strong>юртциту построены кристаллы льда. Если заменить атомы цинка и серы <strong>в</strong><strong>в</strong>юртците молекулами <strong>в</strong>оды, то получим структуру льда. Фрагмент этой структуры показанна рис. 1.80. Каждая молекула Н 2 O <strong>в</strong> кристалле льда соединена <strong>в</strong>одородными с<strong>в</strong>язями счетырьмя другими молекулами. Водородные с<strong>в</strong>язи молекул имеют тетраэдрическуюнапра<strong>в</strong>ленность, обусло<strong>в</strong>ленную тетраэдрическим расположением sp 3 -гибридных орбиталейатома кислорода, д<strong>в</strong>е из которых дают ко<strong>в</strong>алентную с<strong>в</strong>язь с атомами <strong>в</strong>одорода, а д<strong>в</strong>е другиезаняты неподеленными электронными парами, которые притяги<strong>в</strong>аются ионами <strong>в</strong>одородасоседних молекул H 2 O. На рис. 1.81 черные кружки показы<strong>в</strong>ают положение <strong>в</strong>одорода, аштрихо<strong>в</strong>ка - область, где сосредоточен отрицательный заряд.


Рис. 1.80. Структура льдаРис. 1.81. Кристаллические решетки флюорита CaF 2 и рутила TiO 2 . С<strong>в</strong>етлые шары - ионы F -или атомы О, темные шары - ионы Са 2+ или атомы TiКак <strong>в</strong>идно из рис. 1.80, кристаллическая структура льда имеет полости, что обусло<strong>в</strong>ли<strong>в</strong>аетего низкую плотность (меньшую плотности <strong>в</strong>оды). Полости <strong>в</strong> кристаллической решетке льдамогут заполняться другими молекулами, например СН 4 , H 2 S, одноатомными молекуламиблагородных газо<strong>в</strong>, <strong>в</strong> результате чего образуются с<strong>в</strong>оеобразные химические соединения.Соединения, получаемые <strong>в</strong> результате <strong>в</strong>ключения <strong>в</strong> полости кристаллической решеткимолекул других соединений, назы<strong>в</strong>ают клатратами.Выше были описаны несколько структурных типо<strong>в</strong> соединений общей формулы АВ, т. е.на один атом одного <strong>в</strong>ида приходится один атом другого <strong>в</strong>ида. При<strong>в</strong>едем теперь д<strong>в</strong>а примераструктур соединений АВ 2 .В структуре флюорита СаF 2 (рис. 1.81) 8 ионо<strong>в</strong> F - , расположенных <strong>в</strong> <strong>в</strong>ершинах куба,находятся <strong>в</strong> окружении 14 ионо<strong>в</strong> Са 2+ , 8 из которых занимают <strong>в</strong>ершины и 6 - центры гранейбольшого куба. Каждый ион фтора окружен тетраэдрически четырьмя ионами кальция (нарисунке показан пунктиром один тетраэдр). В изображенной элементарной ячейке ионо<strong>в</strong>кальция больше, чем фторид-ионо<strong>в</strong>. Однако <strong>в</strong>се фторид-ионы принадлежат только даннойячейке, поскольку они находятся <strong>в</strong>нутри нее. Все ионы кальция, наоборот, принадлежат нетолько данной ячейке, но и другим, соседним. Ионы, находящиеся <strong>в</strong> <strong>в</strong>ершинах куба,одно<strong>в</strong>ременно «обслужи<strong>в</strong>ают» 8 ячеек, а ионы, расположенные <strong>в</strong> центрах граней,«обслужи<strong>в</strong>ают» 2 соседние ячейки. Таким образом, на 8 ионо<strong>в</strong> F - приходится <strong>в</strong> среднем8·(1/8) + 6·(1/2) = 4 иона Са 2+ , что и соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>ует формуле CaF 2 .Другой распространенной структурой соединений <strong>в</strong>ида АВ 2 я<strong>в</strong>ляется структура рутилаТiO 2 (см. рис. 1.81). В элементарной ячейке рутила атомы титана образуютобъемноцентриро<strong>в</strong>анный прямоугольный параллелепипед с к<strong>в</strong>адратным осно<strong>в</strong>анием -искаженный куб. Атомы кислорода расположены на диагоналях. В данной структуре каждыйатом титана окружен 6 атомами кислорода, образующими <strong>в</strong>округ него пра<strong>в</strong>ильный октаэдр, акаждый атом кислорода находится <strong>в</strong> центре ра<strong>в</strong>нобедренного треугольника из трех атомо<strong>в</strong>титана. Таким образом, координационные числа титана и кислорода <strong>в</strong> данной структурера<strong>в</strong>ны соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>енно 6 и <strong>3.</strong>


5. Дефекты <strong>в</strong> кристаллах. Кристаллическая решетка со строго определеннымипараметрами и по<strong>в</strong>торением со<strong>в</strong>ершенно одинако<strong>в</strong>ых элементарных ячеек я<strong>в</strong>ляется усло<strong>в</strong>нойсхемой, <strong>в</strong> дейст<strong>в</strong>ительности кристаллы <strong>в</strong>сегда имеют отклонения от этой схемы. Вполнеупорядоченное расположение частиц от<strong>в</strong>ечает идеальным кристаллам, к которым более илименее приближаются <strong>в</strong>стречающиеся <strong>в</strong> природе и получаемые искусст<strong>в</strong>енно реальныекристаллы.Нарушения <strong>в</strong> идеальном расположении атомо<strong>в</strong> <strong>в</strong> кристаллах назы<strong>в</strong>ают дефектами. Ониоказы<strong>в</strong>ают большое, иногда решающее <strong>в</strong>лияние на с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а кристаллических <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>.Непра<strong>в</strong>ильное расположение отдельных атомо<strong>в</strong> <strong>в</strong> кристаллической решетке создаетточечные дефекты. В кристалле, состоящем из одинако<strong>в</strong>ых атомо<strong>в</strong>, например <strong>в</strong> кристаллеметалла, <strong>в</strong> каком-то участке решетки может отсутст<strong>в</strong>о<strong>в</strong>ать один из атомо<strong>в</strong>. На его местебудет полость, <strong>в</strong>округ нее - искаженная структура (рис. 1.82а). Такой дефект назы<strong>в</strong>ается<strong>в</strong>акансией. Если же атом <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> или примеси попадает между атомами <strong>в</strong> узлах решетки(рис. 1.82б), то <strong>в</strong>озникает дефект <strong>в</strong>недрения.В ионных кристаллах, <strong>в</strong> которых должна соблюдаться электронейтральность, образо<strong>в</strong>аниедефекто<strong>в</strong> с<strong>в</strong>язано с перераспределением зарядо<strong>в</strong>. Так, поя<strong>в</strong>ление <strong>в</strong>акансии катионасопро<strong>в</strong>ождается <strong>в</strong>озникно<strong>в</strong>ением <strong>в</strong>акансии аниона (рис. 1.83а), такой тип дефекта <strong>в</strong> ионномкристалле назы<strong>в</strong>ается дефектом по Шоттки. Внедрение иона <strong>в</strong> междоузлие сопро<strong>в</strong>ождаетсяпоя<strong>в</strong>лением на его прежнем месте <strong>в</strong>акансии, которую можно рассматри<strong>в</strong>ать как центр зарядапроти<strong>в</strong>оположного знака (см. рис. 1,83б), такой дефект назы<strong>в</strong>ают дефектом по Френкелю.Рис. 1.82. Точечные дефекты <strong>в</strong> металлической кристаллической решетке:а - <strong>в</strong>акансия; б - дефект <strong>в</strong>недренияРис. 1.8<strong>3.</strong> Точечные дефекты <strong>в</strong> ионных кристаллах:a- дефект по Шоттки; б - дефект по Френкелю; пунктиром показаны <strong>в</strong>акансииТочечные дефекты <strong>в</strong>озникают по разным причинам, <strong>в</strong> том числе и <strong>в</strong> результатетепло<strong>в</strong>ого д<strong>в</strong>ижения частиц. Вакансии (а также дефекты <strong>в</strong>недрения) могут перемещаться покристаллу - <strong>в</strong> полость попадает соседний атом, его место ос<strong>в</strong>обождается и т. д.Перемещением <strong>в</strong>акансий объясняется диффузия <strong>в</strong> т<strong>в</strong>ердых телах и ионная про<strong>в</strong>одимостькристалло<strong>в</strong> солей и оксидо<strong>в</strong>, которые стано<strong>в</strong>ятся заметными при <strong>в</strong>ысоких температурах.Дефекты по Френкелю <strong>в</strong>сегда образуются <strong>в</strong> результате перемещения катионо<strong>в</strong>, которыеобычно значительно меньше анионо<strong>в</strong> и легче <strong>в</strong>недряются <strong>в</strong> решетку. Такие дефектыхарактерны, например, для AgBr, концентрация ионо<strong>в</strong> Ag + <strong>в</strong> междоузлиях кристалло<strong>в</strong> этойсоли при 210 и 300°С соста<strong>в</strong>ляет соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>енно 0,076 и 0,4%. Возникно<strong>в</strong>ению дефекто<strong>в</strong> поФренкелю способст<strong>в</strong>ует малый радиус катионо<strong>в</strong> и легкая деформируемость, т. е. <strong>в</strong>ысокаяполяризуемость анионо<strong>в</strong>. Наоборот, дефекты по Шоттки характерны для соединений,катионы и анионы которых имеют примерно одинако<strong>в</strong>ые размеры и мало поляризуемы, чтозатрудняет их <strong>в</strong>недрение.Отсутст<strong>в</strong>ие атома (иона) одного из элементо<strong>в</strong> соединения <strong>в</strong> некоторых узлах егокристаллической решетки обусло<strong>в</strong>ли<strong>в</strong>ает изменение его соста<strong>в</strong>а - отклонение отстехиометрии*. Из<strong>в</strong>естен ряд <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>, <strong>в</strong> кристаллах которых дефекто<strong>в</strong> по Шоттки такмного, что отклонения от стехиометрии легко определяются химическим анализом. Вза<strong>в</strong>исимости от усло<strong>в</strong>ий получения и роста кристалло<strong>в</strong> число <strong>в</strong>акансий может бытьразличным, поэтому нестехиометрические соединения обычно имеют непостоянный соста<strong>в</strong>.К числу таких <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> относятся оксид и карбид титана. Их соста<strong>в</strong> можно <strong>в</strong>ыразить <strong>в</strong> общем


<strong>в</strong>иде формулами ТiO х , x = 0,70 ÷ 1,30 и TiC x , x= 0,60 ÷ 1,00.Отклонения от стехиометрии могут быть с<strong>в</strong>язаны и с дефектами <strong>в</strong>недрения, <strong>в</strong>озможнытакже различные комбинации д<strong>в</strong>ух рассмотренных механизмо<strong>в</strong>. Из<strong>в</strong>естны также линейные,по<strong>в</strong>ерхностные и объемные дефекты. Среди неорганических <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> имеется огромноечисло нестехиометрических соединений, тако<strong>в</strong>ыми, <strong>в</strong> частности, я<strong>в</strong>ляются большинст<strong>в</strong>ооксидо<strong>в</strong>, нитридо<strong>в</strong>, гидридо<strong>в</strong>, карбидо<strong>в</strong> и силицидо<strong>в</strong> d-элементо<strong>в</strong>.6. Энергия кристаллической решетки. Важной энергетической характеристикойкристалло<strong>в</strong> я<strong>в</strong>ляется энергия кристаллической решетки, измеряемая работой, которуюнеобходимо со<strong>в</strong>ершить для разделения кристалла на ионы и удаления их на бесконечнобольшое расстояние друг от друга. Эту <strong>в</strong>еличину обычно относят к одному молю <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>.*Стехиометрия - учение о количест<strong>в</strong>енных соотношениях между <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>ми,участ<strong>в</strong>ующими <strong>в</strong> химической реакции. Включает законы сохранения массы, постоянст<strong>в</strong>асоста<strong>в</strong>а, эк<strong>в</strong>и<strong>в</strong>аленто<strong>в</strong> и кратных соотношений (законы стехиометрии).Энергия кристаллической решетки может быть найдена из экспериментальных данных.Для этого требуется знание энергетических эффекто<strong>в</strong> ряда процессо<strong>в</strong>, со<strong>в</strong>окупность которыхможет быть предста<strong>в</strong>лена схемой, назы<strong>в</strong>аемой циклом Борна-Габера. Разберем этот цикл напримере процесса образо<strong>в</strong>ания хлорида натрия:Согласно предста<strong>в</strong>ленному циклу процесс образо<strong>в</strong>ания кристаллического хлориданатрия из т<strong>в</strong>ердого металлического натрия и газообразного хлора <strong>в</strong>озможен по д<strong>в</strong>ум путям.Пер<strong>в</strong>ый путь состоит <strong>в</strong> пре<strong>в</strong>ращении натрия и хлора <strong>в</strong> состояние ионо<strong>в</strong> Na + и Сl - иобразо<strong>в</strong>ании из них т<strong>в</strong>ердого хлорида натрия. В соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>ии с определением понятия«энергия кристаллической решетки» при образо<strong>в</strong>ании NaCl из газообразных ионо<strong>в</strong><strong>в</strong>ыделяется энергия, ра<strong>в</strong>ная по абсолютной <strong>в</strong>еличине энергии кристаллической решетки U 0 .Для получения ионо<strong>в</strong> натрия требуется пере<strong>в</strong>ести металлический натрий <strong>в</strong> газообразноесостояние, на это затрачи<strong>в</strong>ается теплота <strong>в</strong>озгонки ∆H° <strong>в</strong>озг , затем нужно под<strong>в</strong>ергнуть атомыионизации, что требует энергии ионизации I Na . Для получения хлорид-ионо<strong>в</strong> необходимосначала разор<strong>в</strong>ать с<strong>в</strong>язь <strong>в</strong> молекуле Cl 2 (на получение 1 моль Сl потребуется энергия, ра<strong>в</strong>наяполо<strong>в</strong>ине энергии с<strong>в</strong>язи Сl−Сl, т. е. 1/2E с<strong>в</strong> ), затем к атому хлора нужно присоединитьэлектрон (отор<strong>в</strong>анный от атома натрия), при этом <strong>в</strong>ыделяется энергия сродст<strong>в</strong>а к электронуE Cl . Все указанные здесь <strong>в</strong>еличины могут быть измерены.Второй путь состоит <strong>в</strong> непосредст<strong>в</strong>енном получении кристаллического NaCl изгазообразного хлора и кристаллического натрия. Тепло<strong>в</strong>ой эффект данного процессасра<strong>в</strong>нительно легко может быть измерен - это теплота образо<strong>в</strong>ания хлорида натрия изпростых <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> ∆H° f.


Согласно закону сохранения энергии тепло<strong>в</strong>ой эффект реакции не за<strong>в</strong>исит от пути, покоторому проходит процесс, а определяется только начальным и конечным состояниемсистемы. Поскольку <strong>в</strong> обоих рассмотренных <strong>в</strong>ариантах процесса конечное и начальноесостояния одинако<strong>в</strong>ы, то суммарный энергетический эффект пер<strong>в</strong>ого процесса ра<strong>в</strong>ентепло<strong>в</strong>ому эффекту <strong>в</strong>торого, т. е. теплоте образо<strong>в</strong>ания NaCl из простых <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>. Такимобразом, можно записать:∆H° f = ∆H° <strong>в</strong>озг + I Na + 1/2E с<strong>в</strong> − E Cl − U 0 ,откуда U 0 = −∆H° f + ∆H° <strong>в</strong>озг + I Na + 1/2E с<strong>в</strong> − E Cl . (1.67)Таблица 1.15. Энергия кристаллических решеток некоторых соединений (кДж/моль)КатионАнионF - Cl - Br - I - O 2- S 2-Li +Na +К +Rb + Cs +Ве 2+Mg 2+Са 2+Sr 2+Ва 2+Zn 2+Cd 2+Hg 2+Pb 2+Mn 2+Cu 2+ 10339168127787493456288325822427228330042770-2469--84578770768665329832489219721091958268625022904223424642761799741678661632289524142125204619372648248126112209232227287416906406236022803231320381954184125942356263620792268-2941260723562276220545193933352333103125405838123933355638494142------3255302128742745356533563523306335193724Значения энергии кристаллической решетки для некоторых соединений, найденные изэкспериментальных данных, при<strong>в</strong>едены <strong>в</strong> табл. 1.15. Как <strong>в</strong>идно, для солей, состоящих изоднозарядных ионо<strong>в</strong>, это значения порядка 800 кДж/моль, для <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>, содержащихмногозарядные ионы, они значительно больше.Из<strong>в</strong>естны различные методы теоретического <strong>в</strong>ычисления энергии кристаллическойрешетки. Наиболее прост расчет по ура<strong>в</strong>нению, предложенному <strong>в</strong> 1943 г. А. Ф.Капустинским:U 0 = ανZ k Z a (1- ρ /(r k + r a )r k + r aгде Z и r - заряды и радиусы ионо<strong>в</strong> (индексы к и а относятся к катиону и аниону); α и ρ-константы, если U 0 <strong>в</strong>ыражено <strong>в</strong> кДж/моль, а r - <strong>в</strong> пм, то α = 1,214·10 5 , ρ = 34,5; ν-суммарноечисло ионо<strong>в</strong> <strong>в</strong> химической формуле кристалла.


<strong>3.</strong><strong>3.</strong> ЖИДКОЕ И АМОРФНОЕ СОСТОЯНИЯ1. <strong>Строение</strong> жидкостей. Жидкое агрегатное состояние я<strong>в</strong>ляется промежуточным междукристаллическим и газообразным. При <strong>в</strong>ысоких температурах с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а жидкостиприближаются к с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>ам неидеального газа, при низких - к с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>ам кристаллического<strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>.Максимальное сходст<strong>в</strong>о жидкости с т<strong>в</strong>ердым <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>ом наблюдается <strong>в</strong>близитемпературы кристаллизации. Изменение физико-химических с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong> <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> при егоот<strong>в</strong>ерде<strong>в</strong>ании (пла<strong>в</strong>лении), как пра<strong>в</strong>ило, не<strong>в</strong>елико. Это <strong>в</strong>идно из данных табл. 1.16, <strong>в</strong> которойпри<strong>в</strong>одятся относительные изменения объема V, теплоемкости С и коэффициенто<strong>в</strong>сжимаемости χ при пла<strong>в</strong>лении, а также теплоты пла<strong>в</strong>ления ∆H пл для некоторых металло<strong>в</strong>.Аналогичная закономерность наблюдается для самых различных <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> (а не только дляметалло<strong>в</strong>) и для многих других с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>. Так, для большинст<strong>в</strong>а <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> изменение объемапри кристаллизации соста<strong>в</strong>ляет ≈ 10%. Это означает, что межчастичное расстояние меняется<strong>в</strong>сего лишь на ≈ 3%, т. е. расположение частиц <strong>в</strong> жидкости близко к их расположению <strong>в</strong>кристалле. Близость же значений теплоемкости жидкого распла<strong>в</strong>ленного и от<strong>в</strong>ерде<strong>в</strong>шего<strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> с<strong>в</strong>идетельст<strong>в</strong>ует о сходст<strong>в</strong>е тепло<strong>в</strong>ого д<strong>в</strong>ижения частиц <strong>в</strong> жидких и т<strong>в</strong>ердых телах.Их энергетическое сходст<strong>в</strong>о при температуре пла<strong>в</strong>ления подт<strong>в</strong>ерждается и тем, что <strong>в</strong> отличиеот теплот парообразо<strong>в</strong>ания ∆H пар теплоты пла<strong>в</strong>ления ∆H пл не<strong>в</strong>елики. Так, для иодо<strong>в</strong>одорода∆H пар =21 кДж/моль, а ∆H пл = 2,9 кДж/моль (см. также табл. 1.16). Это с<strong>в</strong>идетельст<strong>в</strong>ует, что <strong>в</strong>жидкости, по крайней мере <strong>в</strong>близи температуры кристаллизации, упорядоченноерасположение частиц, с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>енное кристаллам, утрачи<strong>в</strong>ается лишь частично.Предста<strong>в</strong>ления, осно<strong>в</strong>анные на близости жидкости к кристаллу, <strong>в</strong>пер<strong>в</strong>ые <strong>в</strong>ыд<strong>в</strong>инул Я. И.Френкель (1934 г.).Наличие <strong>в</strong> жидкости пространст<strong>в</strong>енного упорядочения молекул подт<strong>в</strong>ерждается имногими другими фактами, <strong>в</strong> частности экспериментальными данными по рассеянию с<strong>в</strong>ета,дифракции рентгено<strong>в</strong>ского излучения, нейтроно<strong>в</strong> и электроно<strong>в</strong>. Дебаеграммы жидкостей,изученных при температурах, близких к температурам кристаллизации, сходны срентгенограммами кристалло<strong>в</strong>, они отличаются лишь размытостью колец, которая<strong>в</strong>озрастает с по<strong>в</strong>ышением температуры. Рентгеноструктурные исследо<strong>в</strong>ания показали, что <strong>в</strong>жидкостях, состоящих из многоатомных молекул, наблюдается не только упорядоченноерасположение молекул, но и обнаружи<strong>в</strong>ается закономерность <strong>в</strong>о <strong>в</strong>заимной ориентациичастиц. Эта ориентация усили<strong>в</strong>ается для полярных молекул и при формиро<strong>в</strong>ании <strong>в</strong>одороднойс<strong>в</strong>язи.Таблица 1.16. Некоторые характеристики металло<strong>в</strong> при температуре пла<strong>в</strong>ленияМета Т пл ., ((V ж − V к )/V к ) ((С Ж − С к )/ С к ) ((χ ж − χ к )/χ к ) ∆H пл ,лл C° ·100·100·100кДж/мольCd 321 4,7 3,4 30,0 6,2Hg -39 3,6 -2,4 6,4 2,3Pb 327 4,8 7,7 8,3 5,0Sn 232 2,8 -6,3 21 6,9Пра<strong>в</strong>ильное расположение частиц <strong>в</strong> идеальном кристалле сохраняется <strong>в</strong>о <strong>в</strong>сейкристаллической решетке - <strong>в</strong> кристаллах сущест<strong>в</strong>ует дальний порядок. В жидкостиупорядоченное расположение частиц <strong>в</strong> какой-то мере сохраняется только <strong>в</strong> ближайшемокружении рассматри<strong>в</strong>аемой молекулы, т. е. для жидкостей характерен ближний порядок(более или менее нарушенный). В том случае, когда кристаллизация требует значительной«переупако<strong>в</strong>ки» частиц, ее достижение затруднено. Это обусло<strong>в</strong>ли<strong>в</strong>ает <strong>в</strong>озможностьпереохлаждения жидкости, т. е. охлаждения ее до температуры ниже температурыпла<strong>в</strong>ления.


Из жидких тел для неорганической химии наибольший интерес предста<strong>в</strong>ляют <strong>в</strong>ода и<strong>в</strong>одные раст<strong>в</strong>оры, поэтому остано<strong>в</strong>имся на структуре <strong>в</strong>оды и механизме процессараст<strong>в</strong>орения.2. Структура <strong>в</strong>оды. Как уже указы<strong>в</strong>алось, молекулы Н 2 О <strong>в</strong> кристаллической решеткельда с<strong>в</strong>язаны друг с другом <strong>в</strong>одородными с<strong>в</strong>язями. Кристаллическая структура льда <strong>в</strong>есьмадалека от плотнейшей упако<strong>в</strong>ки. При плотнейшей упако<strong>в</strong>ке молекул Н 2 O лед имел быплотность 2,0 г/см 3 , а <strong>в</strong> дейст<strong>в</strong>ительности плотность льда ра<strong>в</strong>на 0,9 г/см 3 .Физики Бернал и Фаулер (Англия), тщательно проанализиро<strong>в</strong>а<strong>в</strong>шие результатырентгеноструктурного исследо<strong>в</strong>ания <strong>в</strong>оды, <strong>в</strong> 1933 г. устано<strong>в</strong>или, что <strong>в</strong> жидкой <strong>в</strong>оде остаютсяфрагменты структуры льда. Для большей части молекул <strong>в</strong> жидкой <strong>в</strong>оде сохраняетсятетраэдрическое окружение, которое они имели <strong>в</strong> структуре льда: среднее координационноечисло молекул <strong>в</strong> <strong>в</strong>оде близко к четырем, так, при 2, 30 и 83°С оно ра<strong>в</strong>но соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>енно 4,4;4,6 и 4,9. Большая часть <strong>в</strong>одородных с<strong>в</strong>язей, соединяющих молекулы H 2 О <strong>в</strong> кристалле льда,сохраняется и <strong>в</strong> <strong>в</strong>оде: доля разор<strong>в</strong>анных <strong>в</strong>одородных с<strong>в</strong>язей при 0, 25, 60 и 100°С соста<strong>в</strong>ляетсоот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>енно около 9, 11, 16 и 20%.Наличие элементо<strong>в</strong> кристаллической структуры наряду с большим дипольным моментоммолекулы Н 2 О обусло<strong>в</strong>ли<strong>в</strong>ает очень большое значение относительной диэлектрическойпроницаемости <strong>в</strong>оды ε; при 25°С она ра<strong>в</strong>на 79,5. Таким образом, электростатическое<strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ие между заряженными частицами <strong>в</strong> <strong>в</strong>одной среде приблизительно <strong>в</strong> 80 разслабее, чем <strong>в</strong> <strong>в</strong>акууме. Благодаря этому <strong>в</strong>се ионные соединения <strong>в</strong> <strong>в</strong>одных раст<strong>в</strong>орахдиссоциируют. В отличие от диссоциации <strong>в</strong> раст<strong>в</strong>орителях с меньшим значением εдиссоциация <strong>в</strong> <strong>в</strong>одной среде я<strong>в</strong>ляется практически полной. В <strong>в</strong>одном раст<strong>в</strong>оре диссоциируютна ионы также многие соединения с полярной с<strong>в</strong>язью <strong>в</strong> молекулах, такие какгалогено<strong>в</strong>одороды, H 2 S и другие, хотя для подобных соединений степень диссоциацииможет не ра<strong>в</strong>няться 100 %.<strong>3.</strong> Физико-химические процессы <strong>в</strong> раст<strong>в</strong>орах электролито<strong>в</strong>. Впер<strong>в</strong>ые на значение<strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ия между раст<strong>в</strong>оренным <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>ом и раст<strong>в</strong>орителем указал <strong>в</strong> 60-х годахпрошлого <strong>в</strong>ека Д. И. Менделее<strong>в</strong>, <strong>в</strong>ыд<strong>в</strong>ину<strong>в</strong>ший химическую теорию раст<strong>в</strong>оро<strong>в</strong>. Согласноэтой теории раст<strong>в</strong>оры содержат ряд неустойчи<strong>в</strong>ых, пре<strong>в</strong>ращающихся друг <strong>в</strong> другасоединений раст<strong>в</strong>оренного <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> с <strong>в</strong>одой - гидрато<strong>в</strong> (<strong>в</strong> общем случае при<strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ии раст<strong>в</strong>оренного <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> с раст<strong>в</strong>орителем образуются соль<strong>в</strong>аты). Сампроцесс образо<strong>в</strong>ания гидрато<strong>в</strong> назы<strong>в</strong>ается гидратацией. В отличие от процесса гидролиза(см. разд. 6.5) при гидратации не происходит разложение молекул <strong>в</strong>оды. Примени<strong>в</strong> физикохимическиеметоды исследо<strong>в</strong>ания, Д. И. Менделее<strong>в</strong> доказал сущест<strong>в</strong>о<strong>в</strong>ание гидрато<strong>в</strong> <strong>в</strong>жидкой фазе (<strong>в</strong> системах H 2 SO 4 - Н 2 О, C 2 H 5 OH - Н 2 О, СН 3 ОН - Н 2 О). Дейст<strong>в</strong>ительно, кактеперь хорошо из<strong>в</strong>естно, <strong>в</strong> раст<strong>в</strong>орах содержатся относительно устойчи<strong>в</strong>ые молекулярныегруппы, образо<strong>в</strong>анные молекулами раст<strong>в</strong>орителя и раст<strong>в</strong>оренного <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>. По мереуменьшения полярности раст<strong>в</strong>орителя его способность к образо<strong>в</strong>анию молекулярныхсоединений снижается. Нередко с<strong>в</strong>язь между молекулами раст<strong>в</strong>орителя и частицамираст<strong>в</strong>оренного <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> сохраняется и <strong>в</strong> т<strong>в</strong>ердом <strong>состоянии</strong> - при кристаллизации израст<strong>в</strong>ора <strong>в</strong>ыделяются кристаллосоль<strong>в</strong>аты (кристаллогидраты - при кристаллизации из<strong>в</strong>одного раст<strong>в</strong>ора). Примерами таких <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> я<strong>в</strong>ляются CuSO 4·5Н 2 О, CaCl 2·6Н 2 О,LiC1O 4·4СН 3 ОН, А1Вг 3·С б Н б .Предста<strong>в</strong>ление о гидратации ионо<strong>в</strong>, <strong>в</strong><strong>в</strong>еденное <strong>в</strong> науку <strong>в</strong> 1890 г. русскими химиками И.А. Каблуко<strong>в</strong>ым и В. А. Кистяко<strong>в</strong>ским и объедини<strong>в</strong>шее теорию электролитическойдиссоциации Аррениуса (см. разд. 6.4) с химической теорией раст<strong>в</strong>оро<strong>в</strong> Д. И. Менделее<strong>в</strong>а,оказалось чрез<strong>в</strong>ычайно плодот<strong>в</strong>орным для объяснения с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong> раст<strong>в</strong>оро<strong>в</strong> электролито<strong>в</strong>.Интенси<strong>в</strong>ность <strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ия ионо<strong>в</strong> раст<strong>в</strong>оренного <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> с молекулами <strong>в</strong>одыможет быть охарактеризо<strong>в</strong>ана теплотой гидратации ионо<strong>в</strong> ∆H г - количест<strong>в</strong>ом теплоты,которое <strong>в</strong>ыделяется при пере<strong>в</strong>оде одного моля ионо<strong>в</strong> из <strong>в</strong>акуума <strong>в</strong> <strong>в</strong>одный раст<strong>в</strong>ор. Величина∆H г может быть найдена из экспериментальных данных; имеются также теоретическиеметоды расчета.


Для расчета ∆H г по экспериментальным данным нужно знать энергию кристаллическойрешетки U 0 и теплоту раст<strong>в</strong>орения ∆H р . Процесс раст<strong>в</strong>орения соли можно предста<strong>в</strong>итьпроходящим <strong>в</strong> д<strong>в</strong>е стадии: разрушение кристалла на ионы, сопро<strong>в</strong>ождающееся поглощениемтеплоты, ра<strong>в</strong>ной энергии U 0 , и гидратация, <strong>в</strong> результате которой <strong>в</strong>ыделяется теплота ∆H г .Оче<strong>в</strong>идно, тепло<strong>в</strong>ой эффект раст<strong>в</strong>орения соли ра<strong>в</strong>ен алгебраической сумме этих <strong>в</strong>еличин:∆H р = ∆H г + U 0 ,откуда −∆H г = U 0 − ∆H р . (1.68)При расчетах по ура<strong>в</strong>нению (1.68) определяется сумма теплот гидратации ионо<strong>в</strong> обоих<strong>в</strong>идо<strong>в</strong>, образующих соль, - катионо<strong>в</strong> и анионо<strong>в</strong>. Для нахождения теплот гидратацииотдельных ионо<strong>в</strong> эту <strong>в</strong>еличину нужно разделить на соста<strong>в</strong>ляющие для катионо<strong>в</strong> и анионо<strong>в</strong>;<strong>в</strong>ыбор пра<strong>в</strong>ильного метода разделения предста<strong>в</strong>ляет собой до<strong>в</strong>ольно трудную задачу. В 1977г. а<strong>в</strong>тором данной книги было устано<strong>в</strong>лено, что теплоту гидратации отдельных ионо<strong>в</strong> можнодо<strong>в</strong>ольно точно определить как сумму∆H г = ∆H г(1) + ∆H г(2) + A n , (1.69)где ∆H г(1) , ∆H г(2) - тепло<strong>в</strong>ой эффект <strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ия иона соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>енно с ближайшимимолекулами <strong>в</strong>оды и с остальными молекулами <strong>в</strong>оды; A n - работа разры<strong>в</strong>а <strong>в</strong>одородных с<strong>в</strong>язейпри образо<strong>в</strong>ании полости, занимаемой ионом <strong>в</strong> раст<strong>в</strong>оре.Для пер<strong>в</strong>ого слагаемого ура<strong>в</strong>нения (1.69) из<strong>в</strong>естны экспериментальные значения(определены тепло<strong>в</strong>ые эффекты <strong>в</strong>заимодейст<strong>в</strong>ия ионо<strong>в</strong> с молекулами <strong>в</strong>оды <strong>в</strong> газо<strong>в</strong>ой фазе),д<strong>в</strong>а других слагаемых можно рассчитать с точностью 5 − 10 кДж/моль. В частности, для ионаNa + было получено ∆H г = −473 кДж/моль. Зная ∆H г иона одного <strong>в</strong>ида и суммарную теплоту∆H г для солей, можно найти ∆H г других ионо<strong>в</strong> (табл. 1.17). Большинст<strong>в</strong>о ионо<strong>в</strong> <strong>в</strong> раст<strong>в</strong>орепрочно с<strong>в</strong>язы<strong>в</strong>ается с окружающими их молекулами <strong>в</strong>оды с образо<strong>в</strong>анием ак<strong>в</strong>акомплексо<strong>в</strong>,которые нередко сохраняются при <strong>в</strong>ыделении соли из раст<strong>в</strong>ора <strong>в</strong> <strong>в</strong>иде кристаллогидрато<strong>в</strong>.Например, рентгеноструктурный анализ таких соединений, как MgCl 2·6H 2 O, Na 2 SO 4·10H 2 O,KAl(SO 4 ) 2·12H 2 O, NiSO 4·7H 2 O, Nd(ВrО 3 ) 3·9H 2 O, показы<strong>в</strong>ает, что <strong>в</strong> них содержатсякомплексные ионы [Mg(H 2 O) 6 ] 2+ , [Na(H 2 O) 6 ] + , [Al(H 2 O) 6 ] 3+ , [Ni(H 2 O) 6 ] 2+ , [Nd(H 2 O) 9 ] 3+ .4. Аморфное состояние. Аморфные <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> отличаются от кристаллическихизотропностью, т. е. подобно жидкости они имеют одинако<strong>в</strong>ые значения данного с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>апри измерении <strong>в</strong> любом напра<strong>в</strong>лении <strong>в</strong>нутри <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>. Переход аморфного <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> изт<strong>в</strong>ердого состояния <strong>в</strong> жидкое не сопро<strong>в</strong>ождается скачкообразным изменением с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong> - это<strong>в</strong>торой <strong>в</strong>ажный признак,Таблица 1.17. Теплоты гидратации ионо<strong>в</strong>Ион ∆H г ,кДж/мольИон ∆H г ,кДж/мольИон ∆H г ,кДж/мольLi + -587 Cl - -312 Sr 2+ -1579Na + -473 Br - -281 Ba 2+ -1441K + -389 I - -241 Al 3+ -4877Rb + -364 Be 2+ -2619 Sc 3+ -4130Cs + -340 Mg 2+ -2058 Y 3+ -3788F - -452 Ca 2+ -1712 La 3+ -3473


Рис. 1.84. Изменение объема кристаллических (а) и аморфных (б) <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> при нагре<strong>в</strong>анииотличающий аморфное состояние т<strong>в</strong>ердого <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> от кристаллического состояния. Так,<strong>в</strong> отличие от кристаллического <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>, имеющего определенную температуру пла<strong>в</strong>ления,при которой происходит скачкообразное изменение с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong> (рис. 1.84 а), аморфное <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>охарактеризуется интер<strong>в</strong>алом размягчения (Т а - Т b ) и непреры<strong>в</strong>ным изменением с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong> (рис.1.84 б). В за<strong>в</strong>исимости от природы <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> этот интер<strong>в</strong>ал может иметь значение порядкадесятко<strong>в</strong> и даже сотен градусо<strong>в</strong>.Аморфные <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> менее устойчи<strong>в</strong>ы, чем кристаллические. Любое аморфное <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>о<strong>в</strong> принципе должно кристаллизо<strong>в</strong>аться, и этот процесс должен быть экзотермическим.Поэтому теплота образо<strong>в</strong>ания аморфного <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> <strong>в</strong>сегда менее отрицательна, чем теплотаобразо<strong>в</strong>ания кристаллического (из одних и тех же исходных <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>). Так, теплотыобразо<strong>в</strong>ания аморфной и кристаллической модификаций В 2 О 3 из простых <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> ра<strong>в</strong>нысоот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>енно −1254 и −1273 кДж/моль. Этот пример подт<strong>в</strong>ерждает также сра<strong>в</strong>нительнонебольшое различие <strong>в</strong> структуре кристалло<strong>в</strong> и аморфных <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>, а одинако<strong>в</strong>ый порядокзначений теплоты перехода из аморфного <strong>в</strong> кристаллическое состояние; (<strong>в</strong> данном примереона ра<strong>в</strong>на −19 кДж/моль) с теплотами кристаллизации подт<strong>в</strong>ерждает сходст<strong>в</strong>о аморфногосостояния с жидким.Часто аморфные и кристаллические формы - это различные состояния одного и того же<strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>. Так, из<strong>в</strong>естны аморфные формы ряда простых <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> (серы, селена и др.),оксидо<strong>в</strong> (В 2 O 3 , SiO 2 , GeO 2 и др.). Вместе с тем многие аморфные <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>, <strong>в</strong> частностибольшинст<strong>в</strong>о органических полимеро<strong>в</strong>, закристаллизо<strong>в</strong>ать не удается.На практике кристаллизация аморфных <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> наблюдается очень редко, так какструктурные изменения затормажи<strong>в</strong>аются из-за большой <strong>в</strong>язкости этих <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>. Поэтому,если не прибегать к специальным методам, например к длительному <strong>в</strong>ысокотемпературному<strong>в</strong>оздейст<strong>в</strong>ию, переход <strong>в</strong> кристаллическое состояние протекает с исчезающе малойскоростью. В подобных cлучаях можно считать, что <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>о <strong>в</strong> аморфном <strong>состоянии</strong>практически <strong>в</strong>полне устойчи<strong>в</strong>о.Рассматри<strong>в</strong>ая аморфное тело как переохлажденную жидкость, «оцепене<strong>в</strong>шую» из-заочень большой <strong>в</strong>язкости, следует помнить, что <strong>в</strong> отличие от жидкостей <strong>в</strong> аморфном <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>еобмен между соседними частицами практически не происходит. Большая <strong>в</strong>язкостьраспла<strong>в</strong>ленных сред затрудняет д<strong>в</strong>ижение и переориентиро<strong>в</strong>ку молекул, что препятст<strong>в</strong>уетобразо<strong>в</strong>анию зародышей т<strong>в</strong>ердой фазы. Поэтому при быстром охлаждении многихжидкостей (распла<strong>в</strong>о<strong>в</strong>) они зат<strong>в</strong>ерде<strong>в</strong>ают не <strong>в</strong> кристаллическом, а <strong>в</strong> аморфном <strong>состоянии</strong>.Типичными аморфными телами я<strong>в</strong>ляются силикатные стекла, поэтому часто аморфноесостояние назы<strong>в</strong>ают стеклообразным, понимая под стеклом аморфно (т. е. безкристаллизации) засты<strong>в</strong>ший распла<strong>в</strong>. Вследст<strong>в</strong>ие огромной <strong>в</strong>язкости стекол они сохраняютсятысячелетиями без <strong>в</strong>идимых признако<strong>в</strong> кристаллизации. В то же <strong>в</strong>ремя многие жидкие<strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> трудно получить <strong>в</strong> стеклообразном <strong>состоянии</strong>.


Чем симметричнее сами частицы, чем симметричнее они расположены и чем меньшес<strong>в</strong>язь между ними <strong>в</strong> жидком <strong>состоянии</strong>, тем больше осно<strong>в</strong>аний предполагать, чтоохлаждение жидкости при<strong>в</strong>едет к ее кристаллизации. Дейст<strong>в</strong>ительно, распла<strong>в</strong>ленныеметаллы, расположение атомо<strong>в</strong> <strong>в</strong> кристаллической решетке которых близко к плотнейшейупако<strong>в</strong>ке, легко кристаллизуются, а распла<strong>в</strong>ленные силикаты часто переходят <strong>в</strong>стеклообразное состояние. Органические соединения, содержащие много гидроксильныхгрупп (например, глицерин), <strong>в</strong> отличие от угле<strong>в</strong>одородо<strong>в</strong>, зат<strong>в</strong>ерде<strong>в</strong>ая, обычно некристаллизуются - сказы<strong>в</strong>ается <strong>в</strong>лияние <strong>в</strong>одородных с<strong>в</strong>язей.

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!