5. Дефекты <strong>в</strong> кристаллах. Кристаллическая решетка со строго определеннымипараметрами и по<strong>в</strong>торением со<strong>в</strong>ершенно одинако<strong>в</strong>ых элементарных ячеек я<strong>в</strong>ляется усло<strong>в</strong>нойсхемой, <strong>в</strong> дейст<strong>в</strong>ительности кристаллы <strong>в</strong>сегда имеют отклонения от этой схемы. Вполнеупорядоченное расположение частиц от<strong>в</strong>ечает идеальным кристаллам, к которым более илименее приближаются <strong>в</strong>стречающиеся <strong>в</strong> природе и получаемые искусст<strong>в</strong>енно реальныекристаллы.Нарушения <strong>в</strong> идеальном расположении атомо<strong>в</strong> <strong>в</strong> кристаллах назы<strong>в</strong>ают дефектами. Ониоказы<strong>в</strong>ают большое, иногда решающее <strong>в</strong>лияние на с<strong>в</strong>ойст<strong>в</strong>а кристаллических <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>.Непра<strong>в</strong>ильное расположение отдельных атомо<strong>в</strong> <strong>в</strong> кристаллической решетке создаетточечные дефекты. В кристалле, состоящем из одинако<strong>в</strong>ых атомо<strong>в</strong>, например <strong>в</strong> кристаллеметалла, <strong>в</strong> каком-то участке решетки может отсутст<strong>в</strong>о<strong>в</strong>ать один из атомо<strong>в</strong>. На его местебудет полость, <strong>в</strong>округ нее - искаженная структура (рис. 1.82а). Такой дефект назы<strong>в</strong>ается<strong>в</strong>акансией. Если же атом <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong> или примеси попадает между атомами <strong>в</strong> узлах решетки(рис. 1.82б), то <strong>в</strong>озникает дефект <strong>в</strong>недрения.В ионных кристаллах, <strong>в</strong> которых должна соблюдаться электронейтральность, образо<strong>в</strong>аниедефекто<strong>в</strong> с<strong>в</strong>язано с перераспределением зарядо<strong>в</strong>. Так, поя<strong>в</strong>ление <strong>в</strong>акансии катионасопро<strong>в</strong>ождается <strong>в</strong>озникно<strong>в</strong>ением <strong>в</strong>акансии аниона (рис. 1.83а), такой тип дефекта <strong>в</strong> ионномкристалле назы<strong>в</strong>ается дефектом по Шоттки. Внедрение иона <strong>в</strong> междоузлие сопро<strong>в</strong>ождаетсяпоя<strong>в</strong>лением на его прежнем месте <strong>в</strong>акансии, которую можно рассматри<strong>в</strong>ать как центр зарядапроти<strong>в</strong>оположного знака (см. рис. 1,83б), такой дефект назы<strong>в</strong>ают дефектом по Френкелю.Рис. 1.82. Точечные дефекты <strong>в</strong> металлической кристаллической решетке:а - <strong>в</strong>акансия; б - дефект <strong>в</strong>недренияРис. 1.8<strong>3.</strong> Точечные дефекты <strong>в</strong> ионных кристаллах:a- дефект по Шоттки; б - дефект по Френкелю; пунктиром показаны <strong>в</strong>акансииТочечные дефекты <strong>в</strong>озникают по разным причинам, <strong>в</strong> том числе и <strong>в</strong> результатетепло<strong>в</strong>ого д<strong>в</strong>ижения частиц. Вакансии (а также дефекты <strong>в</strong>недрения) могут перемещаться покристаллу - <strong>в</strong> полость попадает соседний атом, его место ос<strong>в</strong>обождается и т. д.Перемещением <strong>в</strong>акансий объясняется диффузия <strong>в</strong> т<strong>в</strong>ердых телах и ионная про<strong>в</strong>одимостькристалло<strong>в</strong> солей и оксидо<strong>в</strong>, которые стано<strong>в</strong>ятся заметными при <strong>в</strong>ысоких температурах.Дефекты по Френкелю <strong>в</strong>сегда образуются <strong>в</strong> результате перемещения катионо<strong>в</strong>, которыеобычно значительно меньше анионо<strong>в</strong> и легче <strong>в</strong>недряются <strong>в</strong> решетку. Такие дефектыхарактерны, например, для AgBr, концентрация ионо<strong>в</strong> Ag + <strong>в</strong> междоузлиях кристалло<strong>в</strong> этойсоли при 210 и 300°С соста<strong>в</strong>ляет соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>енно 0,076 и 0,4%. Возникно<strong>в</strong>ению дефекто<strong>в</strong> поФренкелю способст<strong>в</strong>ует малый радиус катионо<strong>в</strong> и легкая деформируемость, т. е. <strong>в</strong>ысокаяполяризуемость анионо<strong>в</strong>. Наоборот, дефекты по Шоттки характерны для соединений,катионы и анионы которых имеют примерно одинако<strong>в</strong>ые размеры и мало поляризуемы, чтозатрудняет их <strong>в</strong>недрение.Отсутст<strong>в</strong>ие атома (иона) одного из элементо<strong>в</strong> соединения <strong>в</strong> некоторых узлах егокристаллической решетки обусло<strong>в</strong>ли<strong>в</strong>ает изменение его соста<strong>в</strong>а - отклонение отстехиометрии*. Из<strong>в</strong>естен ряд <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>, <strong>в</strong> кристаллах которых дефекто<strong>в</strong> по Шоттки такмного, что отклонения от стехиометрии легко определяются химическим анализом. Вза<strong>в</strong>исимости от усло<strong>в</strong>ий получения и роста кристалло<strong>в</strong> число <strong>в</strong>акансий может бытьразличным, поэтому нестехиометрические соединения обычно имеют непостоянный соста<strong>в</strong>.К числу таких <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> относятся оксид и карбид титана. Их соста<strong>в</strong> можно <strong>в</strong>ыразить <strong>в</strong> общем
<strong>в</strong>иде формулами ТiO х , x = 0,70 ÷ 1,30 и TiC x , x= 0,60 ÷ 1,00.Отклонения от стехиометрии могут быть с<strong>в</strong>язаны и с дефектами <strong>в</strong>недрения, <strong>в</strong>озможнытакже различные комбинации д<strong>в</strong>ух рассмотренных механизмо<strong>в</strong>. Из<strong>в</strong>естны также линейные,по<strong>в</strong>ерхностные и объемные дефекты. Среди неорганических <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> имеется огромноечисло нестехиометрических соединений, тако<strong>в</strong>ыми, <strong>в</strong> частности, я<strong>в</strong>ляются большинст<strong>в</strong>ооксидо<strong>в</strong>, нитридо<strong>в</strong>, гидридо<strong>в</strong>, карбидо<strong>в</strong> и силицидо<strong>в</strong> d-элементо<strong>в</strong>.6. Энергия кристаллической решетки. Важной энергетической характеристикойкристалло<strong>в</strong> я<strong>в</strong>ляется энергия кристаллической решетки, измеряемая работой, которуюнеобходимо со<strong>в</strong>ершить для разделения кристалла на ионы и удаления их на бесконечнобольшое расстояние друг от друга. Эту <strong>в</strong>еличину обычно относят к одному молю <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>.*Стехиометрия - учение о количест<strong>в</strong>енных соотношениях между <strong><strong>в</strong>ещест<strong>в</strong>а</strong>ми,участ<strong>в</strong>ующими <strong>в</strong> химической реакции. Включает законы сохранения массы, постоянст<strong>в</strong>асоста<strong>в</strong>а, эк<strong>в</strong>и<strong>в</strong>аленто<strong>в</strong> и кратных соотношений (законы стехиометрии).Энергия кристаллической решетки может быть найдена из экспериментальных данных.Для этого требуется знание энергетических эффекто<strong>в</strong> ряда процессо<strong>в</strong>, со<strong>в</strong>окупность которыхможет быть предста<strong>в</strong>лена схемой, назы<strong>в</strong>аемой циклом Борна-Габера. Разберем этот цикл напримере процесса образо<strong>в</strong>ания хлорида натрия:Согласно предста<strong>в</strong>ленному циклу процесс образо<strong>в</strong>ания кристаллического хлориданатрия из т<strong>в</strong>ердого металлического натрия и газообразного хлора <strong>в</strong>озможен по д<strong>в</strong>ум путям.Пер<strong>в</strong>ый путь состоит <strong>в</strong> пре<strong>в</strong>ращении натрия и хлора <strong>в</strong> состояние ионо<strong>в</strong> Na + и Сl - иобразо<strong>в</strong>ании из них т<strong>в</strong>ердого хлорида натрия. В соот<strong>в</strong>етст<strong>в</strong>ии с определением понятия«энергия кристаллической решетки» при образо<strong>в</strong>ании NaCl из газообразных ионо<strong>в</strong><strong>в</strong>ыделяется энергия, ра<strong>в</strong>ная по абсолютной <strong>в</strong>еличине энергии кристаллической решетки U 0 .Для получения ионо<strong>в</strong> натрия требуется пере<strong>в</strong>ести металлический натрий <strong>в</strong> газообразноесостояние, на это затрачи<strong>в</strong>ается теплота <strong>в</strong>озгонки ∆H° <strong>в</strong>озг , затем нужно под<strong>в</strong>ергнуть атомыионизации, что требует энергии ионизации I Na . Для получения хлорид-ионо<strong>в</strong> необходимосначала разор<strong>в</strong>ать с<strong>в</strong>язь <strong>в</strong> молекуле Cl 2 (на получение 1 моль Сl потребуется энергия, ра<strong>в</strong>наяполо<strong>в</strong>ине энергии с<strong>в</strong>язи Сl−Сl, т. е. 1/2E с<strong>в</strong> ), затем к атому хлора нужно присоединитьэлектрон (отор<strong>в</strong>анный от атома натрия), при этом <strong>в</strong>ыделяется энергия сродст<strong>в</strong>а к электронуE Cl . Все указанные здесь <strong>в</strong>еличины могут быть измерены.Второй путь состоит <strong>в</strong> непосредст<strong>в</strong>енном получении кристаллического NaCl изгазообразного хлора и кристаллического натрия. Тепло<strong>в</strong>ой эффект данного процессасра<strong>в</strong>нительно легко может быть измерен - это теплота образо<strong>в</strong>ания хлорида натрия изпростых <strong>в</strong>ещест<strong>в</strong> ∆H° f.