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MTBF (Mean time between failure)-, MTTF (Mean<br />

time to failure)-, FIT (Failure in Time)-Fehlerraten<br />

und -Lebensdauern sind Zuverlässigkeitsparameter,<br />

die zunehmend auch für Steckverbin<strong>de</strong>r eingefor<strong>de</strong>rt<br />

wer<strong>de</strong>n.<br />

Steckverbin<strong>de</strong>rhersteller taten sich in <strong>de</strong>r Vergangenheit<br />

schwer, zu Neuentwicklungen sichere<br />

Zuverlässigkeitsaussagen zu treffen, weil<br />

zum einen die Fel<strong>de</strong>rfahrung für innovative neue<br />

Produkti<strong>de</strong>en nicht vorhan<strong>de</strong>n sein kann und zum<br />

an<strong>de</strong>ren die Diversität von Einsatz- und Anwendungsmöglichkeiten<br />

sowie die Lebensdauer <strong>de</strong>r<br />

Produkte im Allgemeinen sehr hoch sind.<br />

Zur Lösung dieses Kernproblems hat <strong>harting</strong> ein<br />

Verfahren zur Bestimmung <strong>de</strong>r konstruktionsbedingten<br />

ausfallfreien Zeit entwickelt. Die Zeit,<br />

die die natürliche Lebens- bzw. Nutzungsdauer<br />

eines Steckverbin<strong>de</strong>rkontaktes vom Zeitbereich<br />

<strong>de</strong>r Verschleißausfälle abgrenzt. Es nutzt aus, dass die<br />

Lebensdauer <strong>de</strong>m Arrheniusgesetz folgt und baut auf <strong>de</strong>r<br />

Extrapolation von Labormesswerten auf. Diese Aussage<br />

zur Zuverlässigkeit einer Konstruktion ergänzt sehr<br />

sinnvoll und insbeson<strong>de</strong>re <strong>de</strong>n empirisch, rechnerisch<br />

ermittelten MTTF-Wert.<br />

In einem zweiten Schritt wird ein Verfahren zur Bestimmung<br />

<strong>de</strong>r mittleren Lebensdauer (MTTF) von Steckverbin<strong>de</strong>rn<br />

auf <strong>de</strong>r Grundlage physikalischer Ausfallmechanismen<br />

vorgestellt.<br />

Einfluss von Qualität und Entwicklung<br />

auf die Zuverlässigkeit<br />

Die nach <strong>de</strong>m schwedischen Ingenieur und Mathematiker<br />

Waloddi Weibull benannte Verteilung zur Materialermüdung<br />

und <strong>de</strong>m Ausfall von elektronischen Bauteilen<br />

glie<strong>de</strong>rt sich in die Bereiche I <strong>de</strong>r Frühausfälle, II <strong>de</strong>r<br />

natürlichen Lebensdauer und III <strong>de</strong>r Verschleißausfälle.<br />

Ein hoher Grad von Frühausfällen weist immer auf einen<br />

schwierigen o<strong>de</strong>r nicht ausgereiften Fertigungsprozess<br />

hin.<br />

Abb. 1: Das En<strong>de</strong> <strong>de</strong>r natürlichen Lebens-, bzw. Nutzungsdauer wird in <strong>de</strong>r<br />

Entwicklung und Konstruktion <strong>de</strong>s Produktes festgelegt.<br />

Quelle <strong>de</strong>r Ausfallrate „Ba<strong>de</strong>wannenkurve“: Taschenbuch <strong>de</strong>r Zuverlässigkeit<br />

und Sicherheitstechnik, Hanser Verlag.<br />

Die Ausfallrate λ =<br />

1<br />

MTTF im Zeitbereich <strong>de</strong>r natürlichen<br />

Lebens- bzw. Nutzungsdauer wird außer bei konstruktiven<br />

Mängeln maßgeblich durch die Güte und Fähigkeit<br />

<strong>de</strong>s Fertigungsprozesses bestimmt. Bei gegenwärtigen,<br />

hochautomatisierten Herstellungsprozessen tendiert die<br />

Ausfallrate h(t) = λ bei Prozessfähigkeiten für und Produkten<br />

ohne gravieren<strong>de</strong> konstruktive Schwachpunkte<br />

gegen Null h(t) = λ ➝ 0.<br />

Verschleißausfälle been<strong>de</strong>n <strong>de</strong>n natürlichen Bereich<br />

<strong>de</strong>r Lebensdauer. Der Beginn dieses Zeitbereichs wird<br />

in <strong>de</strong>r Entwicklung und während <strong>de</strong>r Konstruktion <strong>de</strong>s<br />

Produktes festgelegt.<br />

Relaxation <strong>de</strong>s Kontaktdrucks<br />

als physikalischer Grenzwert<br />

Eine sichere Kontaktgabe eines Steckverbin<strong>de</strong>rkontaktes<br />

wird gewährleistet, wenn <strong>de</strong>r Druck σ = F N<br />

A im<br />

Kontaktpunkt <strong>de</strong>n konstruktiven Min<strong>de</strong>stwert nicht unterschreitet,<br />

so dass Fremdschichten unter Trockenreibbedingungen<br />

sicher durchbrochen wer<strong>de</strong>n.<br />

70<br />

HARTING tec.News 14 (2006)

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