Volltext (PDF) - Qucosa

Material und Methoden
Wurden Titrationskurven pH-abhängig aufgenommen, erfolgte die pH-Wert-Einstellung
sowohl für die Elektrophorese- als auch für die Strömungspotenzialmessungen entsprechend
mit HCl- bzw. KOH-Lösung (Konzentration jeweils 10 -1 mol/l).
3.2.4 Bestimmung der Schichtdicke mittels Ellipsometrie
Die Dicke dünner SiO 2 - bzw. Polymerschichten wurde mittels Ellipsometrie bestimmt. Zum
Einsatz kam das Single-Wavelength-Ellipsometer SE402 (Sentech Instruments GmbH, Berlin,
D), wobei die Messungen bei einem Einfallswinkel von 70° und einer Wellenlänge von
632,8 nm stattfanden. Das Gerät wird über die Software SE 400 Advanced (Sentech
Instruments GmbH, Berlin, D) bedient. Die Software übernimmt auch die Auswertung der
gemessenen Daten, wobei zuvor die entsprechenden Parameter in ein Schichtmodell
einzupflegen sind. Diese Parameter sind die Brechzahl und die Adsorptionskonstante jeder
einzelnen Schicht auf der Probe sowie die Schichtdicke der tiefer liegenden Schichten und die
ungefähr erwartete Schichtdicke der obersten, aktuell zu vermessenden Schicht. Brechzahl
und Adsorptionskonstante wurden der Literatur entnommen und sind in Tabelle 3.2
zusammengefasst.
Tabelle 3.2: Brechzahl und Adsorptionskonstante der für diese Arbeit relevanten
Materialien.
Material Brechzahl [-] Adsorptionskonstante [-] Quelle
Luft 1,000 -
PGMA 1,525 - Burkert (2009)
P2VP 1,595 - Burkert (2009)
SiO 2 1,457 - Philipp (1998a)
Si 3,882 0,019 Edwards (1998)
Vor der Messung war die Probe über Stellschrauben am Probentisch planparallel auszurichten
und die richtige Probenhöhe zu justieren. Von mindestens drei artgleichen Proben wurde je
ein Messpunkt aufgenommen.
3.2.5 Mikroskopische Methoden
Um Objekte, die im Rahmen dieser Arbeit relevant waren, sichtbar zu machen, kamen
folgende Mikroskopiertechniken zum Einsatz:
• Rasterelektronenmikroskopie (REM)
• Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
• Rasterkraftmikroskopie (AFM).
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