Quality Engineering Control Express 2023 Tag 3
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Seite 31<br />
Aussteller-Forum 11.5.<strong>2023</strong><br />
Halle 7, Stand 7113<br />
09.40 Uhr<br />
10.20 Uhr<br />
11.00 Uhr<br />
11.40 Uhr<br />
12.20 Uhr<br />
13.00 Uhr<br />
13.40 Uhr<br />
14.20 Uhr<br />
15.00 Uhr<br />
Digitaler Schatten durch <strong>Tag</strong>less Traceability – einfacher und günstiger denn je<br />
Dr.-Ing. Benedikt Wigger, Detagto GmbH<br />
EV Batteries: Highest Safety and Improved Yield with X-Ray and Computed Tomography (CT)<br />
Michael Ulbricht, Waygate Technologies<br />
„Zukunftsfähige Produktion durch KI – Möglichkeiten und Grenzen in der Qualitätssicherung“<br />
Dr.-Ing. Andreas Frommknecht u.a., Fraunhofer IPA<br />
Applikationsbasierte Phased Array-Prüfung<br />
Thomas Fausten, Waygate Technologies<br />
Prozesssicherheit auch bei manuellen Arbeitsschritten gewährleisten – mit skillflow<br />
Daniel Strohmayr, Tacterion GmbH<br />
Aukom Surf, der neue globale Ausbildungsstandard im Bereich Oberflächenmesstechnik<br />
Dr. Christoph Blum, Aukom e.V.<br />
Roboticsanwendungen und Digitalisierung der Inspektionsdaten in der ZFP<br />
Andreas Bauer, Waygate Technologies<br />
SAP QM im Wandel: S/4HANA und Prüfmittelverwaltung mit Fiori<br />
Gerhard Kicherer, KTT Kicherer Trainings & Tools UG<br />
Claus Bruckner, SAP Deutschland SE & Co. KG<br />
Bemusterung – das SAP-Q-Gate zur Freigabe der Serienproduktion<br />
entlang der Lieferkette<br />
Tobias Bender, XFT GmbH<br />
Claus Bruckner, SAP Deutschland SE & Co. KG<br />
Schichtdickenmessung<br />
Messpräzision<br />
weiter optimiert<br />
Die Helmut Fischer GmbH hat<br />
seine Fischerscope X-Ray XDV<br />
weiter optimiert und stellt diese<br />
auf der <strong>Control</strong> vor. Die Geräte<br />
haben nicht nur ein neues Design,<br />
sondern überzeugen auch<br />
durch einen Leistungsschub,<br />
heißt es von Herstellerseite. Ausgestattet<br />
mit dem neuen digitalen<br />
Pulsprozessor DPP+ sollen Anwender<br />
von einer Optimierung<br />
der Messpräzision oder der Minimierung<br />
der Messzeit profitieren.<br />
Der Prozessor der neuesten Generation<br />
sorgt für Zählraten auf<br />
einem neuen Leistungsniveau<br />
und verbessert so die Gesamtperformance<br />
der XRF-Geräte um bis<br />
zu 50 %.<br />
Die von Fischer inhouse produzierten<br />
Polykapillaroptiken erlauben<br />
bei der Messung von kleinsten<br />
Bauteilen und Mikrostrukturen<br />
winzige Messflecke bei kurzen<br />
Messzeiten mit hoher Intensität.<br />
Für Anwender aus verschiedensten<br />
Industrien bedeuten Polykapillare<br />
signifikante Vorteile in<br />
Bezug auf die Messpräzision und<br />
Messzeit. Neben der technischen<br />
Weiterentwicklung der XRF-Spektrometer<br />
überzeugt die XDV-Serie<br />
durch eine einfache Bedienung<br />
mittels Joystick und intuitiver Bedienknöpfe<br />
direkt am Gerät.<br />
15.40 Uhr<br />
Verbot von PFAS in aller Welt – Herausforderungen für die Industrie?<br />
Steffen Tümptner, TÜV Rheinland AG<br />
Helmut Fischer , Halle 7, Stand 7501<br />
Metallbestimmung<br />
Wissen was drin steckt<br />
Mit dem mobilen Funkenspektrometer<br />
ferro.lyte bietet Elementar<br />
Analysensysteme ein Gerät für<br />
die die einfache Metallanalyse<br />
an. Durch das All-in-One-Konzept<br />
ist immer alles an seinem<br />
Platz. Bedienen lässt sich das Gerät<br />
direkt über das Display an der<br />
Prüfsonde. Dabei ermöglichen<br />
die Workflows der LyticOS Software<br />
verlässliche Messergebnisse<br />
in Laborqualität – ohne Einarbeitungszeit.<br />
Durch den am Gerät<br />
integrierten Argon-Flaschenhalter<br />
und eine Halterung für die<br />
Handsonde lässt sich das Gerät<br />
einfach transportieren und sicher<br />
betreiben. Zudem können Sie<br />
Dank des geringen Gewichts und<br />
kompakten Designs eine flexible<br />
Metallanalyse und Identifikation<br />
(PMI) an nahezu jedem Messort<br />
vornehmen. Die Ergebnisse sind<br />
auf dem Gerät jederzeit verfügbar<br />
und lassen sich komfortabel<br />
per Cloud sichern.<br />
Elementar Analysensysteme,<br />
Halle 9, Stand 9406<br />
Bild: Elementar Analysensysteme