14. Elektronenmikroskopische Fraktographie - Möser, Martin
14. Elektronenmikroskopische Fraktographie - Möser, Martin
14. Elektronenmikroskopische Fraktographie - Möser, Martin
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[26] WATKINS, M.; BLUEM, M.; F.; GREER, J. B.: Corrosion 32 (1976) 102<br />
[27] HIRTH, F. W.; SPECKHARDT, H., Draht 29 (1978) 276<br />
[28] RUGE, J., Untersuchungen zum wasserstoffinduzierten Bruch. In: Bruchuntersuchung und<br />
Schadenklärung. – München Berlin: Allianz Versicherungs-A. G. 1976, S. 206.<br />
[29] ENGEL, L.; KLINGELE, H., Archiv Eisenhüttenwesen 48 (1977) 550<br />
[30] KIKUTA, Y.; ARAKI, T.; KURODA, T., ASTM STP 645 (1978) 107.<br />
[31] SCHMIDTMANN, E.; WELLNITZ, G.: Arch. Eisenhüttenwes. 47 (1976) 101<br />
[32] MÖSER, M., SCHMIDT, V., Proc. 7. Congress on Materials Testing Budapest 1978, Vol. 2, p. 851<br />
[33] STEFFENS, H. D. et al. unveröff. (zitiert in: Bruchuntersuchung und Schadenklärung. – München<br />
Berlin: Allianz Versicherungs-A. G. 1976, S. 199)<br />
[34] WEISS, B.; HUGHES, C. W.; STICKLER, R., Praktische Metallographie 7 (1971) 582<br />
Als Standardwerk der Schadensforschung, in dem auch die elektronenmikroskopische <strong>Fraktographie</strong><br />
berücksichtigt wurde, ist anzusehen: Failure Analysis and Prevention (Metals Handbook, Vol. 10,<br />
8th Edition). – Ohio: ASM 1975<br />
Anmerkungen: Die Bilder wurden größtenteils neu eingescannt, die Rechtschreibung wurde<br />
aktualisiert. Der Seitenumbruch entspricht ungefähr dem Original, der Zeilenumbruch ist frei.<br />
Die Spannungsrisskorrosion wurde hier als mikroskopisches Ätzen dargestellt. Der Verfasser<br />
kam später zu der Einsicht, dass es sich um wasserstoffinduzierten Bruch handelt.<br />
Beim Reinigungsmittel wurde von inhibierter Salzsäure auf verdünnte Zitronensäure (15%)<br />
gewechselt.<br />
Eine überarbeitete Fassung dieses Kapitels ist in englischer Sprache erschienen:<br />
Fractography with the SEM (failure analysis). In: Electron Microscopy in Solid State Physics.<br />
Eds. H. Bethge and J. Heydenreich. Elsevier: Amsterdam–New York–Tokyo 1987; pp 366-385