Optimierung einer Softwarebibliothek für sicherheitsrelevante

2 Grundlagen 32
March X Algorithmus: Dieser Test ist ein Vertreter der March-Tests, von denen mehrere
existieren. Mit Hilfe dieses Testes werden alle Haftfehler, alle Übergangsfehler, alle
Adressdecodierfehler und eine bestimmte Art von Koppelfehlern (Idempotent Coupling
Fault) entdeckt. Die Komplexität aller March-Tests ist O(n), deswegen sind diese Tests
sehr verbreitet bei SRAM-Tests [RED98]. Der March X Test wurde von [HAM99] entwickelt
und sieht in Pseudo-Code folgendermaßen aus:
Funktionsweise dieses Testes:
1.) Gesamten Speicher mit „0“ beschreiben;
for i in 0 to n-1 do
A[i] := 0;
end
for i in 0 to n-1 do
read A[i];
compare (A[i],0);
Branch FAULT if not equal;
A[i] := 1;
end
for i in n-1 to 0 do
read A[i];
comp (A[i],1);
Branch FAULT if not equal;
A[i] := 0;
end
for i in 0 to n-1 do
read A[i];
comp (A[i],0);
Branch FAULT if not equal;
end
2.) jede Speicherzelle lesen und mit „0“ vergleichen, wenn ungleich -> Fehler, ansonsten
Speicherzelle invertieren;
3.) jede Speicherzelle lesen und mit „1“ vergleichen, wenn ungleich -> Fehler, ansonsten
Speicherzelle invertieren;
4.) Schritt 2 wiederholen.
Transparenter Speichertest: Dieser Test wurde vom BGIA entwickelt. Mit Hilfe dieses
Testes werden alle Fehler aus der Tabelle 6 in einem RAM entdeckt. Das hat aber
seinen Preis, der Test benötigt sehr viel Ausführungszeit. Der transparente Speichertest
benutzt eine CRC-Prüfung(Cyclic-Redundancy-Check). Die Grundidee zur CRC Bildung
ist eine Polynomdivision durch ein spezielles Generatorpolynom, der Rest dieser Division
ist die Signatur.