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Optimierung einer Softwarebibliothek für sicherheitsrelevante

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4 Konzept und Implementierung 49<br />

2. Dann wird analysiert ob sich das Wort noch im laufenden Sektor befindet. Falls<br />

nicht (das Testwort hat den laufenden Sektor verlassen), wird die Nummer des<br />

laufenden Sektors inkrementiert, sowie die Variable (im Programm „SMWgetestet“),<br />

die ob der Sektor mit dem Testwort geprüft worden ist oder nicht zeigt,<br />

auf „false“ gesetzt.<br />

3. Im nächsten Schritt unter sucht der Algerithmus ob schon alle Sektoren ohne das<br />

Testwort überprüft sind. Falls ja: wird der Index auf eins zurückgesetzt, „SMWgetestet“<br />

auf „false“ gesetzt und das nächste Testwort genommen. Falls nicht: siehe<br />

Punkt 4.<br />

4. Es wird unterschieden zwischen zwei Arten von Sektoren: in dem sich das Testwort<br />

befindet und wo nicht. Im ersten Fall wird der RAM-Test aufgefordert den<br />

Sektor mit Testwort (dritter Übergabeparameter gleich 1, sowie die laufende Sektornummer)<br />

zu testen, im zweiten ohne (dritter Übergabeparameter gleich 0, sowie<br />

die laufende Sektornummer+index 16 ).<br />

4.1.6 Ein-/Ausgabe Test<br />

Konzept<br />

Abbildung 31: RAM-Test (Flussdiagramm)<br />

Um mit s<strong>einer</strong> Umgebung zu kommunizieren verfügt das gegebene Board über zwei Ein-<br />

/Ausgabe Ports P0 und P1 (GPIO-Ports), zwei ADC, einen DAC und zwei PWMs. Das

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