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Lichtstreuende Oberflächen, Schichten und Schichtsysteme zur ...

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2 Gr<strong>und</strong>lagen<br />

Tsuji [114] Fang [118] Takata [112] Haug [117, 120]<br />

TDM [wt%] 3 2 0,5 bzw. 2 2<br />

TS [ ◦ C] RT RT RT RT...400<br />

ptemper [Pa] 1,3 · 10 −3 1,3 · 10 −3 1,3 · 10 −4 < 1 · 10 −7<br />

d [nm] 500 400 200 ...700 keine Angabe<br />

µvorher [ cm2 /Vs] 3 ...6 8 7 bzw. 14 9 ...23<br />

Temper-Dauer [h] 4 2 1 keine Angabe<br />

Ttemper [ ◦ C] 400 500 400 550<br />

Tabelle 2.2: Parameter von ZnO:Al Temperatur-Nachbehandlungsexperimenten im<br />

Vakuum. Targetdotiermenge (TDM), Substrat-Temperatur während der Deposition<br />

(TS), Restgasdruck während des Temperns (ptemper), Filmdicke (d), Beweglichkeit vor<br />

dem Tempern (µvorher), Temper-Dauer (in St<strong>und</strong>en) sowie die Substrat-Temperatur<br />

während der Nachbehandlung (Ttemper) sind angegeben.<br />

Substratheizung (Raumtemperatur, RT in der Tabelle). Ferner weisen die von<br />

den Autoren untersuchten ZnO:Al-Filme verhältnismäßig geringe Beweglichkeiten<br />

im Vergleich zu den hier betrachteten Filmen auf.<br />

Insgesamt zeichnen die Veröffentlichungen in der Literatur ein uneinheitliches<br />

Bild vom Vakuum-Temperverhalten von rf-magnetron-gesputterten ZnO:Al-<br />

Filmen auf Glas. Dieses legt nahe, dass Details der Depositionsbedingungen<br />

<strong>und</strong>/oder der Nachbehandlung einen wesentlichen Einfluss besitzen.<br />

2.6 Theoretische Limits <strong>und</strong> Simulationen<br />

In der Literatur finden sich viele verschiedene Ansätze, um ein oberes Limit<br />

für das Lighttrapping aus theoretischen Überlegungen abzuleiten. Dabei werden<br />

unterschiedliche, idealisierende Annahmen getroffen. Die Berechnungen basieren<br />

zumeist auf semi-empirischen Ansätzen (vergl. z.B. [121–128]) oder auf First-<br />

Principles 5 -Simulationen.<br />

Im Fall der First-Principles-Simulationen wird das Bauelement in ein möglichst<br />

feines Raster zerlegt, <strong>und</strong> anschließend werden die Maxwellgleichungen<br />

für dieses Raster numerisch mit der Finite-Elemente- [129] bzw. Finite-Integral-<br />

Methode (näherungsfrei) [130] gelöst. Dieser Ansatz ist wegen der großen Anzahl<br />

der zu simulierenden Rasterzellen (einer jeweiligen Größe von ca. 10 × 10 ×<br />

10 nm 3 ) sehr rechenintensiv. Es wird lediglich ein Solarzellenvolumen in der<br />

Größenordnung von 1 µm 3 ohne das Glassubstrat betrachtet, so dass diffraktive<br />

Elemente als periodisch angenommen werden müssen. Als Materialkonstanten<br />

gehen die in Messungen bestimmten, komplexen Brechungsindizes ñ ein. Für<br />

den Rückreflektor wird meist das Verhalten eines idealen Metalls angenommen<br />

[130], da die optischen Eigenschaften nicht hinreichend bekannt sind. Mit<br />

den First-Principles-Simulationen lassen sich experimentell beobachtete Trends<br />

reproduzieren, absolute Stromdichten können derzeit jedoch noch nicht exakt<br />

vorhergesagt werden.<br />

5 first-principles, engl. Gr<strong>und</strong>prinzipien<br />

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