rapport d'activités 2003-2008 - RQMP
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Diffraction électronique femtoseconde :<br />
filmer molécules et matériaux à l’échelle atomique<br />
Chercheur : Bradley J. Siwick<br />
Collaborateurs : Jom Luiten et Marnix van der Wiel (Eindhoven, Pays-Bas)<br />
Étudiants : Chris Godbout, Robert Chatelain, Vance Morrison et Thana Ghunaim<br />
Contact : Bradley J. Siwick; bradley.siwick@mcgill.ca; www.physics.mcgill.ca/~siwick/<br />
Un des grands défis expérimentaux de la physique et de la chimie est d’obtenir une représentation en<br />
temps réel des réactions chimiques et transitions de phases, par la résolution des mouvements des<br />
atomes pendant la rupture et la création de liens chimiques ou encore, l’évolution de la configuration<br />
atomique d’un matériau au cours des transitions de phases. La diffraction électronique femtoseconde<br />
est une nouvelle technique expérimentale qui tente de répondre à ces questions en produisant des<br />
« films moléculaires » de ces procédés microscopiques.<br />
74 | <strong>RQMP</strong> | projets | Fabrication et caractérisation de nouveaux matériaux<br />
On affirme couramment que la quasi-totalité de la chimie et<br />
de la physique de la matière condensée peuvent être décrites<br />
en termes de « déplacement et réarrangement » des atomes.<br />
L’observation directe de ces mouvements requiert que nous<br />
soyons en mesure d’acquérir de l’information structurelle au<br />
cours de l’intervalle d’une seule période de vibration atomique<br />
(~10 -13 s). Jusqu’à récemment, aucune technique expérimentale<br />
n’a pu fournir à la fois les résolutions spatiale et temporelle<br />
nécessaires à observer ces processus microscopiques.<br />
La diffraction d’électrons femtoseconde, en combinant les<br />
outils et techniques de la spectroscopie laser ultrarapide<br />
avec ceux de la microscopie électronique, constitue une toute<br />
nouvelle approche pour obtenir ces détails. Tout d’abord, une<br />
impulsion laser ultracourte porte le système — molécule ou<br />
matériau — dans un état excité, hors équilibre. À un intervalle<br />
de temps contrôlé à la suite à cette excitation, une impulsion<br />
électronique ultracourte est dispersée sur l’échantillon<br />
et le patron de diffraction électronique est enregistré. Celui-ci<br />
referme une grande quantité d’informations sur la configuration<br />
atomique de l’échantillon à un instant précis. L’enregistrement<br />
d’une série de schémas de diffraction à des intervalles précis<br />
après l’excitation — à la façon d’un stroboscope — produira<br />
un « film » de mouvements atomiques.<br />
L’efficacité de cette approche a été vérifiée par l’étude de<br />
la fusion, induite par laser, de l’aluminium polycristallin. Les<br />
résultats, présentés à la figure ci-dessous, nous ont permis<br />
de déterminer que l’aluminium fondait à partir de l’intérieur,<br />
par un processus appelé « nucléation homogène », contrairement<br />
au processus de fusion nucléée à la surface, qui est<br />
plus courant. Le matériau est également surchauffé à 1,5 fois<br />
la température de fusion normale avant que la transition de<br />
phase ne se produise.<br />
En collaboration avec un groupe de recherche d’Eindhoven<br />
(Pays-Bas), nous étudions les approches utilisées par ces<br />
« physiciens des particules » afin d’améliorer notre source<br />
d’électrons. Nous envisageons une amélioration de 3 à 4 fois la<br />
résolution actuelle, ce qui nous permettra d’aborder l’étude de<br />
systèmes de complexité supérieure.<br />
(a)<br />
(c)<br />
(b)<br />
Résolution atomique de la fusion – (a) Patron de diffraction montrant la progression<br />
de la transition polycristal-liquide dans l’Al. Les réarrangements structuraux<br />
durent 3,5 ps (1 ps = 10 -12 s); (b) Structure cubique à face centrée de l’Al. La<br />
couleur des atomes réfère à une distance donnée par <strong>rapport</strong> à l’atome central,<br />
noir; (c) Spectre résolu dans le temps des espacements interatomiques, G(r,t), au<br />
cours de la transition de phases.<br />
Références<br />
• “An Atomic-Level View of Melting Using Femtosecond Electron Diffraction”,<br />
B.J. Siwick, J.R. Dwyer, R.E. Jordan et R.J.D. Miller,<br />
Science 302, 1382 (<strong>2003</strong>).<br />
• “A sub-100 fs electron source for single-shot ultrafast electron diffraction<br />
in the 100 keV range”, T. van Oudheusden et coll,<br />
J. Appl. Phys. 102, 093501 (2007).