teknik pemeliharaan dan perbaikan sistem elektronika jilid 2 smk
teknik pemeliharaan dan perbaikan sistem elektronika jilid 2 smk
teknik pemeliharaan dan perbaikan sistem elektronika jilid 2 smk
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Pelacakan Kerusakan Sistem Digital<br />
● Pengukuran Kabel Hingga<br />
Mikrovolt<br />
Jika Anda memiliki sebuah meter<br />
dengan kepekaan mikrovolt <strong>dan</strong><br />
telah mengisolasi sebuah masalah<br />
"stuck low” kedua chip, dapat dicoba<br />
<strong>teknik</strong> yang diperlihatkan dalam<br />
gambar 5.34.<br />
Robert C. Brenner, 1986, 157<br />
Gambar 5.34: Mikrovolt meter Untuk<br />
Mengetahui Rangkaian Yang Hubung<br />
Singkat Ke Ground<br />
Ukurlah turunnya tegangan antara<br />
masukan gerbang B pin 1 <strong>dan</strong> keluaran<br />
gerbang A pin 3. Hal ini berarti<br />
mengukur ujung-ujung yang<br />
berlawanan dari lintasan yang sama<br />
atau potongan kabel: Anda tertarik<br />
untuk menentukan ujung mana<br />
dari lintasan itu yang lebih negatif.<br />
Ujung yang terdekat dengan<br />
sebuah chip yang rusak akan lebih<br />
negatif, sebab chip yang rusak akan<br />
mengalami hu-bung-singkat<br />
tegangan lintasan ke ground yang<br />
menyebabkan titik ini menjadi lebih<br />
negatif daripada pin 3.<br />
Beberapa hal penting yang menyebabkan<br />
suatu rangkaian digital mengalami<br />
kerusakan adalah sebagai<br />
berikut:<br />
a. Kelebihan tegangan catu daya.<br />
b. Kelebihan temperatur.<br />
c. Tegangan input yang berlebih.<br />
d. Tegangan pada data bus yang<br />
berlebih.<br />
e. Pulsa clock yang berlebih<br />
tegangannya.<br />
Proses sebenarnya dari diagnosa<br />
kesalahan suatu rangkaian digital<br />
adalah dengan cara mengopera<br />
sikan gerbang-gerbang (gates) IC<br />
secara berurutan, untuk memban<br />
dingkan hasil keluarannya dengan<br />
yang sebenarnya.<br />
Ada dua cara pemeriksaannya:<br />
1. Secara dinamis: dengan cara<br />
menerapkan sinyal-sinyal<br />
uji <strong>dan</strong> memeriksa hasilnya<br />
dengan menggunakan sebuah<br />
osiloskop yang bandwidth<br />
(BW) nya lebar. Bandwidth<br />
CRO yang paling rendah 10<br />
MHz, <strong>dan</strong> triggeringnya haruslah<br />
baik. Jika tidak, beberapa<br />
infor masi pulsa akan<br />
tidak menge nai sasarannya.<br />
Pengujian dengan cara ini akan<br />
memper sempit ruang<br />
lingkup penca rian suatu kesalahan<br />
pada <strong>sistem</strong> secara<br />
keseluruhan.<br />
2. Secara Statik: yaitu sebuah<br />
gerbang atau fungsi IC pada<br />
suatu waktu. Hal ini mungkin<br />
dapat mematikan ataupun<br />
memperlambat <strong>sistem</strong> clock<br />
generator. Pada tahap ini dapat<br />
digunakan alat uji bantu<br />
seperti yang telah diterang<br />
kan di atas yaitu IC test clip,<br />
logik probe <strong>dan</strong> "pulser logik".<br />
Dan yang terpenting lagi jika dilakukan<br />
pengukuran pada IC TTL<br />
dengan menggunakan multimeter,<br />
maka untuk logik 0 seharusnya<br />
dibawah 0,8 Volt <strong>dan</strong> logik 1<br />
seharusnya di atas 2 Volt. Jadi<br />
kalau ada tegangan keluaran IC<br />
TTL di antara 0,8Volt<br />
168
Change language