Biocristallografia a raggi X
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Diffrazione di <strong>raggi</strong> X<br />
Intensità di diffrazione e fattori di struttura<br />
Ihkl = k λ3 |Fhkl | 2 I0 Vcryst /V2 cell → I ∝ |Fhkl |2<br />
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Il ‘fattore di struttura’ F hkl è un vettore che<br />
rappresenta in modulo (F hkl ) e fase (α hkl )<br />
l’onda diffratta (<strong>raggi</strong> X) in una certa<br />
direzione da tutti gli atomi, che produce un<br />
annerimento sul detector.<br />
<br />
Metodologie Chimico Fisiche per lo Studio dei Sistemi Biologici<br />
Camogli, 16-21 settembre 2007
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