Catálogo 2008 - Pós-Graduação - ITA
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EA-283/<strong>2008</strong> – Introdução aos Sistemas VLSI<br />
Requisito recomendado: EA-252. Requisito exigido: não há. Horas semanais:<br />
3-1-4. Transitor MOS. Famílias digitais. Análise de inversores. Portas lógicas.<br />
Princípios de fabricação. Regras de projeto. Circuitos dinâmicos e estáticos.<br />
Registradores. Memórias. Arquiteturas VLSI. Linguagem VHDL. Bibliografia:<br />
KANG, S. M.; LEBLEBICI, Y., CMOS Digital Integrated Circuits, McGraw-Hill,<br />
2003; WESTE, N; HARRIS, D., CMOS VLSI Design. A circuits and systems<br />
perspective, Addison Wesley, 2004; HODGES, D. A.; JACKSON H.G; SALEH,<br />
R. A., Analysis and design of digital integrated circuits, McGraw-Hill, 2003.<br />
EA-307/<strong>2008</strong> – Estudo dos Efeitos da Radiação em Circuitos Integrados e<br />
Desenvolvimento de Técnicas de Tolerância a Falhas de Efeito Transiente<br />
Requisito recomendado: não há. Requisito exigido: não há. Horas semanais:<br />
1-1-0. Ambiente espacial e radiação, efeito de radiação em circuitos<br />
integrados. Classificação das falhas. Modelos de falhas transientes. Injeção de<br />
falha transiente por simulação. Métodos de teste e qualificação de circuitos<br />
integrados, medidas (LET, cross-section). Efeito de falhas transientes em<br />
circuitos analógicos, efeito de single event transient. Testes com amplificadores<br />
e conversores. Falhas transientes em circuitos digitais. Aumento da freqüência<br />
na sensibilidade a SET e SEU. Injeção de falha, técnicas de tolerância a falhas.<br />
Redundância espacial e temporal, técnicas mistas, códigos de correção de erro<br />
(Hamming code e Reed Solomon). Técnicas baseadas em recomputação,<br />
efeito de radiação em circuitos programáveis (FPGAs) programados por<br />
tecnologia SRAM. Bibliografia: Ma, T. P.; Dressendorfer, P. V.; Ionizing<br />
Radiation Effects in MOS Devices and Circuits, Wiley-Interscience, 1989;<br />
Holmes-Siedle, A.; Adams, L.; Handbook of Radiation Effects, Oxford University<br />
Press, 2002; e 3 Kastensmidt, F. L.; Carro, L.; Reis, R.; Fault-Tolerance<br />
Techniques for SRAM-Based FPGAs. Series: Frontiers in Electronic Testing ,<br />
Vol. 32. 2006, XV, 183 p. ISBN: 978-0-387-31068-8<br />
EC-107/<strong>2008</strong> - Eletromagnetismo I<br />
Requisito recomendado: não há. Requisito exigido: consentimento do<br />
professor. Horas semanais: 3-0-6. Eletrodinâmica. Representação complexa<br />
das grandezas eletromagnéticas. Equações de Maxwell. Condições de<br />
contorno. Teorema de Poynting. Ondas eletromagnéticas planas: propagação<br />
em meios dielétricos. Polarização. Reflexão e refração de ondas<br />
eletromagnéticas planas. Propagação em meios bons condutores. Efeito<br />
pelicular. Ondas TEM guiadas. Linhas de transmissão de radiofreqüência:<br />
regime e transitório. Linhas de fita. Transformador de um quarto de onda e<br />
casamento com toco simples. Bibliografia: KRAUSS, J. D., CARVER, K.R.,<br />
Eletromagnetismo. Rio de Janeiro: Guanabara Dois, 1978. DINIZ, A.B.,<br />
FREIRE, G.F.O., Ondas eletromagnéticas. Rio de Janeiro: Livros Técnicos e<br />
Científicos, 1973. RAMO, S. et al, Fields and waves in communication<br />
electronics. 3. ed. New York: John Wiley & Sons, 1994.<br />
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