RX-Mikrocontroller - elektronik industrie
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EMV<br />
Product Compliance Center von Fujitsu baut<br />
EMV-Prüfleistungen aus<br />
Störungsfreier Betrieb durch erweiterte Einstrahlungsprüfung<br />
Bild: Fujitsu<br />
Das unabhängige, akkreditierte Product<br />
Compliance Center von Fujitsu Technology<br />
Solutions baut sein Leistungsspektrum<br />
im Bereich EMV-Prüfungen aus. Im Rahmen<br />
der erweiterten Einstrahlungsprüfung<br />
Der semi-anechoic Chamber, in dem ein Teil der EMV-Prüfungen stattfindet.<br />
kann die Störfestigkeit von Elektronikprodukten<br />
gegenüber Einstrahlungen mit einer<br />
elektrischen Feldstärke von 20 V/m im<br />
Frequenzbereich bis maximal 6 GHz gemessen<br />
werden.<br />
Hintergrund ist, dass die normativen<br />
Vorgaben ausgeweitet wurden, um zu verhindern,<br />
dass Geräte und Anlagen durch<br />
die kontinuierlich zunehmende hochfrequente<br />
Einstrahlung in ihrer Funktion beeinträchtigt<br />
werden können. Dementsprechend<br />
müssen Geräte nun auch erhöhte<br />
Anforderungen erfüllen, um das europäische<br />
CE-Zeichen und das KC-Mark (Korea)<br />
zu erhalten.<br />
Bisher war es im Product Compliance<br />
Center möglich, die Stabilität gegenüber<br />
Einstrahlungen einer Feldstärke von etwa<br />
10 V/m und eines Frequenzbereiches von<br />
bis zu 3 GHz zu prüfen. Für die Erweiterung<br />
der Einstrahlungsprüfung wurden an<br />
den Standorten Augsburg und Paderborn<br />
neue Messplätze eingerichtet. In Kooperation<br />
mit Rohde & Schwarz wurden diese<br />
entwickelt und sie sind speziell auf die Anforderungen<br />
der Testlabors und auf die<br />
neuesten normativen Vorgaben zugeschnitten.<br />
Unterbrechungsfreie Messungen<br />
über den gesamten Messbereich ermöglichen<br />
die neuen Messplätze. Dadurch sparen<br />
sie Zeit und somit auch Kosten. Die<br />
neuen Testanlagen erfüllen unter anderem<br />
alle Anforderungen der folgenden aktuellen<br />
EMV-Normen: EN 55024, EN 61000-4-<br />
3, EN 61326, EN 61000-6-1, EN 61000-6-2,<br />
EN 50121 sowie die der kommenden CI-<br />
SPR 35. (ah)<br />
n<br />
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