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Testmustergenerierung mit Hilfe von ... - ihmor.de

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3.1. Grundlagen<br />

die Kun<strong>de</strong>nanfor<strong>de</strong>rungen, eine daraus erstellte Spezifikation in Form eines Dokuments<br />

o<strong>de</strong>r das Funktionsmo<strong>de</strong>ll in Frage. Conrad [Con04] verwen<strong>de</strong>t zusätzlich <strong>de</strong>n Begriff<br />

Testorakel, wenn ein Mo<strong>de</strong>ll als Testbasis verwen<strong>de</strong>t wird und zusätzlich auch zur<br />

Bestimmung <strong>von</strong> Referenzdaten dient.<br />

Testfallerstellung<br />

Testziel<br />

Testbasis<br />

Struktureigenschaft<br />

(z.B. Test aller<br />

Verzweigungen)<br />

Funktionseigenschaft<br />

(z.B. Test <strong>de</strong>s<br />

Auslösers eines Airbags)<br />

Kun<strong>de</strong>nanfor<strong>de</strong>rungen<br />

.......................<br />

.......................<br />

.......................<br />

.......................<br />

.......................<br />

Funktionsmo<strong>de</strong>ll<br />

Abbildung 3-2: Zusammenhang <strong>von</strong> Testziel, Testbasis und Testfallerstellung<br />

Abbildung 3-2 zeigt <strong>de</strong>n Zusammenhang <strong>de</strong>r drei soeben erläuterten Begriffe. Die Wahl<br />

<strong>de</strong>r Testziele hängt im Wesentlichen <strong>von</strong> <strong>de</strong>r Wahl <strong>de</strong>r Testbasis ab, welche in dieser<br />

Arbeit das Funktionsmo<strong>de</strong>ll ist. Dieses bietet eine gute Voraussetzung dafür, als Testziele<br />

strukturelle Eigenschaften <strong>de</strong>s Systems zu verwen<strong>de</strong>n, da es zum einen direkt aus <strong>de</strong>n<br />

Anfor<strong>de</strong>rungen <strong>de</strong>s Benutzers erstellt wur<strong>de</strong> und zum an<strong>de</strong>ren als Grundlage für spätere<br />

Entwicklungsschritte verwen<strong>de</strong>t wird. Die wichtigsten strukturellen Eigenschaften, die als<br />

Testziele in Frage kommen, wer<strong>de</strong>n in Abschnitt 3.3 unter <strong>de</strong>m Gesichtspunkt <strong>de</strong>r<br />

Ab<strong>de</strong>ckungsmessung näher behan<strong>de</strong>lt.<br />

Teststrategie. Die Komplexität heutiger Systeme macht es unmöglich, <strong>mit</strong>tels Tests einen<br />

Beweis <strong>de</strong>r Korrektheit einer Systemkomponente durchzuführen. Die Anzahl möglicher<br />

Kombinationen <strong>de</strong>r Eingabedaten, die das zu prüfen<strong>de</strong> Objekt verarbeitet und auf die es<br />

reagiert, ist in <strong>de</strong>r Regel so hoch und kann daher durch Tests nicht vollständig abge<strong>de</strong>ckt<br />

wer<strong>de</strong>n. Zur Reduzierung <strong>de</strong>s Zeitaufwan<strong>de</strong>s und <strong>de</strong>n da<strong>mit</strong> verbun<strong>de</strong>nen Kosten ist die<br />

Festlegung einer Teststrategie notwendig. Dabei wird <strong>de</strong>r Umfang einzelner Tests unter<br />

<strong>de</strong>m Gesichtspunkt einer Prioritätensetzung festgelegt. Sicherheitskritische Aspekte sollten<br />

an dieser Stelle gegenüber weniger wichtigen Funktionen bevorzugt und umfangreicher<br />

überprüft wer<strong>de</strong>n. Nach <strong>de</strong>r gewählten Teststrategie wer<strong>de</strong>n die Ziele vor <strong>de</strong>r Erstellung<br />

<strong>von</strong> Tests <strong>de</strong>finiert [Bal98].<br />

Eingabedaten (Testdaten). Ein Eingabedatum e i,s steht für einen Wert aus <strong>de</strong>m Wertebereich<br />

<strong>de</strong>s i-ten Signaleingangs, <strong>de</strong>n dieser während <strong>de</strong>r Testdurchführung zum Zeitpunkt<br />

<strong>de</strong>s s-ten Testschritts annimmt. Balzert [Bal98] bezeichnet die Eingabedaten als Testdaten,<br />

da sie zum Test <strong>de</strong>s Systems verwen<strong>de</strong>t wer<strong>de</strong>n.<br />

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