Testmustergenerierung mit Hilfe von ... - ihmor.de
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3.1. Grundlagen<br />
die Kun<strong>de</strong>nanfor<strong>de</strong>rungen, eine daraus erstellte Spezifikation in Form eines Dokuments<br />
o<strong>de</strong>r das Funktionsmo<strong>de</strong>ll in Frage. Conrad [Con04] verwen<strong>de</strong>t zusätzlich <strong>de</strong>n Begriff<br />
Testorakel, wenn ein Mo<strong>de</strong>ll als Testbasis verwen<strong>de</strong>t wird und zusätzlich auch zur<br />
Bestimmung <strong>von</strong> Referenzdaten dient.<br />
Testfallerstellung<br />
Testziel<br />
Testbasis<br />
Struktureigenschaft<br />
(z.B. Test aller<br />
Verzweigungen)<br />
Funktionseigenschaft<br />
(z.B. Test <strong>de</strong>s<br />
Auslösers eines Airbags)<br />
Kun<strong>de</strong>nanfor<strong>de</strong>rungen<br />
.......................<br />
.......................<br />
.......................<br />
.......................<br />
.......................<br />
Funktionsmo<strong>de</strong>ll<br />
Abbildung 3-2: Zusammenhang <strong>von</strong> Testziel, Testbasis und Testfallerstellung<br />
Abbildung 3-2 zeigt <strong>de</strong>n Zusammenhang <strong>de</strong>r drei soeben erläuterten Begriffe. Die Wahl<br />
<strong>de</strong>r Testziele hängt im Wesentlichen <strong>von</strong> <strong>de</strong>r Wahl <strong>de</strong>r Testbasis ab, welche in dieser<br />
Arbeit das Funktionsmo<strong>de</strong>ll ist. Dieses bietet eine gute Voraussetzung dafür, als Testziele<br />
strukturelle Eigenschaften <strong>de</strong>s Systems zu verwen<strong>de</strong>n, da es zum einen direkt aus <strong>de</strong>n<br />
Anfor<strong>de</strong>rungen <strong>de</strong>s Benutzers erstellt wur<strong>de</strong> und zum an<strong>de</strong>ren als Grundlage für spätere<br />
Entwicklungsschritte verwen<strong>de</strong>t wird. Die wichtigsten strukturellen Eigenschaften, die als<br />
Testziele in Frage kommen, wer<strong>de</strong>n in Abschnitt 3.3 unter <strong>de</strong>m Gesichtspunkt <strong>de</strong>r<br />
Ab<strong>de</strong>ckungsmessung näher behan<strong>de</strong>lt.<br />
Teststrategie. Die Komplexität heutiger Systeme macht es unmöglich, <strong>mit</strong>tels Tests einen<br />
Beweis <strong>de</strong>r Korrektheit einer Systemkomponente durchzuführen. Die Anzahl möglicher<br />
Kombinationen <strong>de</strong>r Eingabedaten, die das zu prüfen<strong>de</strong> Objekt verarbeitet und auf die es<br />
reagiert, ist in <strong>de</strong>r Regel so hoch und kann daher durch Tests nicht vollständig abge<strong>de</strong>ckt<br />
wer<strong>de</strong>n. Zur Reduzierung <strong>de</strong>s Zeitaufwan<strong>de</strong>s und <strong>de</strong>n da<strong>mit</strong> verbun<strong>de</strong>nen Kosten ist die<br />
Festlegung einer Teststrategie notwendig. Dabei wird <strong>de</strong>r Umfang einzelner Tests unter<br />
<strong>de</strong>m Gesichtspunkt einer Prioritätensetzung festgelegt. Sicherheitskritische Aspekte sollten<br />
an dieser Stelle gegenüber weniger wichtigen Funktionen bevorzugt und umfangreicher<br />
überprüft wer<strong>de</strong>n. Nach <strong>de</strong>r gewählten Teststrategie wer<strong>de</strong>n die Ziele vor <strong>de</strong>r Erstellung<br />
<strong>von</strong> Tests <strong>de</strong>finiert [Bal98].<br />
Eingabedaten (Testdaten). Ein Eingabedatum e i,s steht für einen Wert aus <strong>de</strong>m Wertebereich<br />
<strong>de</strong>s i-ten Signaleingangs, <strong>de</strong>n dieser während <strong>de</strong>r Testdurchführung zum Zeitpunkt<br />
<strong>de</strong>s s-ten Testschritts annimmt. Balzert [Bal98] bezeichnet die Eingabedaten als Testdaten,<br />
da sie zum Test <strong>de</strong>s Systems verwen<strong>de</strong>t wer<strong>de</strong>n.<br />
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