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Testmustergenerierung mit Hilfe von ... - ihmor.de

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Kurzfassung<br />

Kurzfassung<br />

Im mo<strong>de</strong>llbasierten Entwicklungsprozess eingebetteter Systeme kommen vermehrt Techniken<br />

zur automatischen Erstellung <strong>von</strong> Tests zum Einsatz. Die auf Zufall basieren<strong>de</strong>n<br />

Verfahren haben Nachteile bezüglich <strong>de</strong>r Effizienz während <strong>de</strong>r Generierung <strong>von</strong> Testdaten<br />

und <strong>de</strong>r Qualität <strong>de</strong>r erzeugten Testmuster. Die vorliegen<strong>de</strong> Arbeit liefert eine<br />

Methodik, welche <strong>de</strong>m Testentwickler die Möglichkeit zur Steuerung zufallsbasierter<br />

<strong>Testmustergenerierung</strong> <strong>mit</strong>hilfe <strong>von</strong> Wahrscheinlichkeitsverteilungen bietet. Dadurch ist es<br />

<strong>de</strong>m Anwen<strong>de</strong>r <strong>de</strong>s Verfahrens möglich, gezielt Testdaten für Systembereiche zu generieren,<br />

welche durch das allgemeine auf Zufall basierte Verfahren nicht abge<strong>de</strong>ckt wer<strong>de</strong>n.<br />

Das entwickelte Verfahren wur<strong>de</strong> im Rahmen dieser Arbeit prototypisch umgesetzt,<br />

wodurch eine Evaluierung <strong>de</strong>r Methodik ermöglicht wur<strong>de</strong>. Diese zeigt, dass <strong>de</strong>r Aufwand<br />

<strong>de</strong>r Testerstellung sowie <strong>de</strong>r Testdurchführung durch Anwendung <strong>de</strong>r entwickelten<br />

Methodik stark verringert wer<strong>de</strong>n kann. Zusätzlich wur<strong>de</strong> die Qualität <strong>de</strong>r erzeugbaren<br />

Testmuster <strong>de</strong>rart gesteigert, dass diese nahezu die Qualität manuell erstellter Testmuster<br />

erreichen.<br />

Abstract<br />

Techniques for automatic test pattern generation are increasingly applied in the mo<strong>de</strong>lbased<br />

<strong>de</strong>velopment process of embed<strong>de</strong>d systems. Random-based methods have disadvantages<br />

in respect of efficiency during the generation process of test data and in terms of<br />

quality of generated test patterns. In this diploma thesis, a methodology is presented,<br />

allowing the <strong>de</strong>veloper to control the random-based generation process of test patterns by<br />

dint of probability distributions. Using this methodology, test patterns for those system<br />

areas not covered by the generic random-based method can be obtained automatically. The<br />

<strong>de</strong>veloped method is prototypically implemented in the context of this thesis, per<strong>mit</strong>ting its<br />

evaluation. Evaluation results show that effort for test data creation and test execution can<br />

be significantly reduced by applying the outlined technique. Additionally, it increases the<br />

quality of generated test patterns almost to the level of manually created ones.<br />

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