Testmustergenerierung mit Hilfe von ... - ihmor.de
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3.4. Metho<strong>de</strong>n zur Testfallerstellung<br />
wer<strong>de</strong>n <strong>de</strong>r Generation durch Mutation neue Testdaten zufallsbasiert hinzugefügt. Die<br />
durch diese Schritte entstan<strong>de</strong>ne Generation geht als Population in <strong>de</strong>n nächsten Zyklus<br />
ein. Pro Zyklus entsteht durch dieses Verfahren eine Population <strong>von</strong> Testmustern, welche<br />
die besten Eigenschaften <strong>de</strong>r vorherigen Generation beibehält.<br />
Aufgrund eines Abbruchkriteriums erfolgt am En<strong>de</strong> <strong>de</strong>s Verfahrens die Ausgabe <strong>de</strong>r besten<br />
Testmuster. Hierzu kann beispielsweise die Menge <strong>de</strong>r insgesamt im Verfahren erzeugten<br />
Testmuster als obere Schranke herangezogen wer<strong>de</strong>n. Sollte als Testziel ein Ab<strong>de</strong>ckungskriterium<br />
dienen, kann das Verfahren bereits zwischenzeitlich terminieren, sobald ein<br />
Testmuster erzeugt wur<strong>de</strong>, welches zu hun<strong>de</strong>rtprozentiger Ab<strong>de</strong>ckung führt.<br />
3.4.4 Analytische <strong>Testmustergenerierung</strong><br />
Während die drei zuvor behan<strong>de</strong>lten Verfahren vom grundsätzlichen Vorgehen her ohne<br />
Systemwissen Testdaten erzeugen, wird in diesem Abschnitt ein Verfahrensansatz behan<strong>de</strong>lt,<br />
welcher direkt aus <strong>de</strong>m Aufbau eines Systems durch Analyse und Berechnung<br />
Testdaten bestimmt. Hierbei wer<strong>de</strong>n an<strong>de</strong>re Strukturmerkmale als die in Kapitel 3.3<br />
vorgestellten Ab<strong>de</strong>ckungskriterien als Testziele verwen<strong>de</strong>t.<br />
Als Testbasis dient wie in <strong>de</strong>n zuvor beschriebenen Verfahren ebenfalls eine Systemrepräsentation<br />
in Form eines Mo<strong>de</strong>lls. Für je<strong>de</strong>n Block wird anhand <strong>von</strong> festgelegten Regeln<br />
eine Menge <strong>von</strong> Wertebereichen bestimmt, aus <strong>de</strong>nen <strong>de</strong>r Block <strong>mit</strong> jeweils min<strong>de</strong>stens<br />
einem Wert während <strong>de</strong>r Testdurchführung ausgeführt wer<strong>de</strong>n muss, um diesen abzu<strong>de</strong>cken<br />
[Her05]. Um dieses Vorgehen zu ver<strong>de</strong>utlichen, ist in Abbildung 3-19 ein Beispielsystem<br />
gegeben. Dieses berechnet <strong>mit</strong>hilfe eines Blocks Gain das Dreifache <strong>de</strong>s Eingangssignals<br />
In1 und begrenzt durch einen Saturation-Block <strong>de</strong>n errechneten Wert auf minimal<br />
sieben und maximal hun<strong>de</strong>rt.<br />
Abbildung 3-19: Propagierung <strong>von</strong> Wertebereichen [Her05]<br />
Die analytische <strong>Testmustergenerierung</strong> bestimmt anhand <strong>von</strong> festen Regeln, die pro<br />
Blocktyp vorgegeben sind, für je<strong>de</strong>n Block die Wertebereiche, anhand <strong>de</strong>rer die<br />
Ab<strong>de</strong>ckung gemessen wird. Im Beispiel ergeben sich für <strong>de</strong>n Saturation-Block die Wertebereiche<br />
D S1 = {x | x ≤ 7}, D S2 = {x | 7 < x < 100} und D S3 = {x | x ≥ 100}, welche die<br />
Wertebereiche oberhalb <strong>de</strong>r oberen Schranke und unterhalb <strong>de</strong>r unteren Schranke und <strong>de</strong>n<br />
Wertebereich innerhalb <strong>de</strong>r Schranken <strong>de</strong>s Saturation-Blocks beschreiben. Für <strong>de</strong>n Gain-<br />
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